Nanoscopic photoluminescence properties of a green-emitting InGaN single quantum well on a {2021} GaN substrate probed by scanning near-field optical microscopy

Applied Physics Express

Volumn 5, Issue 10, 2012, Pages

  Kaneta, Akio ^a   Kim, Yoon Seok ^a   Funato, Mitsuru ^a   Kawakami, Yoichi ^a   Enya, Yohei ^b   Kyono, Takashi ^b   Ueno, Masaki ^b   Nakamura, Takao ^b  

^a KYOTO UNIVERSITY   (Japan)

^b SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES LTD   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AFM IMAGE; DIFFUSION LENGTH; GAN SUBSTRATE; MULTIMODES; PEAK WAVELENGTH; PHOTOLUMINESCENCE PROPERTIES; RIDGE STRUCTURES; SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPY; SINGLE QUANTUM WELL; SNOM TECHNIQUE;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; GALLIUM NITRIDE; OPTICAL MICROSCOPY; PHOTOLUMINESCENCE;

SEMICONDUCTOR QUANTUM WELLS;

EID: 84868088792     PISSN: 18820778     EISSN: 18820786     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/APEX.5.102104     Document Type: Article

References (24)

1. S. Nakamura, S. Pearton, and G. Fasol: Blue Laser Diode (Springer, Heidelberg, 2000) 2nd ed.
2. Y. Narukawa, M. Ichikawa, D. Sanga, M. Sano, and T. Mukai: J. Phys. D 43 (2010) 354002.
3. Y. Narukawa, M. Sano, T. Sakamoto, T. Yamada, and T. Mukai: Phys. Status Solidi A 205 (2008) 1081.
4. M. R. Krames, O. B. Shchekin, R. Mueller-Mach, G. O. Mueller, L. Zhou, G. Harbers, and M. G. Craford: J. Disp. Technol. 3 (2007) 160.
5. T. Miyoshi, S. Masui, T. Okada, T. Yanamoto, T. Kozaki, S. Nagahama, and T. Mukai: Appl. Phys. Express 2 (2009) 062201.
6. I.-H. Ho and G. B. Stringfellow: Appl. Phys. Lett. 69 (1996) 2701.
7. S. Chichibu, T. Azuhata, T. Sota, and S. Nakamura: Appl. Phys. Lett. 69 (1996) 4188.
8. T. Takeuchi, S. Sota, M. Katsuragawa, M. Komori, H. Takeuchi, H. Amano, and I. Akasaki: Jpn. J. Appl. Phys. 36 (1997) L382.
9. T. Takeuchi, H. Amano, and I. Akasaki: Jpn. J. Appl. Phys. 39 (2000) 413.
10. M. Funato, A. Kaneta, Y. Kawakami, Y. Enya, K. Nishizuka, M. Ueno, and T. Nakamura: Appl. Phys. Express 3 (2010) 021002.
11. T. Wernicke, L. Schade, C. Netzel, J. Rass, V. Hoffmann, S. Ploch, A. Knauer, M. Weyers, U. Schwarz, and M. Kneissl: Semicond. Sci. Technol. 27 (2012) 024014.
12. K. Okamoto, J. Kashiwagi, T. Tanaka, and M. Kubota: Appl. Phys. Lett. 94 (2009) 071105.
13. M. Funato, M. Ueda, Y. Kawakami, Y. Narukawa, T. Kosugi, M. Takahashi, and T. Mukai: Jpn. J. Appl. Phys. 45 (2006) L659.
14. Y. Enya, Y. Yoshizumi, T. Kyono, K. Akita, M. Ueno, M. Adachi, T. Sumitomo, S. Tokuyama, T. Ikegami, K. Katayama, and T. Nakamura: Appl. Phys. Express 2 (2009) 082101.
15. Y. Yoshizumi, M. Adachi, Y. Enya, T. Kyono, S. Tokuyama, T. Sumitomo, K. Akita, T. Ikegami, M. Ueno, K. Katayama, and T. Nakamura: Appl. Phys. Express 2 (2009) 092101.
16. S. Takagi, Y. Enya, T. Kyono, M. Adachi, Y. Yoshizumi, T. Sumitomo, Y. Yamanaka, T. Kumano, S. Tokuyama, K. Sumiyoshi, N. Saga, M. Ueno, K. Katayama, T. Ikegami, T. Nakamura, K. Yanashima, H. Nakajima, K. Tasai, K. Naganuma, N. Fuutagawa, Y. Takiguchi, T. Hamaguchi, and M. Ikeda: Appl. Phys. Express 5 (2012) 082102.
17. K. Yanashima, H. Nakajima, K. Tasai, K. Naganuma, N. Fuutagawa, Y. Takiguchi, T. Hamaguchi, M. Ikeda, Y. Enya, S. Takagi, M. Adachi, T. Kyono, Y. Yoshizumi, T. Sumitomo, Y. Yamanaka, T. Kumano, S. Tokuyama, K. Sumiyoshi, N. Saga, M. Ueno, K. Katayama, T. Ikegami, and T. Nakamura: Appl. Phys. Express 5 (2012) 082103.
18. I. L. Koslow, J. Sonoda, R. B. Chung, C.-C. Pan, S. Brinkley, H. Ohta, S. Nakamura, and S. P. DenBaars: Jpn. J. Appl. Phys. 49 (2010) 080203.
19. Y. S. Kim, A. Kaneta, M. Funato, Y. Kawakami, T. Kyono, M. Ueno, and T. Nakamura: Appl. Phys. Express 4 (2011) 052103.
20. A. Kaneta, T. Mutoh, G. Marutsuki, Y. Narukawa, T. Mukai, Y. Kawakami, and Sg. Fujita: Appl. Phys. Lett. 83 (2003) 3462.
21. K. Kazlauskas, G. Tamulaitis, P. Pobedinskas, A. Ž ukauskas, M. Springis, C.-F. Huang, Y.-C. Cheng, and C. C. Yang: Phys. Rev. B 71 (2005) 085306.
22. A. Kaneta, M. Funato, and Y. Kawakami: Phys. Rev. B 78 (2008) 125317.
23. Y. Kawakami, K. Nishizuka, D. Yamada, A. Kaneta, M. Funato, Y. Narukawa, and T. Mukai: Appl. Phys. Lett. 90 (2007) 261912.
24. S. Ploch, T. Wernicke, J. Thalmair, M. Lohr, M. Pristovsek, J. Zweck, M. Weyers, and M. Kneissl: J. Cryst. Growth 356 (2012) 70.