-
4
-
-
0038759628
-
-
JNARFA 1388-0764,. 10.1023/A:1024424518822
-
M. Adachi, S. Tsukui, and K. Okuyama, J. Nanopart. Res. JNARFA 1388-0764, 5, 31 (2003). 10.1023/A:1024424518822
-
(2003)
J. Nanopart. Res.
, vol.5
, pp. 31
-
-
Adachi, M.1
Tsukui, S.2
Okuyama, K.3
-
5
-
-
0030106532
-
-
JVTAD6 0734-2101,. 10.1116/1.580149
-
P. H. McMurry, S. Nijhawan, N. Rao, P. Ziemann, D. B. Kittelson, and S. Campbell, J. Vac. Sci. Technol. A JVTAD6 0734-2101, 14, 582 (1996). 10.1116/1.580149
-
(1996)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.14
, pp. 582
-
-
McMurry, P.H.1
Nijhawan, S.2
Rao, N.3
Ziemann, P.4
Kittelson, D.B.5
Campbell, S.6
-
6
-
-
0942288902
-
-
JVTBD9 1071-1023,. 10.1116/1.1627795
-
R. M. Rassel, T. Kim, Z. Shen, S. A. Campbell, and P. H. MacMurry, J. Vac. Sci. Technol. B JVTBD9 1071-1023, 21, 2441 (2003). 10.1116/1.1627795
-
(2003)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.21
, pp. 2441
-
-
Rassel, R.M.1
Kim, T.2
Shen, Z.3
Campbell, S.A.4
MacMurry, P.H.5
-
7
-
-
0036495191
-
-
JVTAD6 0734-2101,. 10.1116/1.1448506
-
T. Kim, S. -M. Suh, S. L. Girshick, M. R. Zachariah, P. H. McMurry, R. M. Rassel, Z. Shen, and S. A. Campbell, J. Vac. Sci. Technol. A JVTAD6 0734-2101, 20, 413 (2002). 10.1116/1.1448506
-
(2002)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.20
, pp. 413
-
-
Kim, T.1
Suh, S.-M.2
Girshick, S.L.3
Zachariah, M.R.4
McMurry, P.H.5
Rassel, R.M.6
Shen, Z.7
Campbell, S.A.8
-
8
-
-
0034272602
-
-
JVTAD6 0734-2101,. 10.1116/1.1288193
-
S. Nijhawan, P. H. McMurry, and S. A. Campbell, J. Vac. Sci. Technol. A JVTAD6 0734-2101, 18, 2198 (2000). 10.1116/1.1288193
-
(2000)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.18
, pp. 2198
-
-
Nijhawan, S.1
McMurry, P.H.2
Campbell, S.A.3
-
9
-
-
0038703418
-
-
JALSB7 0021-8502,. 10.1016/S0021-8502(03)00029-6
-
S. Nijhawan, P. H. McMurry, M. T. Swihart, S. M. Suh, S. L. Girshick, S. A. Campbell, and J. E. Brockmann, J. Aerosol Sci. JALSB7 0021-8502, 34, 691 (2003). 10.1016/S0021-8502(03)00029-6
-
(2003)
J. Aerosol Sci.
, vol.34
, pp. 691
-
-
Nijhawan, S.1
McMurry, P.H.2
Swihart, M.T.3
Suh, S.M.4
Girshick, S.L.5
Campbell, S.A.6
Brockmann, J.E.7
-
10
-
-
0008514909
-
-
JVTBD9 1071-1023,. 10.1116/1.589851
-
N. P. Rao, Z. Wu, S. Nijhawan, P. Ziemann, S. Campbell, D. B. Kittelson, and P. McMurry, J. Vac. Sci. Technol. B JVTBD9 1071-1023, 16, 483 (1998). 10.1116/1.589851
-
(1998)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.16
, pp. 483
-
-
Rao, N.P.1
Wu, Z.2
Nijhawan, S.3
Ziemann, P.4
Campbell, S.5
Kittelson, D.B.6
McMurry, P.7
-
11
-
-
0041323101
-
-
JAPIAU 0021-8979,. 10.1063/1.1591412
-
Z. Shen, T. Kim, U. Kortshagen, P. H. McMurry, and S. A. Campbell, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979, 94, 2277 (2003). 10.1063/1.1591412
-
(2003)
J. Appl. Phys.
, vol.94
, pp. 2277
-
-
Shen, Z.1
Kim, T.2
Kortshagen, U.3
McMurry, P.H.4
Campbell, S.A.5
-
12
-
-
0001752694
-
-
APPLAB 0003-6951,. 10.1063/1.112693
-
M. Eizenberg, K. Littau, S. Ghanayem, A. Mak, Y. Maeda, M. Chang, and A. K. Sinha, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951, 65, 2416 (1994). 10.1063/1.112693
-
(1994)
Appl. Phys. Lett.
