-
2
-
-
8444231667
-
-
Veres, J.; Ogier, S.; Lloyd, G.; de Leeuw, D. Chem. Mater. 2004, 16, 4543-4555
-
(2004)
Chem. Mater.
, vol.16
, pp. 4543-4555
-
-
Veres, J.1
Ogier, S.2
Lloyd, G.3
De Leeuw, D.4
-
3
-
-
75649122220
-
-
Ortiz, R. P.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Chem. Rev. 2010, 110, 205-239
-
(2010)
Chem. Rev.
, vol.110
, pp. 205-239
-
-
Ortiz, R.P.1
Facchetti, A.2
Marks, T.J.3
-
4
-
-
23044480892
-
-
Facchetti, A.; Yoon, M. H.; Marks, T. J. Adv. Mater. 2005, 17, 1705-1725
-
(2005)
Adv. Mater.
, vol.17
, pp. 1705-1725
-
-
Facchetti, A.1
Yoon, M.H.2
Marks, T.J.3
-
5
-
-
2342639588
-
-
Kobayashi, S.; Nishikawa, T.; Takenobu, T.; Mori, S.; Shimoda, T.; Mitani, T.; Shimotani, H.; Yoshimoto, N.; Ogawa, S.; Iwasa, Y. Nat. Mater. 2004, 3, 317-322
-
(2004)
Nat. Mater.
, vol.3
, pp. 317-322
-
-
Kobayashi, S.1
Nishikawa, T.2
Takenobu, T.3
Mori, S.4
Shimoda, T.5
Mitani, T.6
Shimotani, H.7
Yoshimoto, N.8
Ogawa, S.9
Iwasa, Y.10
-
6
-
-
20744459761
-
-
Pernstich, K. P.; Haas, S.; Oberhoff, D.; Goldmann, C.; Gundlach, D. J.; Batlogg, B.; Rashid, A. N.; Schitter, G. J. Appl. Phys. 2004, 96, 6431-6438
-
(2004)
J. Appl. Phys.
, vol.96
, pp. 6431-6438
-
-
Pernstich, K.P.1
Haas, S.2
Oberhoff, D.3
Goldmann, C.4
Gundlach, D.J.5
Batlogg, B.6
Rashid, A.N.7
Schitter, G.8
-
7
-
-
33847111592
-
-
Klauk, H.; Zschieschang, U.; Pflaum, J.; Halik, M. Nature 2007, 445, 745-748
-
(2007)
Nature
, vol.445
, pp. 745-748
-
-
Klauk, H.1
Zschieschang, U.2
Pflaum, J.3
Halik, M.4
-
8
-
-
33748933847
-
-
Hwang, D. K.; Kim, C. S.; Choi, J. M.; Lee, K.; Park, J. H.; Kim, E.; Baik, H. K.; Kim, J. H.; Im, S. Adv. Mater. 2006, 18, 2299-2303
-
(2006)
Adv. Mater.
, vol.18
, pp. 2299-2303
-
-
Hwang, D.K.1
Kim, C.S.2
Choi, J.M.3
Lee, K.4
Park, J.H.5
Kim, E.6
Baik, H.K.7
Kim, J.H.8
Im, S.9
-
9
-
-
35348989871
-
-
Zhang, X.-H.; Domercq, B.; Wang, X.; Yoo, S.; Kondo, T.; Wang, Z. L.; Kippelen, B. Org. Electron. 2007, 8, 718-726
-
(2007)
Org. Electron.
, vol.8
, pp. 718-726
-
-
Zhang, X.-H.1
Domercq, B.2
Wang, X.3
Yoo, S.4
Kondo, T.5
Wang, Z.L.6
Kippelen, B.7
-
10
-
-
33746307805
-
-
Koo, J. B.; Yun, S. J.; Lim, J. W.; Kim, S. H.; Ku, C. H.; Lim, S. C.; Lee, J. H.; Zyung, T. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 033511
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 033511
-
-
Koo, J.B.1
Yun, S.J.2
Lim, J.W.3
Kim, S.H.4
Ku, C.H.5
Lim, S.C.6
Lee, J.H.7
Zyung, T.8
-
11
-
-
54949124583
-
-
Acton, O.; Ting, G.; Ma, H.; Ka, J. W.; Yip, H.-L.; Tucker, N. M.; Jen, A. K. Y. Adv. Mater. 2008, 20, 3697-3701
-
(2008)
Adv. Mater.
