-
4
-
-
79551662120
-
-
D. L. Guo X. Huang G. Z. Xing Z. Zhang G. P. Li M. He H. Zhang H. Y. Chen T. Wu Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2011 83 045403
-
(2011)
Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys.
, vol.83
, pp. 045403
-
-
Guo, D.L.1
Huang, X.2
Xing, G.Z.3
Zhang, Z.4
Li, G.P.5
He, M.6
Zhang, H.7
Chen, H.Y.8
Wu, T.9
-
9
-
-
41049106765
-
-
W. K. Choi T. H. Liew H. G. Chew F. Zheng C. V. Thompson Y. Wang M. H. Hong X. D. Wang L. Li J. Yun Small 2008 4 330
-
(2008)
Small
, vol.4
, pp. 330
-
-
Choi, W.K.1
Liew, T.H.2
Chew, H.G.3
Zheng, F.4
Thompson, C.V.5
Wang, Y.6
Hong, M.H.7
Wang, X.D.8
Li, L.9
Yun, J.10
-
10
-
-
75249091313
-
-
A. Pierret M. Hocevar S. L. Diedenhofen R. E. Algra E. Vlieg E. C. Timmering M. A. Verschuuren G. W. G. Immink M. A. Verheijen E. P. A. M. Bakkers Nanotechnology 2010 21 065305
-
(2010)
Nanotechnology
, vol.21
, pp. 065305
-
-
Pierret, A.1
Hocevar, M.2
Diedenhofen, S.L.3
Algra, R.E.4
Vlieg, E.5
Timmering, E.C.6
Verschuuren, M.A.7
Immink, G.W.G.8
Verheijen, M.A.9
Bakkers, E.P.A.M.10
-
12
-
-
59349106938
-
-
X. X. Zhang D. F. Liu L. H. Zhang W. L. Li M. Gao W. J. Ma Y. Ren Q. S. Zeng Z. Q. Niu W. Y. Zhou S. S. Xie J. Mater. Chem. 2009 19 962
-
(2009)
J. Mater. Chem.
, vol.19
, pp. 962
-
-
Zhang, X.X.1
Liu, D.F.2
Zhang, L.H.3
Li, W.L.4
Gao, M.5
Ma, W.J.6
Ren, Y.7
Zeng, Q.S.8
Niu, Z.Q.9
Zhou, W.Y.10
Xie, S.S.11
-
18
-
-
46749126491
-
-
W. Lee H. Han A. Lotnyk M. A. Schubert S. Senz M. Alexe D. Hesse S. Baik U. Gösele Nat. Nanotechnol. 2008 3 402
-
(2008)
Nat. Nanotechnol.
, vol.3
, pp. 402
-
-
Lee, W.1
Han, H.2
Lotnyk, A.3
Schubert, M.A.4
Senz, S.5
Alexe, M.6
Hesse, D.7
Baik, S.8
Gösele, U.9
-
19
-
-
80051622739
-
-
X. L. Lu Y. Kim S. Goetze X. G. Li S. N. Dong P. Werner M. Alexe D. Hesse Nano Lett. 2011 11 3202
-
(2011)
Nano Lett.
, vol.11
, pp. 3202
-
-
Lu, X.L.1
Kim, Y.2
Goetze, S.3
Li, X.G.4
Dong, S.N.5
Werner, P.6
Alexe, M.7
Hesse, D.8
-
21
-
-
79958153277
-
-
N. Kwon N. Kim J. Yeon G. Yeom I. Chung J. Vac. Sci. Technol., B: Microelectron. Nanometer Struct.-Process., Meas., Phenom. 2011 29 031805
-
(2011)
J. Vac. Sci. Technol., B: Microelectron. Nanometer Struct.-Process., Meas., Phenom.
, vol.29
, pp. 031805
-
-
Kwon, N.1
Kim, N.2
Yeon, J.3
Yeom, G.4
Chung, I.5
-
39
-
-
57949085238
-
-
T. Yanagida A. Marcu H. Matsui K. Nagashima K. Oka K. Yokota M. Taniguchi T. Kawai J. Phys. Chem. C 2008 112 18923
-
(2008)
J. Phys. Chem. C
, vol.112
, pp. 18923
-
-
Yanagida, T.1
Marcu, A.2
Matsui, H.3
Nagashima, K.4
Oka, K.5
Yokota, K.6
Taniguchi, M.7
Kawai, T.8
-
45
-
-
77956019022
-
-
A. Klamchuen T. Yanagida M. Kanai K. Nagashima K. Oka T. Kawai M. Suzuki Y. Hidaka S. Kai Appl. Phys. Lett. 2010 97 073114
-
(2010)
Appl. Phys. Lett.
, vol.97
, pp. 073114
-
-
Klamchuen, A.1
Yanagida, T.2
Kanai, M.3
Nagashima, K.4
Oka, K.5
Kawai, T.6
Suzuki, M.7
Hidaka, Y.8
Kai, S.9
-
46
-
-
81155144582
-
-
A. Klamchuen T. Yanagida M. Kanai K. Nagashima K. Oka S. Rahong M. Gang M. Horprathum M. Suzuki Y. Hidaka S. Kai T. Kawai Appl. Phys. Lett. 2011 99 193105
-
(2011)
Appl. Phys. Lett.
, vol.99
, pp. 193105
-
-
Klamchuen, A.1
Yanagida, T.2
Kanai, M.3
Nagashima, K.4
Oka, K.5
Rahong, S.6
Gang, M.7
Horprathum, M.8
Suzuki, M.9
Hidaka, Y.10
Kai, S.11
Kawai, T.12
-
47
-
-
79955919620
-
-
K. Nagashima K. T. Yanagida K. Oka M. Kanai A. Klamchuen J. S. Kim B. H. Park T. Kawai Nano Lett. 2011 11 2114
-
(2011)
Nano Lett.
, vol.11
, pp. 2114
-
-
Nagashima, K.1
Yanagida, K.T.2
Oka, K.3
Kanai, M.4
Klamchuen, A.5
Kim, J.S.6
Park, B.H.7
Kawai, T.8
|