Carbon nanotubes as reinforcement elements of composite nanotools

Nano Letters

Volumn 8, Issue 3, 2008, Pages 842-847

  Nakabayashi, D ^a,b   Moreau, A L D ^b   Coluci, V R ^b   Galvao D S ^b   Cotta, M A ^b   Ugarte, D ^a,b  

^a LABORATÓRIO NACIONAL DE LUZ SÍNCROTRON   (Brazil)

^b UNIVERSITY OF CAMPINAS   (Brazil)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ASPECT RATIO; CARBON NANOTUBES; ELECTRIC PROPERTIES; IMAGE RESOLUTION; METALLIC MATRIX COMPOSITES; MICROMANIPULATORS; MOLECULAR DYNAMICS; NANOSYSTEMS; PHOTORESISTS; PRESSURE DROP; REINFORCEMENT; VIBRATIONS (MECHANICAL);

AFM PROBES; AMORPHOUS CARBON MATRIXES; C-C COMPOSITES; CNT TIPS; COMPOSITE BEAMS; ELECTRICAL PROPERTIES; HIGH-ASPECT-RATIO TIPS; MATERIAL SCIENCE; MECHANICAL RESPONSE; MOLECULAR DYNAMICS SIMULATIONS; NANO MANIPULATIONS; NANO MANIPULATORS; NANO-TOOLS; REINFORCED CARBON CARBONS;

AMORPHOUS CARBON;

CARBON NANOTUBE;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMISTRY; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; ULTRASTRUCTURE;

MICROSCOPY, ATOMIC FORCE; MICROSCOPY, ELECTRON, SCANNING; NANOTUBES, CARBON;

EID: 43149107700     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl0729633     Document Type: Article

References (37)

