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Volumn 78, Issue 19, 2008, Pages

Structural transformations from point to extended defects in silicon: A molecular dynamics study

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EID: 56349121532     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.78.193201     Document Type: Article
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    • See EPAPS Document No. E-PRBMDO-78-156839 for configuration files in Rasmol xyz format (atom type, x, y, and z coordinates in angstrom and potential energy in eV). For more information on EPAPS, see http://www.aip.org/pubservs/ epaps.html.
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.