Step like surface potential on few layered graphene oxide

Applied Physics Letters

Volumn 101, Issue 26, 2012, Pages

  Jaafar, M ^a   Lopez Polin G ^a   Gomez Navarro C ^a   Gomez Herrero J ^a  

^a UNIVERSIDAD AUTÓNOMA DE MADRID   (Spain)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMBIENT HUMIDITY; DIFFERENT SUBSTRATES; GRAPHENE OXIDES; INTRINSIC BEHAVIOR; KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY; NUMBER OF LAYERS; THIN WATER LAYERS;

OXIDE FILMS; SUBSTRATES;

SURFACE POTENTIAL;

EID: 84871731143     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4773357     Document Type: Article

References (34)

1. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, and A. A. Firsov, Science 306, 666 (2004). 10.1126/science.1102896
2. C. Lee, X. D. Wei, J. W. Kysar, and J. Hone, Science 321, 385 (2008). 10.1126/science.1157996
3. A. A. Balandin, S. Ghosh, W. Bao, I. Calizo, D. Teweldebrhan, F. Miao, and C. N. Lau, Nano Lett. 8, 902 (2008). 10.1021/nl0731872
4. C. R. Dean, A. F. Young, I. Meric, C. Lee, L. Wang, S. Sorgenfrei, K. Watanabe, T. Taniguchi, P. Kim, K. L. Shepard, and J. Hone, Nat. Nanotechnol. 5, 722 (2010). 10.1038/nnano.2010.172
5. I. Gierz, C. Riedl, U. Starke, C. R. Ast, and K. Kern, Nano Lett. 8, 4603 (2008). 10.1021/nl802996s
6. J. Rafiee, X. Mi, H. Gullapalli, A. V. Thomas, F. Yavari, Y. Shi, P. M. Ajayan, and N. A. Koratkar, Nature Mater. 11, 217 (2012). 10.1038/nmat3228
7. K. S. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. J. Booth, V. V. Khotkevich, S. V. Morozov, and A. K. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 102, 10451 (2005). 10.1073/pnas.0502848102
8. T. A. Land, T. Michely, R. J. Behm, J. C. Hemminger, and G. Comsa, Surf. Sci. 264, 261 (1992). 10.1016/0039-6028(92)90183-7
9. C. Berger, Z. M. Song, T. B. Li, X. B. Li, A. Y. Ogbazghi, R. Feng, Z. T. Dai, A. N. Marchenkov, E. H. Conrad, P. N. First, and W. A. de Heer, J. Phys. Chem. B 108, 19912 (2004). 10.1021/jp040650f
10. S. Stankovich, D. A. Dikin, G. H. B. Dommett, K. M. Kohlhaas, E. J. Zimney, E. A. Stach, R. D. Piner, S. T. Nguyen, and R. S. Ruoff, Nature 442, 282 (2006); 10.1038/nature04969
11. S. Stankovich, R. D. Piner, X. Q. Chen, N. Q. Wu, S. T. Nguyen, and R. S. Ruoff, J. Mater. Chem. 16, 155 (2006). 10.1039/b512799h
12. K. A. Mkhoyan, A. W. Contryman, J. Silcox, D. A. Stewart, G. Eda, C. Mattevi, S. Miller, and M. Chhowalla, Nano Lett. 9, 1058 (2009). 10.1021/nl8034256
13. C. Gomez-Navarro, R. T. Weitz, A. M. Bittner, M. Scolari, A. Mews, M. Burghard, and K. Kern, Nano Lett. 7, 3499 (2007). 10.1021/nl072090c
14. V. Lopez, R. S. Sundaram, C. Gomez-Navarro, D. Olea, M. Burghard, J. Gomez-Herrero, F. Zamora, and K. Kern, Adv. Mater. 21, 4683 (2009). 10.1002/adma.200901582
15. G. Eda, G. Fanchini, and M. Chhowalla, Nat. Nanotechnol. 3, 270 (2008). 10.1038/nnano.2008.83
16. J. T. Robinson, F. K. Perkins, E. S. Snow, Z. Wei, and P. E. Sheehan, Nano Lett. 8, 3137 (2008). 10.1021/nl8013007
17. M. Zhou, Y. Zhai, and S. Dong, Anal. Chem. 81, 5603 (2009). 10.1021/ac900136z
18. T. Burnett, R. Yakimova, and O. Kazakova, Nano Lett. 11, 2324 (2011). 10.1021/nl200581g
19. S. S. Datta, D. R. Strachan, E. J. Mele, and A. T. C. Johnson, Nano Lett. 9, 7 (2009); 10.1021/nl8009044
20. N. J. Lee, J. W. Yoo, Y. J. Choi, C. J. Kang, D. Y. Jeon, D. C. Kim, S. Seo, and H. J. Chung, Appl. Phys. Lett. 95, 222107 (2009). 10.1063/1.3269597
21. See http://www.nanoinnova.com/ for N.I. Technologies.
22. W. S. Hummers and R. E. Offeman, J. Am. Chem. Soc. 80, 1339 (1958). 10.1021/ja01539a017
23. I. Horcas, R. Fernandez, J. M. Gomez-Rodriguez, J. Colchero, J. Gomez-Herrero, and A. M. Baro, Rev. Sci. Instrum. 78, 013705 (2007). 10.1063/1.2432410
24. T. R. Albrecht, P. Grutter, D. Horne, and D. Rugar, J. Appl. Phys. 69, 668 (1991). 10.1063/1.347347
25. M. Jaafar, D. Martinez-Martin, M. Cuenca, J. Melcher, A. Raman, and J. Gomez-Herrero, Beilstein J. Nanotechnol. 3, 336 (2012). 10.3762/bjnano.3.38
26. J. M. R. Weaver and D. W. Abraham, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 1559 (1991); 10.1116/1.585423
27. T. Glatzel, S. Sadewasser, and M. C. Lux-Steiner, Appl. Surf. Sci. 210, 84 (2003); 10.1016/S0169-4332(02)01484-8
28. M. Nonnenmacher, M. P. Oboyle, and H. K. Wickramasinghe, Appl. Phys. Lett. 58, 2921 (1991). 10.1063/1.105227
29. R. S. Sundaram, C. Gomez-Navarro, E. J. H. Lee, M. Burghard, and K. Kern, Appl. Phys. Lett. 95, 223507 (2009). 10.1063/1.3270533
30. X. S. Wu, M. Sprinkle, X. Li, M. Fan, C. Berger, and W. A. De Heer, Phys. Rev. Lett. 101, 026801 (2008). 10.1103/PhysRevLett.101.026801
31. C. Gomez-Navarro, F. J. Guzman-Vazquez, J. Gomez-Herrero, J. J. Saenz, and G. M. Sacha, Nanoscale 4, 7231 (2012). 10.1039/c2nr32640j
32. T. Filleter, K. V. Emtsev, T. Seyller, and R. Bennewitz, Appl. Phys. Lett. 93, 133117 (2008). 10.1063/1.2993341
33. H. Sugimura, Y. Ishida, K. Hayashi, O. Takai, and N. Nakagiri, Appl. Phys. Lett. 80, 1459 (2002). 10.1063/1.1455145
34. See supplementary material at http://dx.doi.org/10.1063/1.4773357 E-APPLAB-101-087301 for sample preparation, EFM, and KPFM imaging.