1. Yu, M. F.; Lourie, O.; Dyer, M. J.; Moloni, K.; Kelly, T. F.; Ruoff, R. S. Science 2000, 287, 637.
2. Kim, K. S.; Lim, S. C.; Lee, I. B.; Na, K. H.; Bae, D. J.; Choi, S; Yoo, J.-E.; Lee, Y. H. Rev. Sci. Instrum. 2003, 74, 4021.
3. St. Fahlbusch, S.; Mazerolle, J.- M.; Breguet, A.; Steinecker, J.; Agnus, R.; Pérez, J.; Michler, J. Mater. Process. Tech. 2005, 167, 371.
4. Nakabayashi, D.; Silva, P. C.; González, J. C.; Rodrigues, V.; Ugarte, D. Microsc. Microanal. 2006, 12, 311.
5. Matsuda, I.; Ueno, M.; Hirahara, T.; Hobara, H.; Morikawa, H.; Liu, C.; Hasegawa, S. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 236801.
6. Guise, O.; Marbach, H.; Yates, J. T., Jr.; Jung, M.-C.; Levy, J.; Levy, J. Rev. Sci. Instrum. 2005, 76, 045107.
7. Lin, X.; He, X. B.; Yang, T. Z.; Guo, W.; Shi, D. X.; Gao, H.-J.; Ma, D. D. D.; Lee, S. T.; Liu, F.; Xie, X. C. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 043103.
8. Walton, A. S.; Allen, C. S.; Critchley, K.; Górzny, M L.; McKendry, J. E.; Brydson, R. M. D.; Hickey, B. J.; Evans, S. D. Nanotechnology 2007, 18, 065204.
9. Junno, T.; Carlsson, S.-B.; Hongqi, X.; Monterais, L.; Samuelson, L. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 548.
10. Falvo, M. R.; Clary, G. J.; Taylor, R. M., II; Chi, V.; Brooks, F. P., Jr.; Washburn, S.; Superfine, R. Nature 1997, 389, 5827.
11. Nakabayashi, D.; Silva, P. C.; Ugarte, D. Appl. Surf. Sci. 2007, 254, 405.
12. Iijima, S. Nature 1991, 354, 56.
13. Konishi, H.; Murata, Y.; Wongwiriyapan, W.; Kishida, M.; Tomita, K.; Motoyoshi, K.; Honda, S.; Yoshimoto, S.; Kubo, K.; Hobara, R.; Matsuda, I.; Hasegawa, S.; Yoshimura, M.; Lee, J.-G.; Mori, H.; Katayama, M. Rev. Sci. Instrum. 2007, 78, 013703.
14. Yoshimoto, S.; Murata, Y.; Kubo, K.; Tomita, K.; Motoyoshi, K.; Kimura, T.; Okino, H.; Hobara, R.; Matsuda, I.; Honda, S.; Katayama, M.; Hasegawa, S. Nano Lett. 2007, 7, 956.
15. Nakabayashi, D.; Silva, P. C.; Ugarte, D. Int. J. Nanotechnol. 2007, 4, 609.
16. Poncharal, P.; Wang, Z. L.; Ugarte, D.; de Heer, W. A. Science 1999, 283, 1513.
17. Treacy, M. M.; Ebbesen, T. W.; Gibson, J. M. Nature 1996, 38, 678.
18. www.nano.gov/NNI-Instrumentation-Metrology-rpt.pdf
19. Callister, W. D., Jr.; Materials Science and Engineering: An Introduction, 6th ed.; John Wiley & Sons: Hoboken NJ, 2003.
20. Akama, Y.; Nishimura, E.; Sakai, A.; Murakami, H. J. Vac. Sci. Technol., A 1990, 8, 429.
21. Wendel, M.; Lorenz, H.; Kotthauss, J. P. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 3732.
22. Chen, X; Zhang, S.; Dikin, D. A.; Ding, W.; Ruoff, R. S. Nano Lett. 2003, 3, 1299.
23. Ding, W.; Dikin, D. A.; Chen, X.; Piner, R. D.; Ruoff, R. S.; Zussman, E.; Wang, X.; Li, X. J. Appl. Phys. 2005, 98, 014905.
24. Chen, X. Q.; Zhang, S. L.; Dikin, D. A.; Ding, W. Q.; Ruoff, R. S.; Pan, L. J.; Nakayama, Y. Nano Lett. 2003, 3, 1299-1304.
25. Hoffmann, S.; Utke, I.; Moser, B.; Michler, J.; Christiansen, S. H.; Schmidt, V.; Senz, S.; Werner, P.; Gösele, U.; Ballif, C Nano Lett. 2006, 6, 622.
26. Rong, W.; Ding, W.; Maldler, L.; Ruoff, R. S.; Friedlander, S. K. Nano Lett. 2006, 6, 2646.
27. Stuart, S. J.; Tutein, A. B.; Harrison, J. A. J. Chem. Phys. 2000, 112, 6472.
28. Brenner, D. W. Phys. Rev. B 1990, 42, 9458.
29. Yakobson, B. I.; Brabec, C. J.; Bernholc, J. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 2511.
30. Garg, A.; Han, J.; Sinnott, S. B. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 2260.
31. Berendsen, H. J. C. J. Chem. Phys. 1984, 81, 3684.
32. Allen, M. P.; Tildesley, D. J. Computer Simulation of Liquids; Oxford University Press: New York, 1987.
33. Inman, D. J. Engineering Vibration: Prentice Hall: Upper Saddle River, NJ, 2000.
34. Dai, H. J.; Hafner, J. H.; Rinzler, A. G.; Colbert, D. T.; Smalley, R. E. Nature 1996, 384, 147.
35. Bortoleto, J. R. R.; Gutiérrez, H. R.; Bettini, J.; Cotta, M. A. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 013105.
36. Gutiérrez, H. R.; Nakabayashi, D.; Silva, P. C.; Bortoleto, J. R. R.; Rodrigues, V.; Clerici, J. H.; Cotta, M. A.; Ugarte, D. Phys. Status Solidi A 2004, 201, 888.
37. Bortoleto, J. R. R.; Zelcovit, J. G.; Gutiérrez, H. R.; Bettini, J.; Cotta, M. A. Nanotechnology 2008, 19, 015601.