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Volumn 81, Issue 7, 2010, Pages

Swift-heavy-ion-induced damage formation in III-V binary and ternary semiconductors

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EID: 77954848690     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.81.075201     Document Type: Article
Times cited : (25)

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    • Online archive on semiconductor properties at www.ioffe.ru/sva/nsm/ semicond/index.html.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.