-
1
-
-
84882881440
-
-
Bennett, J. M.; Pelletier, E.; Albrand, G.; Borgogno, J. P.; Lazarides, B.; Carniglia, C. K.; Schmell, R. A.; Allen, T. H.; Tuttle-Hart, T.; Guenther, K. H.; Saxer, A. Appl. Opt. 1989, 28, 3303-3317.
-
(1989)
Appl. Opt.
, vol.28
, pp. 3303-3317
-
-
Bennett, J.M.1
Pelletier, E.2
Albrand, G.3
Borgogno, J.P.4
Lazarides, B.5
Carniglia, C.K.6
Schmell, R.A.7
Allen, T.H.8
Tuttle-Hart, T.9
Guenther, K.H.10
Saxer, A.11
-
2
-
-
0032606329
-
-
Chao, S.; Wang, W.-H.; Hsu, M.-Y.; Wang, L.-C. J. Opt. Soc. Am. A 1999, 16, 1477-1483.
-
(1999)
J. Opt. Soc. Am. A
, vol.16
, pp. 1477-1483
-
-
Chao, S.1
Wang, W.-H.2
Hsu, M.-Y.3
Wang, L.-C.4
-
3
-
-
0030854750
-
-
Wang, R.; Hashimoto, K.; Fujishima, A.; Chikuni, M.; Kojima, E.; Kitamura, A.; Shimohigoshi, M.; Watanabe, T. Nature 1997, 388, 431-432.
-
(1997)
Nature
, vol.388
, pp. 431-432
-
-
Wang, R.1
Hashimoto, K.2
Fujishima, A.3
Chikuni, M.4
Kojima, E.5
Kitamura, A.6
Shimohigoshi, M.7
Watanabe, T.8
-
5
-
-
45749146187
-
-
Lee, J. K.; Coates, N. E.; Cho, S.; Cho, N. S.; Moses, D.; Bazan, G. C.; Lee, K.; Heeger, A. J. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 243308.
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.92
, pp. 243308
-
-
Lee, J.K.1
Coates, N.E.2
Cho, S.3
Cho, N.S.4
Moses, D.5
Bazan, G.C.6
Lee, K.7
Heeger, A.J.8
-
6
-
-
44649112468
-
-
Wu, S.; Han, H.; Tai, Q.; Zhang, J.; Xu, S.; Zhou, C.; Yang, Y.; Hu, H.; Chen, B.; Zhao, X.-z. J. Power Sources 2008, 182, 119-123.
-
(2008)
J. Power Sources
, vol.182
, pp. 119-123
-
-
Wu, S.1
Han, H.2
Tai, Q.3
Zhang, J.4
Xu, S.5
Zhou, C.6
Yang, Y.7
Hu, H.8
Chen, B.9
Zhao, X.-z.10
-
8
-
-
34547260931
-
-
Yang, W.; Monson, A.; Marino, J.; Wolden, C. A. J. Vac. Sci. Technol., A 2007, 25, 1298-1301.
-
(2007)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.25
, pp. 1298-1301
-
-
Yang, W.1
Monson, A.2
Marino, J.3
Wolden, C.A.4
-
10
-
-
0000309374
-
-
Ritala, M.; Leskelä, M.; Nykänen, E.; Soininen, P.; Niinistö, L. Thin Solid Films 1993, 225, 288-295.
-
(1993)
Thin Solid Films
, vol.225
, pp. 288-295
-
-
Ritala, M.1
Leskelä, M.2
Nykänen, E.3
Soininen, P.4
Niinistö, L.5
-
11
-
-
0035282191
-
-
Aarik, J.; Aidla, A.; Mandar, H.; Uustare, T. Appl. Surf. Sci. 2001, 172, 148-158.
-
(2001)
Appl. Surf. Sci.
, vol.172
, pp. 148-158
-
-
Aarik, J.1
Aidla, A.2
Mandar, H.3
Uustare, T.4
-
12
-
-
0035673331
-
-
Matero, R.; Rahtu, A.; Ritala, M. Chem. Mater. 2001, 13, 4506-4511.
-
(2001)
Chem. Mater.
