Space charge limited current measurements on conjugated polymer films using conductive atomic force microscopy

Nano Letters

Volumn 8, Issue 6, 2008, Pages 1602-1609

  Reid, Obadiah G ^a   Munechika, Keiko ^a   Ginger, David S ^a  

^a UNIVERSITY OF WASHINGTON   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AFM; CHARGE-CARRIER MOBILITIES; CONDUCTIVE ATOMIC FORCE MICROSCOPIES; CURRENT-VOLTAGE CURVES; FINITE ELEMENT SIMULATIONS; MOTT-GURNEY LAWS; NANOSTRUCTURED SOLAR CELLS; NM RESOLUTIONS; ORDERS OF MAGNITUDES; PLANAR DEVICES; QUANTITATIVE MEASUREMENTS; SAMPLE GEOMETRIES; SAMPLE THICKNESS; SCALING FACTORS; SEMI-EMPIRICAL; SPACE-CHARGE LIMITED CURRENTS; TIP CONTACTS;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CARRIER MOBILITY; CONDUCTING POLYMERS; CONDUCTIVE FILMS; ELECTRIC CURRENT MEASUREMENT; LAWS AND LEGISLATION; PLASTIC FILMS; THIN FILM TRANSISTORS;

POLYMER FILMS;

POLYMER;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMICAL MODEL; CHEMISTRY; COMPUTER SIMULATION; ELECTROMAGNETIC FIELD; IMPEDANCE; MATERIALS TESTING; METHODOLOGY; SEMICONDUCTOR;

COMPUTER SIMULATION; ELECTRIC IMPEDANCE; ELECTROMAGNETIC FIELDS; MATERIALS TESTING; MICROSCOPY, ATOMIC FORCE; MODELS, CHEMICAL; POLYMERS; SEMICONDUCTORS;

EID: 48449099400     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl080155l     Document Type: Article

References (49)

