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Volumn 100, Issue 26, 2012, Pages

Micro-Raman spectroscopy of graphene grown on stepped 4H-SiC (0001) surface

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AFM; MICRO RAMAN SPECTROSCOPY; MICRO-RAMAN; SPATIAL MAPS; STEP BUNCHING; STEP EDGE; STRAIN FLUCTUATIONS; STRAIN VARIATION;

EID: 84863318243     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4730372     Document Type: Article
Times cited : (31)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.