, vol.65
, pp. 2416
-
-
Eizenberg, M.1
Littau, K.2
Ghanayem, S.3
Mak, A.4
Maeda, Y.5
Chang, M.6
Sinha, A.K.7
-
13
-
-
0033534957
-
-
THSFAP 0040-6090,. 10.1016/S0040-6090(98)01405-9
-
J. Y. Yun and S. W. Rhee, Thin Solid Films THSFAP 0040-6090, 339, 270 (1999). 10.1016/S0040-6090(98)01405-9
-
(1999)
Thin Solid Films
, vol.339
, pp. 270
-
-
Yun, J.Y.1
Rhee, S.W.2
-
14
-
-
0032123897
-
-
JESOAN 0013-4651,. 10.1149/1.1838658
-
J. Yun, M. Park, and S. Rhee, J. Electrochem. Soc. JESOAN 0013-4651, 145, 2453 (1998). 10.1149/1.1838658
-
(1998)
J. Electrochem. Soc.
, vol.145
, pp. 2453
-
-
Yun, J.1
Park, M.2
Rhee, S.3
-
15
-
-
62549088773
-
-
APECE4 1882-0778,. 10.1143/APEX.2.035501
-
J. K. Na, T. S. Kim, J. B. Choi, J. Y. Yun, Y. H. Shin, and S. W. Kang, Appl. Phys. Express APECE4 1882-0778, 2, 035501 (2009). 10.1143/APEX.2.035501
-
(2009)
Appl. Phys. Express
, vol.2
, pp. 035501
-
-
Na, J.K.1
Kim, T.S.2
Choi, J.B.3
Yun, J.Y.4
Shin, Y.H.5
Kang, S.W.6
-
16
-
-
0029278150
-
-
ASTYDQ 0278-6826,. 10.1080/02786829408959749
-
P. Liu, P. J. Ziemann, D. B. Kittelson, and P. H. McMurry, Aerosol Sci. Technol. ASTYDQ 0278-6826, 22, 314 (1995). 10.1080/02786829408959749
-
(1995)
Aerosol Sci. Technol.
, vol.22
, pp. 314
-
-
Liu, P.1
Ziemann, P.J.2
Kittelson, D.B.3
McMurry, P.H.4
-
17
-
-
0029278226
-
-
ASTYDQ 0278-6826,. 10.1080/02786829408959748
-
P. Liu, P. J. Ziemann, D. B. Kittelson, and P. H. McMurry, Aerosol Sci. Technol. ASTYDQ 0278-6826, 22, 293 (1995). 10.1080/02786829408959748
-
(1995)
Aerosol Sci. Technol.
, vol.22
, pp. 293
-
-
Liu, P.1
Ziemann, P.J.2
Kittelson, D.B.3
McMurry, P.H.4
-
18
-
-
0000475191
-
-
JPCHAX 0022-3654,. 10.1021/j100014a037
-
P. J. Ziemann, P. Liu, D. B. Kittelson, and P. H. McMurry, J. Phys. Chem. JPCHAX 0022-3654, 99, 5126 (1995). 10.1021/j100014a037
-
(1995)
J. Phys. Chem.
, vol.99
, pp. 5126
-
-
Ziemann, P.J.1
Liu, P.2
Kittelson, D.B.3
McMurry, P.H.4
-
19
-
-
0001364938
-
-
JALSB7 0021-8502,. 10.1016/0021-8502(95)00009-2
-
P. J. Ziemann, P. Liu, N. P. Rao, D. B. Kittelson, and P. H. McMurry, J. Aerosol Sci. JALSB7 0021-8502, 26, 745 (1995). 10.1016/0021-8502(95)00009-2
-
(1995)
J. Aerosol Sci.
, vol.26
, pp. 745
-
-
Ziemann, P.J.1
Liu, P.2
Rao, N.P.3
Kittelson, D.B.4
McMurry, P.H.5
-
20
-
-
0346500499
-
-
ASTYDQ 0278-6826,. 10.1080/02786820490250845
-
H. Setyawan, M. Shimada, Y. Hayashi, K. Okuyama, and S. Yokoyama, Aerosol Sci. Technol. ASTYDQ 0278-6826, 38, 120 (2004). 10.1080/02786820490250845
-
(2004)
Aerosol Sci. Technol.
, vol.38
, pp. 120
-
-
Setyawan, H.1
Shimada, M.2
Hayashi, Y.3
Okuyama, K.4
Yokoyama, S.5
-
21
-
-
20044389302
-
-
ASTYDQ 0278-6826,. 10.1080/027868290950257
-
M. Shimada, H. Setyawan, Y. Hayashi, N. Kashihara, K. Okuyama, and S. Winardi, Aerosol Sci. Technol. ASTYDQ 0278-6826, 39, 408 (2005). 10.1080/027868290950257
-
(2005)
Aerosol Sci. Technol.
, vol.39
, pp. 408
-
-
Shimada, M.1
Setyawan, H.2
Hayashi, Y.3
Kashihara, N.4
Okuyama, K.5
Winardi, S.6
|