X-ray absorption spectroscopy of functionalized silicon nanocrystals

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 114, Issue 51, 2010, Pages 22519-22525

  Kelly, Joel A ^a   Henderson, Eric J ^a,b   Clark, Rhett J ^a   Hessel, Colin M ^a,c   Cavell, Ronald G ^a   Veinot, Jonathan G C ^a  

^a UNIVERSITY OF ALBERTA   (Canada)

^b UNIVERSITY OF TORONTO   (Canada)

^c The University of Texas at Austin   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMBIENT OXIDATION; FUNCTIONALIZED; HYDROGEN SILSESQUIOXANE; NEAR EDGE X-RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE SPECTROSCOPIES; NEAR-IR; OPTICAL AND ELECTRONIC PROPERTIES; PHOTOCHEMICAL HYDROSILYLATION; QUANTUM CONFINEMENT EFFECTS; QUANTUM CONFINEMENT MODELS; SILICON NANOCRYSTALS; SPECTROSCOPIC STUDIES; SURFACE SPECIES; THERMAL PROCESSING; X-RAY EXCITED OPTICAL LUMINESCENCE;

ABSORPTION; ELECTRONIC PROPERTIES; HYDROFLUORIC ACID; HYDROSILYLATION; NANOCRYSTALS; OLEFINS; QUANTUM CONFINEMENT; SPECTROSCOPIC ANALYSIS; X RAY ABSORPTION; X RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE SPECTROSCOPY; X RAYS;

ABSORPTION SPECTROSCOPY;

EID: 78650613133     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp1092948     Document Type: Article

References (73)

