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Volumn 90, Issue 12, 2001, Pages 6379-6383

X-ray absorption fine structure and electron energy loss spectroscopy study of silicon nanowires at the Si L3,2 edge

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EID: 0035894034     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1417997     Document Type: Article
Times cited : (23)

References (23)
  • 18
    • 21944436546 scopus 로고    scopus 로고
    • unpublished results
    • S. J. Naftel et al. (unpublished results).
    • Naftel, S.J.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.