-
2
-
-
0034315780
-
-
B. Eitan, P. Pavan, I. Bloom, E. Aloni, A. Frommer and D. Finzi, IEEE Electron Dev. Lett. 21, 543 (2000).
-
(2000)
IEEE Electron Dev. Lett
, vol.21
, pp. 543
-
-
Eitan, B.1
Pavan, P.2
Bloom, I.3
Aloni, E.4
Frommer, A.5
Finzi, D.6
-
3
-
-
29344464160
-
-
J.-H. Yi, H. Shin, Y. J. Park, H. S. Min, S.-D. Lee and J.-H. Ahn, J. Korean Phys. Soc. 47, 387 (2005).
-
(2005)
J. Korean Phys. Soc
, vol.47
, pp. 387
-
-
Yi, J.-H.1
Shin, H.2
Park, Y.J.3
Min, H.S.4
Lee, S.-D.5
Ahn, J.-H.6
-
4
-
-
0027591522
-
-
S. Aritome, R. Shirota, G. Hemink, T. Endoh and F. Masuoka, Proceedings of the IEEE 81, 776 (1993).
-
(1993)
Proceedings of the IEEE
, vol.81
, pp. 776
-
-
Aritome, S.1
Shirota, R.2
Hemink, G.3
Endoh, T.4
Masuoka, F.5
-
5
-
-
38349109461
-
-
Hsinchu, Taiwan
-
C. H. Chen, P. Y. Chiang, S. S. Chung, T. Chen, G. C. Chou and C. H. Chu, Int. Sympo. on VLSI Tech. Sys. Appl. (Hsinchu, Taiwan, 2006), p. T-14.
-
(2006)
Int. Sympo. on VLSI Tech. Sys. Appl
-
-
Chen, C.H.1
Chiang, P.Y.2
Chung, S.S.3
Chen, T.4
Chou, G.C.5
Chu, C.H.6
-
7
-
-
0030165986
-
-
G. V. Groeseneken, I. De Wolf, I. R. Bellens and H. E. Maes, IEEE Trans. Electron Dev. 43, 940 (1996).
-
(1996)
IEEE Trans. Electron Dev
, vol.43
, pp. 940
-
-
Groeseneken, G.V.1
De Wolf, I.2
Bellens, I.R.3
Maes, H.E.4
-
8
-
-
0027680606
-
-
M. Tsuchiyaki, H. Hara, T. Morimoto and H. Iwai, IEEE Trans. Electron Dev. 40, 1768 (1993).
-
(1993)
IEEE Trans. Electron Dev
, vol.40
, pp. 1768
-
-
Tsuchiyaki, M.1
Hara, H.2
Morimoto, T.3
Iwai, H.4
-
9
-
-
0037628110
-
-
Monterey, California
-
H. C. Lai, N. K. Zous, W. J. Tsai, T. C. Lu, W. Tahui, Y. C. King and P. Sam, International Conference on Microelectronic Test Structures (Monterey, California, 2003), p. 99.
-
(2003)
International Conference on Microelectronic Test Structures
, pp. 99
-
-
Lai, H.C.1
Zous, N.K.2
Tsai, W.J.3
Lu, T.C.4
Tahui, W.5
King, Y.C.6
Sam, P.7
-
11
-
-
38349131820
-
-
San Francisco, California
-
C. Friederich, M. Specht, T. Lutz, F. Hofmann, L. Dreeskornfeld, W. Weber, J. Kretz, T. Melde, W. Rosner, E. Landgraf, J. Hartwich, M. Stadele, L. Risch and D. Richter, IEDM Tech. Dig. (San Francisco, California, 2006), p. 37-2.
-
(2006)
IEDM Tech. Dig
, pp. 37-32
-
-
Friederich, C.1
Specht, M.2
Lutz, T.3
Hofmann, F.4
Dreeskornfeld, L.5
Weber, W.6
Kretz, J.7
Melde, T.8
Rosner, W.9
Landgraf, E.10
Hartwich, J.11
Stadele, M.12
Risch, L.13
Richter, D.14
-
12
-
-
0037296050
-
-
I. H. Cho, B. G. Park, J. D. Lee and J. H. Lee, J. Korean Phys. Soc. 42, 233 (2003).
-
(2003)
J. Korean Phys. Soc
, vol.42
, pp. 233
-
-
Cho, I.H.1
Park, B.G.2
Lee, J.D.3
Lee, J.H.4
-
13
-
-
29344462610
-
-
K.-R. Han, K.-H. Park, B.-K. Choi and J.-H. Lee, J. Korean Phys. Soc. 47, 564 (2005).
-
(2005)
J. Korean Phys. Soc
, vol.47
, pp. 564
-
-
Han, K.-R.1
Park, K.-H.2
Choi, B.-K.3
Lee, J.-H.4
-
14
-
-
3042766947
-
-
M. S. Kim, H. T. Kim, S. S. Chi, T. E. Kim, H. T. Shin, K. W. Kang, H. S. Park, D. J. Kim, K. S. Min, D. W. Kang and D. M. Kim, J. Korean Phys. Soc. 43, 878 (2003).
-
(2003)
J. Korean Phys. Soc
, vol.43
, pp. 878
-
-
Kim, M.S.1
Kim, H.T.2
Chi, S.S.3
Kim, T.E.4
Shin, H.T.5
Kang, K.W.6
Park, H.S.7
Kim, D.J.8
Min, K.S.9
Kang, D.W.10
Kim, D.M.11
-
17
-
-
33751043233
-
-
J. B. Choi, S. H. Seo, J. U. Lee, G. C. Kang, S. W. Kim, K. S. Roh, K. Y. Kim, C. H. Lee, S. Y. Lee, H. T. Kim, D. H. Kim, K. S. Min, D. J. Kim, D. W. Kang, J. K. Rhee and D. M. Kim, J. Korean Phys. Soc. 49, 1565 (2006).
-
(2006)
J. Korean Phys. Soc
, vol.49
, pp. 1565
-
-
Choi, J.B.1
Seo, S.H.2
Lee, J.U.3
Kang, G.C.4
Kim, S.W.5
Roh, K.S.6
Kim, K.Y.7
Lee, C.H.8
Lee, S.Y.9
Kim, H.T.10
Kim, D.H.11
Min, K.S.12
Kim, D.J.13
Kang, D.W.14
Rhee, J.K.15
Kim, D.M.16
|