Investigation of saturation and excitation behavior of 1.5 μm emission from Er3+ ions in SiO2 sensitized with Si nanocrystals

Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics

Volumn 9, Issue 12, 2012, Pages 2312-2317

  Timmerman, D ^a   Saeed, S ^a   Gregorkiewicz, T ^a   Roldan Gutierrez M A ^b   Molina, S I ^b  

^a UNIVERSITY OF AMSTERDAM   (Netherlands)

^b UNIVERSITY OF CÁDIZ   (Spain)

Author keywords

Erbium; Nanocrystals; Time resolved photoluminescence

Indexed keywords

ENERGY TRANSFER PROCESS; EXCITATION CHANNELS; EXCITATION POWER; EXCITATION PROCESS; FAST MECHANISMS; MICROSCOPIC MODELING; PHOTOLUMINESCENCE INTENSITIES; SI NANOCRYSTAL; TEMPORAL CHARACTERISTICS; TIME-RESOLVED PHOTOLUMINESCENCE; TIME-RESOLVED PHOTOLUMINESCENCE SPECTROSCOPY; TIME-SCALES;

ENERGY TRANSFER; NANOCRYSTALS; PHOTOLUMINESCENCE; PHOTOLUMINESCENCE SPECTROSCOPY; SILICON;

ERBIUM;

EID: 84871394137     PISSN: 18626351     EISSN: 16101642     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssc.201200311     Document Type: Article

References (41)

