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Volumn 161, Issue , 2009, Pages

Customized silicon cantilevers for Casimir force experiments using focused ion beam milling

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EID: 67650822155     PISSN: 17426588     EISSN: 17426596     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1088/1742-6596/161/1/012005     Document Type: Article
Times cited : (6)

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    • Carl Zeiss Leo XB1540
    • Carl Zeiss Leo XB1540


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.