Revealing buried interfaces to understand the origins of threshold voltage shifts in organic field-effect transistors

Advanced Materials

Volumn 22, Issue 45, 2010, Pages 5105-5109

  Mathijssen, Simon G J ^a,b   Spijkman, Mark Jan ^a,c   Andringa, Anne Marije ^a,c   Van Hal, Paul A ^a   McCulloch, Iain ^d   Kemerink, Martijn ^b   Janssen, René A J ^b   De Leeuw, Dago M ^a,c  

^a PHILIPS RESEARCH LABORATORIES   (Netherlands)

^b EINDHOVEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

^c UNIVERSITY OF GRONINGEN   (Netherlands)

^d IMPERIAL COLLEGE LONDON   (United Kingdom)

Author keywords

charge trapping; exfoliation; organic field effect transistors; scanning Kelvin probe microscopy; threshold voltage instabilities

Indexed keywords

ADHESIVE TAPES; BURIED INTERFACE; CHARACTERIZATION TECHNIQUES; EXFOLIATION; GATE-BIAS STRESS; ORGANIC SEMICONDUCTOR; SCANNING KELVIN PROBE MICROSCOPY; THRESHOLD VOLTAGE INSTABILITIES; THRESHOLD VOLTAGE SHIFTS; TRAPPED CHARGE;

CHARGE TRAPPING; FIELD EFFECT TRANSISTORS; GATE DIELECTRICS; GATES (TRANSISTOR); PROBES; SCANNING; THRESHOLD VOLTAGE;

ORGANIC FIELD EFFECT TRANSISTORS;

ARTICLE; SCANNING PROBE MICROSCOPY; SEMICONDUCTOR; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

MICROSCOPY, SCANNING PROBE; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; TRANSISTORS, ELECTRONIC;

EID: 78649807634     PISSN: 09359648     EISSN: 15214095     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adma.201001865     Document Type: Article

References (30)

1. S. Kobayashi, T. Nishikawa, T. Takenobu, S. Mori, T. Shimoda, T. Mitani, H. Shimotani, N. Yoshimoto, S. Ogawa, Y. Iwasa, Nat. Mater. 2004, 3, 317.
2. L.-L. Chua, J. Zaumseil, J.-F. Chang, E. Ou, P. Ho, H. Sirringhaus, R. Friend, Nature 2005, 434, 194.
3. J. Veres, S. Ogier, G. Lloyd, D. M. de Leeuw, Chem. Mater. 2004, 16, 4543.
4. H. Sirringhaus, Adv. Mater. 2009, 21, 3859.
5. T. N. Ng, J. A. Marohn, M. L. Chabinyc, J. Appl. Phys. 2006, 100, 084505.
6. G. H. Gelinck, H. E. A. Huitema, E. van Veenendaal, E. Cantatore, L. Schrijnemakers, J. B. P. H. van der Putten, T. C. T. Geuns, M. Beenhakkers, J. B. Giesbers, B.-H. Huisman, E. J. Meijer, E. Mena Benito, F. J. Touwslager, A. W. Marsman, B. J. E. van Rens, D. M. de Leeuw, Nat. Mater. 2004, 3, 106.
7. R. A. Street, Adv. Mat. 2009, 21, 2007.
8. A. Salleo, F. Endicott, R. A. Street, Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 263505.
9. L. Torsi, A. Dodabalapur, L. Sabbatini, P. G. Zambonin, Sensors and Actuators B 2000, 67, 312.
10. S. G. J. Mathijssen, M. Cölle, H. L. Gomes, E. C. P. Smits, B. de Boer, I. McCulloch, P. A. Bobbert, D. M. de Leeuw, Adv. Mater. 2007, 19, 2785.
11. V. Palermo, M. Palma, P. Samori, Adv. Mater. 2005, 18, 145.
12. K. Puntambekar, P. Pesavento, C. Frisbie, Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 5539.
13. T. Hallam, M. Lee, N. Zhao, I. Nandhakumar, M. Kemerink, M. Heeney, I. McCulloch, H. Sirringhaus, Phys. Rev. Lett. 2009, 103, 256803.
14. D. H. Kim, B. L. Lee, H. Moon, H. M. Kang, E. J. Jeong, J. I. Park, K. M. Han, S. Lee, B. W. Yoo, B. W. Koo, J. Y. Kim, W. H. Lee, K. Cho, H. A. Becerril, Z. Bao, J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 6124.
15. W. Kalb, T. Mathis, S. Haas, A. Stassen, B. Batlogg, Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 092104.
16. M. Debucquoy, S. Verlaak, S. Steudel, K. Myny, J. Genoe, P. Heremans, Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 103508.
17. V. Podzorov, M. E. Gershenson, Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 016602.
18. M. Tello, M. Chiesa, C. M. Duffy, H. Sirringhaus, Adv. Func. Mater. 2008, 18, 3907.
19. A. Sharma, S. G. J. Mathijssen, M. Kemerink, D. M. Wde Leeuw, P. A. Bobbert, Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 253305.
20. S. G. J. Mathijssen, M. Cölle, A. J. G. Mank, M. Kemerink, P. A. Bobbert, D. M. de Leeuw, Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 192104.
21. T. Cramer, T. Steinbrecher, T. Koslowski, D. A. Case, F. Biscarini, F. Zerbetto, Phys. Rev. B 2009, 79, 155316.
22. H. L. Gomes, P. Stallinga, F. Dinelli, M. Murgia, F. Biscarini, D. M. de Leeuw, T. Muck, J. Geurts, L. Molenkamp, V. Wagner, Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 3184.
23. T. Richards, H. Sirringhaus, Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 023512.
24. K. D. Deshmukh, K. Reuter, H. Kempa, J. E. West, H. E. Katz, Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 113307.
25. S. G. J. Mathijssen, M. Kemerink, A. Sharma, M. Cölle, P. A. Bobbert, R. A. J. Janssen, D. M. de Leeuw, Adv. Mater. 2008, 20, 975.
26. H. Kanaan, P. Jolinat, G. Ablart, P. Destruel, C. Renaud, C. Lee, T-P Nguyen, Org. Electron. 2010, 11, 1047.
27. C. Celle, C. Suspene, J. P. Simonato, S. Lenfant, M. Ternisien, D. Vuillaume, Org. Electron. 2009, 10, 119.
28. S. K. Possanner, K. Zojer, P. Pacher, E. Zojer, F. Schuerrer, Adv. Func. Mater. 2009, 19, 958.
29. H. Sakai, Y. Takahashi, H. Murata, Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 113502.
30. R. C. G. Naber, C. Tanase, P. W. M. Blom, G. H. Gelinck, A. W. Marsman, F. J. Touwslager, S. Setayesh, D. M. de Leeuw, Nat. Mater. 2005, 4, 243.