1. Shaheen, S. E.; Ginley, D. S.; Jabbour, G. E. MRS Bull. 2005, 30 (1), 10-19.
2. Nelson, J. Science 2001, 293 (5532), 1059-1060.
3. Kelley, T. W.; Baude, P. F.; Gerlach, C; Ender, D. E.; Muyres, D.; Haase, M. A.; Vogel, D. E.; Theiss, S. D. Chem. Mater. 2004, 16 (23), 4413-4422.
4. Sirringhaus, H.; Tessler, N.; Friend, R. H. Science 1998, 280 (5370), 1741-1744.
5. Mayer, A. C.; Scully, S. R.; Hardin, B. E.; Rower, M. W.; McGehee, M. D. Materials Today 2007, 10 (11), 28-33.
6. Shaheen, S. E.; Brabec, C. J.; Sariciftci, N. S.; Padinger, F.; Fromherz, T.; Hummelen, J. C. Appl. Phys. Lett. 2001, 78 (6), 841-843.
7. Kim, Y.; Choulis, S. A.; Nelson, J.; Bradley, D. D. C.; Cook, S.; Durrant, J. R. Appl. Phys. Lett. 2005, 86 (6).
8. Ma, W. L.; Yang, C. Y.; Gong, X.; Lee, K.; Heeger, A. J. Adv. Funct. Mater. 2005, 15 (10), 1617-1622.
9. Li, G.; Shrotriya, V.; Huang, J. S.; Yao, Y.; Moriarty, T.; Emery, K.; Yang, Y. Nat. Mater. 2005, 4 (11), 864-868.
10. Coakley, K. M.; McGehee, M. D. Chem. Mater. 2004, 16 (23), 4533-4542.
11. Sirringhaus, H.; Wilson, R. J.; Friend, R. H.; Inbasekaran, M.; Wu, W.; Woo, E. P.; Grell, M.; Bradley, D. D. C. Appl. Phys. Lett. 2000, 77 (3), 406-408.
12. Shi, Y.; Liu, J.; Yang, Y. J. Appl. Phys. 2000, 87 (9), 4254-4263.
13. Blom, P. W. M.; Mihailetchi, V. D.; Koster, L. J. A.; Markov, D. E. Adv. Mater. 2007, 19, 1551-1566.
14. Blom, P. W. M.; de Jong, M. J. M.; Liedenbaum, C. Polym. Adv. Technol. 1998, 9 (7), 390-401.
15. Smits, E. C. P.; Mathijssen, S. G. J.; Colle, M.; Mank, A. J. G.; Bobbert, P. A.; Blom, P. W. M.; de Boer, B.; de Leeuw, D. M. Phys. Rev. B 2007, 76 (12), 125202. (1-5)
16. Marsh, R. A.; Groves, C; Greenham, N. C. J. Appl. Phys. 2007, 101 (8), 083509. (1-7)
17. Rappaport, N.; Solomesch, O.; Tessler, N. J. Appl. Phys. 2006, 99 (6), 064507. (1-5)
18. Rappaport, N.; Bar, Y.; Solomeshch, O.; Tessler, N. Appl. Phys. Lett. 2006, 89 (25), 252117. (1-3)
19. Frost, J. M.; Cheynis, F.; Tuladhar, S. M.; Nelson, J. Nano Lett. 2006, 6 (8), 1674-1681.
20. Athanasopoulos, S.; Kirkpatrick, J.; Martinez, D.; Frost, J. M.; Foden, C. M.; Walker, A. B.; Nelson, J. Nano Lett. 2007, 7 (6), 1785-1788.
21. Coffey, D. C.; Ginger, D. S. Nat. Mater. 2006, 5 (9), 735-740.
22. Chiesa, M.; Burgi, L.; Kim, J. S.; Shikler, R.; Friend, R. H.; Sirringhaus, H. Nano Lett. 2005, 5 (4), 559-563.
23. Hoppe, H.; Glatzel, T.; Niggemann, M.; Hinsch, A.; Lux-Steiner, M. C; Sariciftci, N. S. Nano Lett. 2005, 5 (2), 269-274.
24. Silveira, W. R.; Marohn, J. A. Phys. Rev. Lett. 2004, 93 (11), 116104. (1-4)
25. Kemerink, M.; Alvarado, S. F.; Muller, P.; Koenraad, P. M.; Salemink, H. W. M.; Wolter, J. H.; Janssen, R. A. J. Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2004, 70 (4), 045202. (1-13)
26. Kemerink, M.; Timpanaro, S.; de Kok. M. M.; Meulenkamp, E. A.; Touwslager, F. J. J. Phys. Chem. B 2004, 108 (49), 18820-18825.
27. Nardes, A. M.; Kemerink, M.; Janssen, R. A. J.; Bastiaansen, J. A. M.; Kiggen, N. M. M.; Langeveld, B. M. W.; van Breemen, A.; de Kok, M. M. Adv. Mater. 2007, 19 (9), 1196-1200.
28. Pingree, L. S. C.; Hersam, M. C.; Kern, M. M.; Scott, B. J.; Marks, T. J. Appl. Phys. Lett. 2004, 85 (2), 344-346.
29. Lin, H. N.; Lin, H. L.; Wang, S. S.; Yu, L. S.; Perng, G. Y.; Chen, S. A.; Chen, S. H. Appl. Phys. Lett. 2002, 81 (14), 2572-2574.
30. Liau, Y. H.; Scherer, N. F.; Rhodes, K. J. Phys. Chem. B 2001, 105 (16), 3282-3288.
31. Ionescu-Zanetti, C.; Mechler, A.; Carter, S. A.; Lal, R. Adv. Mater. 2004, 16 (5), 385-389.
32. Alexeev, A.; Loos, J.; Koetse, M. M. Ultramicroscopy 2006, 106 (3), 191-199.
33. Douheret, O.; Lutsen, L.; Swinnen, A.; Breselge, M.; Vandewal, K.; Goris, L.; Manca, J. Appl. Phys. Lett. 2006, 89 (3), 032107. (1-3)
34. Douheret, O.; Swinnen, A.; Breselge, M.; Van Severen, I.; Lutsen, L.; Vanderzande, D.; Manca, J. Microelectron. Eng. 2007, 84 (3), 431-436.
35. (a) Coffey, D. C.; Ginger, D. S. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127 (13), 4564-4565.
36. (b) Coffey, D. C.; Reid, O. G.; Rodovsky, D. B.; Bartholomew, G. P.; Ginger, D. S. Nano Lett. 2007, 7, 738-744.
37. (c) Pingree, L. S. C.; MacLeod, B. A.; Ginger, D. S. J. Phys. Chem. C ASAP Article, DOI: 10.1021/jp711838h.
38. Yang, R. Q.; Garcia, A.; Korystov, D.; Mikhailovsky, A.; Bazan, G. C.; Nguyen, T. Q. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128 (51), 16532-16539.
39. Goh, C.Q; Kline, R. J.; McGehee, M. D.; Kadnikova, E. N.; Frechet, J. M. J. Appl. Phys. Lett. 2005, 86 (12), 122110. (1-3)
40. Mozer, A. J.; Sariciftci, N. S. Chem. Phys. Lett. 2004, 389 (4-6), 438-442.
41. Blom, P. W. M.; deJong, M. J. M.; vanMunster, M. G. Phys. Rev. B 1997, 55 (2), R656-R659.
42. Tanase, C.; Blom, P. W. M.; de Leeuw, D. M. Phys. Rev. B 2004, 70 (19), 193202. (1-4)
43. Murgatroyd, P. N. J. Phys. D: Appl. Phys. 1970, 3 (2), 151-157.
44. Pasveer, W. F.; Cottaar, J.; Tanase, C.; Coehoorn, R.; Bobbert, P. A.; Blom, P. W. M.; de Leeuw, D. M.; Michels, M. A. J. Phys. Rev. Lett. 2005, 94 (20), 206601. (1-4)
45. Hare, R. W.; Hill, R. M. J. Phys. D: Appl. Phys. 1991, 24 (3), 398-406.
46. Atten, P.; Adamiak, K.; Khaddour, B.; Coulomb, J. L. J. Optoelectron. Adv. Mater. 2004, 6 (3), 1023-1028.
47. Grinberg, A. A.; Luryi, S.; Pinto, M. R.; Schryer, N. L. IEEE Trans. Electron Devices 1989, 36 (6), 1162-1170.
48. Blom, P. W. M.; deJong, M. J. M.; Vleggaar, J. J. M. Appl. Phys. Lett. 1996, 68 (23), 3308-3310.
49. Miyauchi, S.; Kondo, T.; Oshima, K.; Yamauchi, T.; Shimomura, M.; Mitomo, H. J. Appl. Polym. Sci. 2002, 85 (7), 1429-1433.