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Volumn 76, Issue 3, 2000, Pages 321-323

Transition from small interstitial clusters to extended {311} defects in ion-implanted Si

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EID: 0001412514     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.125733     Document Type: Article
Times cited : (88)

References (15)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.