, vol.20
, pp. 3697-3701
-
-
Acton, O.1
Ting, G.2
Ma, H.3
Ka, J.W.4
Yip, H.-L.5
Tucker, N.M.6
Jen, A.K.Y.7
-
12
-
-
79951824880
-
-
Park, Y. M.; Daniel, J.; Heeney, M.; Salleo, A. Adv. Mater. 2011, 23, 971-974
-
(2011)
Adv. Mater.
, vol.23
, pp. 971-974
-
-
Park, Y.M.1
Daniel, J.2
Heeney, M.3
Salleo, A.4
-
13
-
-
0035812811
-
-
Blackburn, J. M.; Long, D. P.; Cabanas, A.; Watkins, J. J. Science 2001, 294, 141-145
-
(2001)
Science
, vol.294
, pp. 141-145
-
-
Blackburn, J.M.1
Long, D.P.2
Cabanas, A.3
Watkins, J.J.4
-
17
-
-
50849113753
-
-
Kim, J.-H.; Ignatova, V.; Kuecher, P.; Heitmann, J.; Oberbeck, L.; Schroeder, U. Thin Solid Films 2008, 516, 8333-8336
-
(2008)
Thin Solid Films
, vol.516
, pp. 8333-8336
-
-
Kim, J.-H.1
Ignatova, V.2
Kuecher, P.3
Heitmann, J.4
Oberbeck, L.5
Schroeder, U.6
-
18
-
-
80052540176
-
-
Wei, Q. S.; Miyanishi, S.; Tajima, K.; Hashimoto, K. ACS Appl. Mater. Interfaces 2009, 1, 2660-2666
-
(2009)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.1
, pp. 2660-2666
-
-
Wei, Q.S.1
Miyanishi, S.2
Tajima, K.3
Hashimoto, K.4
-
19
-
-
80052983326
-
-
Wei, Q. S.; Tajima, K.; Hashimoto, K. ACS Appl. Mater. Interfaces 2009, 1, 1865-1868
-
(2009)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.1
, pp. 1865-1868
-
-
Wei, Q.S.1
Tajima, K.2
Hashimoto, K.3
-
20
-
-
34548829394
-
-
Hao, X. T.; Hosokai, T.; Mitsuo, N.; Kera, S.; Okudaira, K. K.; Mase, K.; Ueno, N. J. Phys. Chem. B 2007, 111, 10365-10372
-
(2007)
J. Phys. Chem. B
, vol.111
, pp. 10365-10372
-
-
Hao, X.T.1
Hosokai, T.2
Mitsuo, N.3
Kera, S.4
Okudaira, K.K.5
Mase, K.6
Ueno, N.7
-
21
-
-
31744431605
-
-
Jia, H. P.; Pant, G. K.; Gross, E. K.; Wallace, R. M.; Gnade, B. E. Org. Electron. 2006, 7, 16-21
-
(2006)
Org. Electron.
, vol.7
, pp. 16-21
-
-
Jia, H.P.1
Pant, G.K.2
Gross, E.K.3
Wallace, R.M.4
Gnade, B.E.5
-
22
-
-
77953787958
-
-
Wei, Q. S.; Tajima, K.; Hashimoto, K. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 243301
-
(2010)
Appl. Phys. Lett.
, vol.96
, pp. 243301
-
-
Wei, Q.S.1
Tajima, K.2
Hashimoto, K.3
-
23
-
-
80052553029
-
-
Wei, Q. S.; Hashimoto, K.; Tajima, K. ACS Appl. Mater. Interfaces 2011, 3, 139-142
-
(2011)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.3
, pp. 139-142
-
-
Wei, Q.S.1
Hashimoto, K.2
Tajima, K.3
|