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Volumn 258, Issue 10, 2012, Pages 4588-4591

Effects of ZnO buffer layer on GZO RRAM devices

Author keywords

GZO; ReRAM devices

Indexed keywords

BUFFER LAYERS; ELECTROFORMING; II-VI SEMICONDUCTORS; MAGNETRON SPUTTERING; ZINC OXIDE;

EID: 84862799756     PISSN: 01694332     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.apsusc.2012.01.034     Document Type: Article
Times cited : (31)

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    • G.I. Meijer Science 319 2008 1625 1626
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.