-
2
-
-
0034714187
-
-
Meyer, R. R.; Sloan, J.; Dunin-Borkowski, R. E.; Kirkland, A. I.; Novotny, M. C.; Bailey, S. R.; Hutchison, J. L.; Green, M. L. H. Science 2000, 289, 1324-1326.
-
(2000)
Science
, vol.289
, pp. 1324-1326
-
-
Meyer, R.R.1
Sloan, J.2
Dunin-Borkowski, R.E.3
Kirkland, A.I.4
Novotny, M.C.5
Bailey, S.R.6
Hutchison, J.L.7
Green, M.L.H.8
-
3
-
-
33748593098
-
-
Li, Y.; Qian, F.; Xiang, J.; Lieber, C. M. Mater. Today 2006, 9, 18-27.
-
(2006)
Mater. Today
, vol.9
, pp. 18-27
-
-
Li, Y.1
Qian, F.2
Xiang, J.3
Lieber, C.M.4
-
6
-
-
36749058669
-
E-Beam Nanolithography Integrated with Scanning Electron Microscope
-
Zhou, W, Wang, Z. L, Eds, Springer: Berlin
-
Nabity, J.; Campbell, L. A.; Zhu, M.; Zhou, W. E-Beam Nanolithography Integrated with Scanning Electron Microscope. In Scanning Microscopy for Nanotechnology; Zhou, W., Wang, Z. L., Eds.; Springer: Berlin, 2007; pp 120-151.
-
(2007)
Scanning Microscopy for Nanotechnology
, pp. 120-151
-
-
Nabity, J.1
Campbell, L.A.2
Zhu, M.3
Zhou, W.4
-
8
-
-
9644282924
-
-
Gopal, V.; Radmilovic, V. R.; Daraio, C.; Jin, S.; Yang, P. D.; Stach, E. A. Nano Lett. 2004, 4, 2059-2063.
-
(2004)
Nano Lett
, vol.4
, pp. 2059-2063
-
-
Gopal, V.1
Radmilovic, V.R.2
Daraio, C.3
Jin, S.4
Yang, P.D.5
Stach, E.A.6
-
9
-
-
33750206624
-
-
Randolph, S. J.; Fowlkes, J. D.; Rack, P. D. Crit. Rev. Solid State Mater. Sci. 2006, 31, 55-89.
-
(2006)
Crit. Rev. Solid State Mater. Sci
, vol.31
, pp. 55-89
-
-
Randolph, S.J.1
Fowlkes, J.D.2
Rack, P.D.3
-
10
-
-
0033341712
-
-
Cholet, S.; Joachim, C.; Martinez, J. P.; Rousset, B. Eur. Phys. J.: Appl. Phys. 1999, 8, 139-145.
-
(1999)
Eur. Phys. J.: Appl. Phys
, vol.8
, pp. 139-145
-
-
Cholet, S.1
Joachim, C.2
Martinez, J.P.3
Rousset, B.4
-
11
-
-
0037695920
-
Luttinger liquid behavior in metallic carbon nanotubes
-
Haug, R, Schoeller, H, Eds, Springer: Berlin
-
Egger, R.; Bachtold, A.; Fuhrer, M. S.; Bockrath, M.; Cobden, D. H.; McEuen, P. L. Luttinger liquid behavior in metallic carbon nanotubes. In Interacting Electrons in Nanostructures, Haug, R., Schoeller, H., Eds.; Springer: Berlin, 2001; p 125.
-
(2001)
Interacting Electrons in Nanostructures
, pp. 125
-
-
Egger, R.1
Bachtold, A.2
Fuhrer, M.S.3
Bockrath, M.4
Cobden, D.H.5
McEuen, P.L.6
-
12
-
-
4244143835
-
-
Bezryadin, A.; Verschueren, A. R. M.; Tans, S. J.; Dekker, C. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 4036-4039.
-
(1998)
Phys. Rev. Lett
, vol.80
, pp. 4036-4039
-
-
Bezryadin, A.1
Verschueren, A.R.M.2
Tans, S.J.3
Dekker, C.4
-
13
-
-
0242319673
-
-
Zhou, Y. X.; Johnson, A. T.; Hone, J.; Smith, W. F. Nano Lett. 2003, 3, 1371-1374.
-
(2003)
Nano Lett
, vol.3
, pp. 1371-1374
-
-
Zhou, Y.X.1
Johnson, A.T.2
Hone, J.3
Smith, W.F.4
-
14
-
-
0030123746
-
-
Ono, K.; Shimada, H.; Kobayashi, S. I.; Ootuka, Y. Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 1996, 35, 2369-2371.
-
(1996)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.35
, pp. 2369-2371
-
-
Ono, K.1
Shimada, H.2
Kobayashi, S.I.3
Ootuka, Y.4
-
15
-
-
0032606877
-
-
Deshmukh, M. M.; Ralph, D. C.; Thomas, M.; Silcox, J. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 1631-1633.