1. H. Ennen, J. Schneider, G. Pomrenke, and A. Axmann, Appl. Phys. Lett. 43, 943 (1983).
2. A. J. Steckl, J. H. Park, and J. M. Zavada, Mater. Today 10, 20 (2007).
3. A. Nishikawa, T. Kawasaki, N. Furukawa, Y. Terai, and Y. Fujiwara, Appl. Phys. Express 2, 071004 (2009).
4. A. Kenyon, Semicond. Sci. Technol. 20, 65 (2005).
5. I. N. Yassievich and L. C. Kimerling, Semicond. Sci. Technol. 8, 718 (1993).
6. O. B. Gusev, M. S. Bresler, P. E. Pak, I. N. Yassievich, M. Forcales, N. Q. Vinh, and T. Gregorkiewicz, Phys. Rev. B 64, 075302 (2001).
7. M. Forcales, T. Gregorkiewicz, I. V. Bradley, and J-P. R. Wells, Phys. Rev. B 65, 195208 (2002).
8. M. Forcales, T. Gregorkiewicz, M. S. Bresler, O. B. Gusev, I. V. Bradley, and J.-P. R. Wells, Phys. Rev. B 67, 085303 (2003).
9. A. Polman, J. Appl. Phys. 82, 1 (1997).
10. A. A. Prokofiev, I. N. Yassievich, H. Vrielinck, and T. Gregorkiewicz, Phys. Rev. B 72, 045214 (2005).
11. M. Forcales, T. Gregorkiewicz, and M. S. Bresler, Phys. Rev. B 68, 035213 (2003).
12. N. Q. Vinh, H. Przybylinska, Z. F. Krasil'nik, and T. Gregorkiewicz, Phys. Rev. B 70, 115332 (2004).
13. N. Q. Vinh, N. N. Ha, and T. Gregorkiewicz, Proc. IEEE 79, 1269 (2007).
14. G. Franzò, F. Priolo, S. Coffa, A. Polman, and A. Carnera, Nucl. Instrum. Methods B 96, 374 (1995).
15. N. N. Ha, K. Dohnalová, T. Gregorkiewicz, and J. Valenta, Phys. Rev. B 81, 195206 (2010).
16. M. Fujii, M. Yoshida, Y. Kanzawa, S. Hayashi, and K. Yamamoto, Appl. Phys. Lett. 71, 1198 (1997).
17. A. J. Kenyon, P. F. Trwoga, M. Federighi, and C. W. Pitt, J. Phys.: Condens. Matter 6, 319 (1994).
18. P. G. Kik, M. L. Brongersma, and A. Polman, Appl. Phys. Lett. 76, 2325 (2000).
19. D. Pacifici, G. Franzò, F. Priolo, F. Iacona, and L. Dal Negro, Phys. Rev. B 67, 245301 (2003).
20. C. E. Chryssou, A. J. Kenyon, T. S. Iwayama, C. W. Pitt, and D. E. Hole, RPhys. Lett 75, 2011 (1999).
21. M. Fujii, K. Imakita, K. Watanabe, and S. Hayashi, J. Appl. Phys. 95, 272 (2004).
22. D. Kovalev, H. Heckler, M. Ben-Chorin, G. Polisski, M. Schwartzkopff, and F. Koch, Phys. Rev. Lett. 81, 2803 (1998).
23. A. J. Kenyon, C. E. Chryssou, C. W. Pitt, T. Shimizu- Iwayama, D. E. Hol, N. Sharma, and C. J. Humphreys, J. Appl. Phys. 91, 367 (2002).
24. M. Wojdak, M. Klik, M. Forcales, O. B. Gusev, T. Gregorkiewicz, D. Pacifici, G. Franzò, and F. Priolo, Phys. Rev. B 69, 233315 (2004).
25. N. Q. Vinh, S. Minissale, H. Vrielinck, and T. Gregorkiewicz, Phys. Rev. B 76, 085339 (2007).
26. O. Jambois, F. Gourbilleau, A. J. Kenyon, J. Montesrrat, R. Rizk, and B. Garrido, Opt. Express 18, 2230 (2010).
27. T. Gregorkiewicz, D. T. X. Thao, and J. M. Langer, Appl. Phys. Lett. 75, 4124 (1999).
28. I. Izeddin, A. S. Moskalenko, I. N. Yassievich, M. Fujii, and T. Gregorkiewicz, Phys. Rev. Lett. 97, 207401 (2006).
29. I. Izeddin, D. Timmerman, T. Gregorkiewicz, A. S. Moskalenko, A. A. Prokofiev, I. N. Yassievich, and M. Fujii, Phys. Rev. B 78, 035327 (2008).
30. S. Takeoka, M. Fujii, and S. Hayashi, Phys. Rev. B 62, 16820 (2000).
31. H. Tamura, M. Ruckschloss, T. Wirschem, and S. Veprek, Appl. Phys. Lett. 65, 1537 (1994).
32. M. Ito, K. Imakita, M. Fujii, and S. Hayashi, J. Appl. Phys. 108, 063512 (2010).
33. D. Hiller, S. Goetze, and M. Zacharias, J. Appl. Phys. 109, 054308 (2011).
34. H. Benisty, C. M. Sotomayor-Torres, and C. Weisbuch, Phys. Rev. B 44, 945 (1991).
35. R. J. Kashtiban, U. Bangert, I. Crowe, M. P. Halsall, B. Sherliker, A. J. Harvey, J. Eccles, A. P. Knights, R. G. William, and M. Gass, J. Phys.: Conf. Ser. 209, 012043 (2010).
36. S. Saeed, D. Timmerman, and T. Gregorkiewicz, Phys. Rev. B 83, 155323 (2011)
37. D. Navarro-Urrios, A. Pitanti, N. Daldosso, F. Gourbilleau, R. Rizk, B. Garrido, and L. Pavesi, Phys. Rev. B 79, 193312 (2009).
38. A. Pitanti, D. Navarro-Urrios, N. Prtljaga, N. Daldosso, F. Gourbilleau, R. Rizk, B. Garrido, and L. Pavesi, J. Appl. Phys. 108, 053518 (2010).
39. O. Savchyn, F. R. Ruhge, P. G. Kik, R. M. Todi, K. R. Coffey, H. Nukala, and H. Heinrich. Phys. Rev. B 76, 195419 (2007).
40. G. Allan and C. Delerue, Phys. Rev. B 79, 195324 (2009).
41. D. Timmerman, I. Izeddin, and T. Gregorkiewicz, Phys. Status Solidi A 207, 183 (2010).