1. Canham, L. T. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 1046-1048
2. Kortshagen, U. R.; Liu, C.; Holman, Z. C. Nano Lett. 2009, 9, 449-452
3. Liu, C.; Holman, Z. C.; Kortshagen, U. R. Adv. Funct. Mater. 2010, 20, 2157-2164
4. Park, J.; Gu, L.; von Maltzahn, G.; Ruoslahti, E.; Bhatia, S. N.; Sailor, M. J. Nat. Mater. 2009, 8, 331-336
5. Tu, C.; Ma, X.; Pantazis, P.; Kauzlarich, S. M.; Louie, A. Y. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 2016-2023
6. Erogbogbo, F.; Yong, K.-T.; Roy, I.; Xu, G. X.; Prasad, P. N.; Swihart, M. T. ACS Nano 2008, 2, 873-878
7. Bayliss, S. C.; Heald, R.; Fletcher, D. I.; Buckberry, L. D. Adv. Mater. 1999, 11, 318-321
8. Nagesha, D. K.; Whitehead, M. A.; Coffer, J. L. Adv. Mater. 2005, 17, 921-924
9. Ruizendaal, L.; Bhattacharjee, S.; Pournazari, K.; Rosso-Vasic, M.; De Haan, L. H. J.; Alink, G. M.; Marcelis, A. T. M.; Zuilhof, H. Nanotoxicology 2009, 3, 339-347
10. Low, S. P.; Voelcker, N. H.; Canham, L. T.; Williams, K. A. Biomaterials 2009, 30, 2873-2880
11. Soo Choi, H.; Liu, W.; Misra, P.; Tanaka, E.; Zimmer, J. P.; Itty Ipe, B.; Bawendi, M. G.; Frangioni, J. V. Nat. Biotechnol. 2007, 25, 1165-1170
12. Lewinski, N.; Colvin, V.; Drezek, R. Small 2008, 4, 26-49
13. Li, X.; He, Y.; Talukdar, S. S.; Swihart, M. T. Langmuir 2003, 19, 8490-8496
14. Jurbergs, D.; Rogojina, E.; Mangolini, L.; Kortshagen, U. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 233116
15. Mangolini, L.; Thimsen, E.; Kortshagen, U. Nano Lett. 2005, 5, 655-659
16. Hessel, C. M.; Henderson, E. J.; Veinot, J. G. C. Chem. Mater. 2006, 18, 6139-6146
17. Henderson, E. J.; Kelly, J. A.; Veinot, J. G. C. Chem. Mater. 2009, 21, 5426-5434
18. Buriak, J. M. Chem. Rev. 2002, 102, 1271-1308
19. Veinot, J. G. C. Chem. Commun. 2006, 4160-4168
20. Gupta, A.; Swihart, M. T.; Wiggers, H. Adv. Funct. Mater. 2009, 19, 696-703
21. Jiang, D. T.; Coulthard, I.; Sham, T. K.; Lorimer, J. W.; Frigo, S. P.; Feng, X. H.; Rosenberg, R. A. J. Appl. Phys. 1993, 74, 6335-6340
22. Hua, F.; Erogbogbo, F.; Swihart, M. T.; Ruckenstein, E. Langmuir 2006, 22, 4363-4370
23. Pi, X. D.; Liptak, R. W.; Deneen Nowak, J.; Wells, N. P.; Carter, C. B.; Campbell, S. A.; Kortshagen, U. Nanotechnology 2008, 19, 245603
24. Wolkin, M. V.; Jorne, J.; Fauchet, P. M.; Allan, G.; Delerue, C. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 197-200
25. Eyre, R. J.; Goss, J. P.; Briddon, P. R. Phys. Rev. B: Condens. Matter 2008, 77, 245407
26. Vasiliev, I.; Chelikowsky, J. R.; Martin, R. M. Phys. Rev. B: Condens. Matter 2002, 65, 1213021-1213024
27. Chen, X.; Pi, X.; Yang, D. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 8774-8781
28. Pi, X. D.; Mangolini, L.; Campbell, S. A.; Kortshagen, U. Phys. Rev. B: Condens. Matter 2007, 75, 085423
29. Kelly, J. A.; Veinot, J. G. C. ACS Nano 2010, 4, 4645-4656
30. Sun, Q.; De Smet, L. C. P. M.; Van Lagen, B.; Giesbers, M.; Thüne, P. C.; Van Engelenburg, J.; De Wolf, F. A.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 2514-2523
31. Wang, X.; Ruther, R. E.; Streifer, J. A.; Hamers, R. J. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 4048-4049
32. Scheres, L.; Giesbers, M.; Zuilhof, H. Langmuir 2010, 26, 10924-10929
33. Stewart, M. P.; Buriak, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 7821-7830
34. Koch, F.; Petrova-Koch, V.; Muschik, T. J. Lumin. 1993, 57, 271-281
35. Nayfeh, M. H.; Rigakis, N.; Yamani, Z. Phys. Rev. B: Condens. Matter 1997, 56, 2079-2084
36. Rogalev, A.; Goulon, J. X-ray Excited Optical Luminescence Spectroscopies. Chemical Applications of Synchrotron Radiation, Part II; Sham, T. K., Ed.; World Scientific: Singapore, 2002; Vol. 12B, pp 707 - 760.
37. Sham, T. K. Int. J. Nanotechnol. 2008, 5, 1194-1246
38. Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer-Verlag: Berlin, 1992.
39. Sham, T. K.; Coulthard, I.; Naftel, S. J. Multicore, Multichannel Detection MCMD. X-ray Absorption Fine Structure Studies of Thin Films. In Chemical Applications of Synchrotron Radiation, Part II: X-ray Applications; Sham, T. K., Ed.; World Scientific: Singapore, 2002; Vol. 1, pp 1154 - 1212.
40. Sham, T. K.; Jiang, D. T.; Coulthard, I.; Lorimer, J. W.; Feng, X. H.; Tan, K. H.; Frigo, S. P.; Rosenberg, R. A.; Houghton, D. C.; Bryskiewicz, B. Nature 1993, 363, 331-334
