Electronic transport properties of individual chemically reduced graphene oxide sheets

Nano Letters

Volumn 7, Issue 11, 2007, Pages 3499-3503

  Gómez Navarro, Cristina ^a   Weitz, R Thomas ^a   Bittner, Alexander M ^a   Scolari, Matteo ^b   Mews, Alf ^b   Burghard, Marko ^a   Kern, Klaus ^a,c  

^a MAX PLANCK INSTITUT FÜR FESTKÖRPERFORSCHUNG   (Germany)

^b UNIVERSITY OF SIEGEN   (Germany)

^c EPFL   (Switzerland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHARGE TRANSFER; ELECTRIC CONDUCTIVITY MEASUREMENT; ELECTRON TRANSPORT PROPERTIES; MONOLAYERS; RAMAN SPECTROSCOPY; REDUCTION;

GRAPHENE OXIDE SHEETS; MULTILAYERED SHEETS; VARIABLE RANGE HOPPING;

GRAPHITE;

GRAPHITE; NANOMATERIAL; NANOPARTICLE; OXIDE; SILICON DIOXIDE;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMISTRY; CRYSTALLIZATION; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTROCHEMISTRY; ELECTRONICS; METHODOLOGY; NANOTECHNOLOGY; RAMAN SPECTROMETRY; SURFACE PROPERTY; TEMPERATURE;

CRYSTALLIZATION; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTROCHEMISTRY; ELECTRONICS; GRAPHITE; MICROSCOPY, ATOMIC FORCE; NANOPARTICLES; NANOSTRUCTURES; NANOTECHNOLOGY; OXIDES; SILICON DIOXIDE; SPECTRUM ANALYSIS, RAMAN; SURFACE PROPERTIES; TEMPERATURE;

EID: 36749039718     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl072090c     Document Type: Article

References (29)

1. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov, A. A. Science 2004, 306, 666.
2. Berger, C.; Song, Z. M.; Li, X. B.; Wu, X. S.; Brown, N.; Naud, C.; Mayo, D.; Li, T. B.; Hass, J.; Marchenkov, A. N.; Conrad, E. H.; First, P. N.; de Heer, W. A. Science 2006, 312, 1191.
3. Geim, A. K.; Novoselov, K. S. Nat. Mater. 2007, 6, 183.
4. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Katsnelson, M. I.; Grigorieva, I. V.; Dubonos, S. V.; Firsov, A. A. Nature 2005, 438, 197.
5. Zhang, Y. B.; Tan, Y. W.; Stornier, H. L.; Kim, P. Nature 2005, 438, 201.
6. Lemme, M. C.; Echtermeyer, T. J.; Baus, M.; Kurz, H. IEEE Electron Device Lett. 2007, 28, 282.
7. Schedin, F.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Hill, E. W.; Blake, P.; Katsnelson, M. I.; Novoselov, K. S. Nat. Mater. 2007, 6, 652.
8. Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. V.; Geim, A. K. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102, 10451.
9. Stankovich, S.; Dikin, D. A.; Dommett, G. H. B.; Kohlhaas, K. M.; Zimney, E. J.; Stach, E. A.; Piner, R. D.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. Nature 2006, 442, 282.
10. Dikin, D. A.; Stankovich, S.; Zimney, E. J.; Piner, R. D.; Dommett, G. H. B.; Evmenenko, G.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. Nature 2007, 448, 457.
11. Watcharotone, S.; Dikin, D. A.; Stankovich, S.; Piner, R.; Jung, I.; Dommett, G. H. B.; Evmenenko, G.; Wu, S.-E.; Chen, S.-F.; Liu, C-P.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. Nano Lett. 2007, 7, 1888.
12. Stankovich, S.; Piner, R. D.; Chen, X. Q.; Wu, N. Q.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. J. Mater. Chem. 2006, 16, 155.
13. Schniepp, H. C.; Li, J. L.; McAllister, M. J.; Sai, H.; Herrera-Alonso, M.; Adamson, D. H.; Prud'homme, R. K.; Car, R.; Saville, D. A.; Aksay, I. A. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 8535.
14. Lerf, A.; He, H. Y.; Forster, M.; Klinowski, J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 4477.
15. He, H. Y.; Klinowski, J.; Forster, M.; Lerf, A. Chem. Phys. Lett. 1998, 287, 53.
16. Li, J. L.; Kudin, K. N.; McAllister, M. J.; Prud'homme, R. K.; Aksay, I. A.; Car, R. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 176101.
17. Stankovich, S.; Dikin, D. A.; Piner, R. D.; Kohlhaas, K. A.; Kleinhammes, A.; Jia, Y.; Wu, Y.; Nguyen, S. T.; Ruoff, R. S. Carbon 2007, 45, 1558.
18. Hummers, W. S.; Offeman, R. E. J. Am. Chem. Soc. 1958, 80, 1339.
19. The analysis of AFM images was made using the software WSxM described in: Horcas, I.; Fernandez, R.; Gomez-Rodriguez, J. M.; Colchero, J.; Gomez-Herrero, J.; Baro, A. M. Rev. Sci. Instrum. 2007, 78, 013705.
20. Pimenta, M. A.; Dresselhaus, G.; Dresselhaus, M. S.; Caneado, L. G.; Jorio, A.; Saito, R. Phys. Chem. Chem. Phys. 2007, 9, 1276.
21. Ferrari, A. C.; Robertson, J. Phys. Rev. B 2000, 67, 14095.
22. Tuinstra, F.; Koenig, J. L. J. Chem. Phys. 1970, 53, 1126.
23. Tan, Y.-W.; Zhang, Y.; Stormer, H. L.; Kim, P. Eur. Phys. J. 2007, 148, 15.
24. Robertson, J. Adv. Phys. 1986, 35, 317.
25. Mott, N. F.; A. Davis, E. Electronic Processes in Non-Crystalline Materials; Oxford University Press: Oxford, England, 1971.
26. Martel, R.; Derycke, V.; Lavoie, C.; Appenzeller, J.; Chan, K. K.; Tersoff, J.; Avouris, P. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 256805.
27. Kim, G. T.; Muster, J.; Krstic, V.; Park, J. G.; Park, Y. W.; Roth, S.; Burghard, M. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 1875.
28. Son, Y. W.; Cohen, M. L.; Louie, S. G. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 089901.
29. Wang, Z. F.; Li, Q. X.; Zheng, H. X.; Ren, H.; Su, H. B.; Shi, Q. W.; Chen, J. Phys. Rev. B 2007, 75, 113406.