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Volumn 79, Issue 19, 2009, Pages

Fast relaxation of hot carriers by impact ionization in semiconductor nanocrystals: Role of defects

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EID: 67649424552     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.79.195324     Document Type: Article
Times cited : (60)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.