-
(1999)
Appl. Phys. Lett
, vol.75
, pp. 1631-1633
-
-
Deshmukh, M.M.1
Ralph, D.C.2
Thomas, M.3
Silcox, J.4
-
16
-
-
0038768201
-
-
Luthi, R.; Schlittler, R. R.; Brugger, J.; Vettiger, P.; Welland, M. E.; Gimzewski, J. K. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 1314-1316.
-
(1999)
Appl. Phys. Lett
, vol.75
, pp. 1314-1316
-
-
Luthi, R.1
Schlittler, R.R.2
Brugger, J.3
Vettiger, P.4
Welland, M.E.5
Gimzewski, J.K.6
-
17
-
-
0242333944
-
-
Schwab, A. D.; Smith, D. E.; Rich, C. S.; Young, E. R.; Smith, W. F.; de Paula, J. C. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 11339-11345.
-
(2003)
J. Phys. Chem. B
, vol.107
, pp. 11339-11345
-
-
Schwab, A.D.1
Smith, D.E.2
Rich, C.S.3
Young, E.R.4
Smith, W.F.5
de Paula, J.C.6
-
18
-
-
1542366465
-
-
Rotomskis, R.; Augulis, R.; Snitka, V.; Valiokas, R.; Liedberg, B. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 2833-2838.
-
(2004)
J. Phys. Chem. B
, vol.108
, pp. 2833-2838
-
-
Rotomskis, R.1
Augulis, R.2
Snitka, V.3
Valiokas, R.4
Liedberg, B.5
-
19
-
-
33744494079
-
-
Egger, S.; Higuchi, S.; Nakayama, T. J. Comb. Chem. 2006, 8, 275-279.
-
(2006)
J. Comb. Chem
, vol.8
, pp. 275-279
-
-
Egger, S.1
Higuchi, S.2
Nakayama, T.3
-
20
-
-
12944295089
-
-
Egger, S.; Ilie, A.; Fu, Y. T.; Chongsathien, J.; Kang, D. J.; Welland, M. E. Nano Lett. 2005, 5, 15-20.
-
(2005)
Nano Lett
, vol.5
, pp. 15-20
-
-
Egger, S.1
Ilie, A.2
Fu, Y.T.3
Chongsathien, J.4
Kang, D.J.5
Welland, M.E.6
-
21
-
-
33847656522
-
-
Gross, L.; Schlittler, R. R.; Meyer, G.; Vanhaverbeke, A.; Allenspach, R. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 093121.
-
(2007)
Appl. Phys. Lett
, vol.90
, pp. 093121
-
-
Gross, L.1
Schlittler, R.R.2
Meyer, G.3
Vanhaverbeke, A.4
Allenspach, R.5
-
22
-
-
13744259389
-
-
Zahl, P.; Bammerlin, M.; Meyer, G.; Schlittler, R. R. Rev. Sci. Instrum. 2005, 76, 023707.
-
(2005)
Rev. Sci. Instrum
, vol.76
, pp. 023707
-
-
Zahl, P.1
Bammerlin, M.2
Meyer, G.3
Schlittler, R.R.4
-
23
-
-
20844444306
-
-
Cojocaru, C. V.; Harnagea, C.; Rosei, F.; Pignolet, A.; van den Boogaart, M. A. F.; Brugger, J. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 183107.
-
(2005)
Appl. Phys. Lett
, vol.86
, pp. 183107
-
-
Cojocaru, C.V.1
Harnagea, C.2
Rosei, F.3
Pignolet, A.4
van den Boogaart, M.A.F.5
Brugger, J.6
-
24
-
-
33847616903
-
-
Guo, H. M.; Martrou, D.; Zambelli, T.; Polesel-Maris, J.; Piednoir, A.; Dujardin, E.; Gauthier, S.; van den Boogaart, M. A. F.; Doeswijk, L. M.; Brugger, J. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 093113.
-
(2007)
Appl. Phys. Lett
, vol.90
, pp. 093113
-
-
Guo, H.M.1
Martrou, D.2
Zambelli, T.3
Polesel-Maris, J.4
Piednoir, A.5
Dujardin, E.6
Gauthier, S.7
van den Boogaart, M.A.F.8
Doeswijk, L.M.9
Brugger, J.10
-
25
-
-
21644435626
-
-
Persaud, A.; Park, S. J.; Liddle, J. A.; Schenkel, T.; Bokor, J.; Rangelow, I. W. Nano Lett. 2005, 5, 1087-1091.
-
(2005)
Nano Lett
, vol.5
, pp. 1087-1091
-
-
Persaud, A.1
Park, S.J.2
Liddle, J.A.3
Schenkel, T.4
Bokor, J.5
Rangelow, I.W.6
-
26
-
-
21144450188
-
-
Mutzel, M.; Muller, M.; Haubrich, D.; Rasbach, U.; Meschede, D.; O'Dwyer, C.; Gay, G.; De Lesegno, B. V.; Weiner, J.; Ludolph, K.; Georgiev, G.; Oesterschulze, E. Appl. Phys. B: -Lasers Opt. 2005, 80, 941-944.
