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Volumn 53, Issue 6, 2008, Pages 3302-3306

Study of hole traps in the oxide-nitride-oxide structure of the SONOS flash memory

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Charge trap; Hole trap; ONO; SONOS

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EID: 58249124351     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.3938/jkps.53.3302     Document Type: Article
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References (19)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.