41. Coulthard, I.; Sham, T. K. Solid State Commun. 1999, 110, 203-208
42. Coulthard, I.; Antel, W. J., Jr.; Freeland, J. W.; Sham, T. K.; Naftel, S. J.; Zhang, P. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 498-500
43. Hu, Y. F.; Boukherroub, R.; Sham, T. K. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2004, 135, 143-147
44. Dalba, G.; Fornasini, P.; Grisenti, R.; Daldosso, N.; Rocca, F. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 1454-1456
45. Eisebitt, S.; Lüning, J.; Rubensson, J.-E.; Van Buuren, T.; Patitsas, S. N.; Tiedje, T.; Berger, M.; Arens-Fischer, R.; Frohnhoff, S.; Eberhardt, W. Solid State Commun. 1996, 97, 549-552
46. Dalba, G.; Daldosso, N.; Fornasini, P.; Grimaldi, M.; Grisenti, R.; Rocca, F. Phys. Rev. B: Condens. Matter 2000, 62, 9911-9914
47. Sun, X.; Tang, Y.; Zhang, P.; Naftel, S. J.; Sammynaiken, R.; Sham, T. K.; Peng, H. Y.; Zhang, Y.; Wong, N. B.; Lee, S. T. J. Appl. Phys. 2001, 90, 6379-6383
48. Daldosso, N.; Luppi, M.; Ossicini, S.; Degoli, E.; Magri, R.; Dalba, G.; Fornasini, P.; Grisenti, R.; Rocca, F.; Pavesi, L.; Boninelli, S.; Priolo, F.; Spinella, C.; Iacona, F. Phys. Rev. B: Condens. Matter 2003, 68, 853271-853278
49. Hessel, C. M.; Henderson, E. J.; Kelly, J. A.; Cavell, R. G.; Sham, T. K.; Veinot, J. G. C. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 14247-14254
50. Chao, Y.; Houlton, A.; Horrocks, B. R.; Hunt, M. R. C.; Poolton, N. R. J.; Yang, J.; Sǐller, L. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 263119
51. Chao, Y.; Krishnamurthy, S.; Montalti, M.; Lie, L. H.; Houlton, A.; Horrocks, B. R.; Kjeldgaard, L.; Dhanak, V. R.; Hunt, M. R. C.; Šiller, L. J. Appl. Phys. 2005, 98, 1-8
52. Siller, L.; Krishnamurthy, S.; Kjeldgaard, L.; Horrocks, B. R.; Chao, Y.; Houlton, A.; Chakraborty, A. K.; Hunt, M. R. C. J. Phys.: Condens. Matter 2009, 21, 095005
53. Van Buuren, T.; Dinh, L. N.; Chase, L. L.; Siekhaus, W. J.; Terminello, L. J. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 3803-3806
54. Sun, X. H.; Sham, T. K.; Rosenberg, R. A.; Shenoy, G. K. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 8475-8482
55. Cullis, A. G.; Canham, L. T.; Calcott, P. D. J. J. Appl. Phys. 1997, 82, 909-965
56. Zimina, A.; Eisebitt, S.; Eberhardt, W.; Heitmann, J.; Zacharias, M. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 163103
57. Godefroo, S.; Hayne, M.; Jivanescu, M.; Stesmans, A.; Zacharias, M.; Lebedev, O. I.; Van Tendeloo, G.; Moshchalkov, V. V. Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 174-178
58. Hu, Y. F.; Zuin, L.; Wright, G.; Igarashi, R.; McKibben, M.; Wilson, T.; Chen, S. Y.; Johnson, T.; Maxwell, D.; Yates, B. W.; Sham, T. K.; Reininger, R. Rev. Sci. Instrum. 2007, 78, 083109
59. Regier, T.; Krochak, J.; Sham, T. K.; Hu, Y. F.; Thompson, J.; Blyth, R. I. R. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 2007, 582, 93-95
60. Bringans, R. D.; Olmstead, M. A.; Uhrberg, R. I. G.; Bachrach, R. Z. Phys. Rev. B: Condens. Matter 1987, 36, 9569-9580
61. Ravel, B.; Newville, M. J. Synchrotron Radiat. 2005, 12, 537-541
62. Bianconi, A. Surf. Sci. 1979, 89, 41-50
63. Urquhart, S. G.; Turci, C. C.; Tyliszczak, T.; Brook, M. A.; Hitchcock, A. P. Organometallics 1997, 16, 2080-2088
64. Van Buuren, T.; Tiedje, T.; Dahn, J. R.; Way, B. M. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 2911-2913
65. Carlisle, J. A.; Germanenko, I. N.; Pithawalla, Y. B.; El-Shall, M. S. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2001, 114-116, 229-234
66. Batson, P. E.; Heath, J. R. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 911-914
67. Hessel, C. M.; Henderson, E. J.; Veinot, J. G. C. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 6956-6961
68. Kasrai, M.; Lennard, W. N.; Brunner, R. W.; Bancroft, G. M.; Bardwell, J. A.; Tan, K. H. Appl. Surf. Sci. 1996, 99, 303-312
69. Kołlodziej, A. Opto-Electron. Rev. 2004, 12, 21-32
70. Hua, F.; Swihart, M. T.; Ruckenstein, E. Langmuir 2005, 21, 6054-6062
71. Sieval, A. B.; Vleeming, V.; Zuilhof, H.; Sudhölter Langmuir 1999, 15, 8288-8291
72. Bateman, J. E.; Eagling, R. D.; Horrocks, B. R.; Houlton, A. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 5557-5565
73. Ledoux, G.; Guillois, O.; Porterat, D.; Reynaud, C.; Huisken, F.; Kohn, B.; Paillard, V. Phys. Rev. B: Condens. Matter 2000, 62, 15942-15951