, vol.13
, pp. 4506-4511
-
-
Matero, R.1
Rahtu, A.2
Ritala, M.3
-
13
-
-
1842423017
-
-
Ferguson, J. D.; Yoder, A. R.; Weimer, A. W.; George, S. M. Appl. Surf. Sci. 2004, 226, 393-404.
-
(2004)
Appl. Surf. Sci.
, vol.226
, pp. 393-404
-
-
Ferguson, J.D.1
Yoder, A.R.2
Weimer, A.W.3
George, S.M.4
-
16
-
-
34848817167
-
-
Niskanen, A.; Arstila, K.; Leskelä, M.; Ritala, M. Chem. Vap. Deposition 2007, 13, 152-157.
-
(2007)
Chem. Vap. Deposition
, vol.13
, pp. 152-157
-
-
Niskanen, A.1
Arstila, K.2
Leskelä, M.3
Ritala, M.4
-
17
-
-
49149124418
-
-
Xie, Q.; Musschoot, J.; Deduytsche, D.; Van Meirhaeghe, R. L.; Detavernier, C.; Van den Berghe, S.; Jiang, Y.-L.; Ru, G.-P.; Li, B.-Z.; Qua, X.-P. J. Electrochem. Soc. 2008, 155, H688-H692.
-
(2008)
J. Electrochem. Soc.
, vol.155
-
-
Xie, Q.1
Musschoot, J.2
Deduytsche, D.3
Van Meirhaeghe, R.L.4
Detavernier, C.5
Van Den Berghe, S.6
Jiang, Y.-L.7
Ru, G.-P.8
Li, B.-Z.9
Qua, X.-P.10
-
19
-
-
34547667473
-
-
Szymanski, S. F.; Seman, M. T.; Wolden, C. A. Surf. Coat. Technol. 2007, 201, 8991-8997.
-
(2007)
Surf. Coat. Technol.
, vol.201
, pp. 8991-8997
-
-
Szymanski, S.F.1
Seman, M.T.2
Wolden, C.A.3
-
20
-
-
44649110202
-
-
Heil, S. B. S.; van Hemmen, J. L.; van de Sanden, M. C. M.; Kessels, W. M. M. J. Appl. Phys. 2008, 103, 103302.
-
(2008)
J. Appl. Phys.
, vol.103
, pp. 103302
-
-
Heil, S.B.S.1
Van Hemmen, J.L.2
Van De Sanden, M.C.M.3
Kessels, W.M.M.4
-
21
-
-
0035807159
-
-
Schuisky, M.; Aarik, J.; Kukli, K.; Aidla, A.; Harsta, A. Langmuir 2001, 17, 5508-5512.
-
(2001)
Langmuir
, vol.17
, pp. 5508-5512
-
-
Schuisky, M.1
Aarik, J.2
Kukli, K.3
Aidla, A.4
Harsta, A.5
-
22
-
-
46449132567
-
-
Szymanski, S. F.; Rowlette, P.; Wolden, C. A. J. Vac. Sci. Technol., A 2008, 26, 1079-1084.
-
(2008)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.26
, pp. 1079-1084
-
-
Szymanski, S.F.1
Rowlette, P.2
Wolden, C.A.3
-
28
-
-
0036470058
-
-
Scarel, G.; Hirschmugl, C. J.; Yakovlev, V. V.; Sorbello, R. S.; Aita, C. R.; Tanaka, H.; Hisano, K. J. Appl. Phys. 2002, 91, 1118-1128.
-
(2002)
J. Appl. Phys.
, vol.91
, pp. 1118-1128
-
-
Scarel, G.1
Hirschmugl, C.J.2
Yakovlev, V.V.3
Sorbello, R.S.4
Aita, C.R.5
Tanaka, H.6
Hisano, K.7
-
30
-
-
0020871436
-
-
Briggs, D., Seah, M. P., Eds.; John Wiley and Sons: Chichester
-
McIntyre, N. S. In Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy; Briggs, D., Seah, M. P., Eds.; John Wiley and Sons: Chichester, 1983.
-
(1983)
Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy
-
-
McIntyre, N.S.1
|