-
(2005)
Appl. Phys. B: -Lasers Opt
, vol.80
, pp. 941-944
-
-
Mutzel, M.1
Muller, M.2
Haubrich, D.3
Rasbach, U.4
Meschede, D.5
O'Dwyer, C.6
Gay, G.7
De Lesegno, B.V.8
Weiner, J.9
Ludolph, K.10
Georgiev, G.11
Oesterschulze, E.12
-
27
-
-
3843119792
-
-
Lavrik, N. V.; Sepaniak, M. J.; Datskos, P. G. Rev. Sci. Instrum. 2004, 75, 2229-2253.
-
(2004)
Rev. Sci. Instrum
, vol.75
, pp. 2229-2253
-
-
Lavrik, N.V.1
Sepaniak, M.J.2
Datskos, P.G.3
-
28
-
-
0039403201
-
-
Thundat, T.; Oden, P. I.; Warmack, R. J. Microscale Thermophys. Eng. 1997, 1, 185-199.
-
(1997)
Microscale Thermophys. Eng
, vol.1
, pp. 185-199
-
-
Thundat, T.1
Oden, P.I.2
Warmack, R.J.3
-
29
-
-
8744270531
-
-
Buttiker, M.; Imry, Y.; Landauer, R.; Pinhas, S. Phys. Rev. B 1985, 31, 6207-6215.
-
(1985)
Phys. Rev. B
, vol.31
, pp. 6207-6215
-
-
Buttiker, M.1
Imry, Y.2
Landauer, R.3
Pinhas, S.4
-
30
-
-
0042991275
-
-
Javey, A.; Guo, J.; Wang, Q.; Lundstrom, M.; Dai, H. J. Nature 2003, 424, 654-657.
-
(2003)
Nature
, vol.424
, pp. 654-657
-
-
Javey, A.1
Guo, J.2
Wang, Q.3
Lundstrom, M.4
Dai, H.J.5
-
31
-
-
0345550389
-
-
Mann, D.; Javey, A.; Kong, J.; Wang, Q.; Dai, H. J. Nano Lett. 2003, 3, 1541-1544.
-
(2003)
Nano Lett
, vol.3
, pp. 1541-1544
-
-
Mann, D.1
Javey, A.2
Kong, J.3
Wang, Q.4
Dai, H.J.5
-
32
-
-
5444249586
-
-
Bachtold, A.; Fuhrer, M. S.; Plyasunov, S.; Forero, M.; Anderson, E. H.; Zettl, A.; McEuen, P. L. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 6082-6085.
-
(2000)
Phys. Rev. Lett
, vol.84
, pp. 6082-6085
-
-
Bachtold, A.1
Fuhrer, M.S.2
Plyasunov, S.3
Forero, M.4
Anderson, E.H.5
Zettl, A.6
McEuen, P.L.7
-
33
-
-
33748569105
-
-
Kitahama, Y.; Kimura, Y.; Takazawa, K. Langmuir 2006, 22, 7600-7604.
-
(2006)
Langmuir
, vol.22
, pp. 7600-7604
-
-
Kitahama, Y.1
Kimura, Y.2
Takazawa, K.3
-
34
-
-
4143048970
-
-
Schwab, A. D.; Smith, D. E.; Bond-Watts, B.; Johnston, D. E.; Hone, J.; Johnson, A. T.; de Paula, J. C.; Smith, W. F. Nano Lett. 2004, 4, 1261-1265.
-
(2004)
Nano Lett
, vol.4
, pp. 1261-1265
-
-
Schwab, A.D.1
Smith, D.E.2
Bond-Watts, B.3
Johnston, D.E.4
Hone, J.5
Johnson, A.T.6
de Paula, J.C.7
Smith, W.F.8
-
35
-
-
13244279809
-
-
van den Boogaart, M. A. F.; Kim, G. M.; Pellens, R.; van den Heuvel, J. P.; Brugger, J. J. Vac. Sci. Technol. B 2004, 22, 3174-3177.
-
(2004)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.22
, pp. 3174-3177
-
-
van den Boogaart, M.A.F.1
Kim, G.M.2
Pellens, R.3
van den Heuvel, J.P.4
Brugger, J.5
-
36
-
-
33751427873
-
-
Lishchynska, M.; Bourenkov, V.; van den Boogaart, M. A. F.; Doeswijk, L.; Brugger, J.; Greer, J. C. Microelectron. Eng. 2007, 84, 42-53.
-
(2007)
Microelectron. Eng
, vol.84
, pp. 42-53
-
-
Lishchynska, M.1
Bourenkov, V.2
van den Boogaart, M.A.F.3
Doeswijk, L.4
Brugger, J.5
Greer, J.C.6
|