Nanoscale mapping of strain and composition in quantum dots using Kelvin probe force microscopy

Nano Letters

Volumn 7, Issue 7, 2007, Pages 2089-2093

  Shusterman, S ^a   Raizman, A ^a   Sher, A ^a   Parltiel, Y ^a   Schwarzman, A ^b   Lepkifker, E ^b   Rosenwaks, Y ^b  

^a Electro Optics Division   (Israel)

^b TEL AVIV UNIVERSITY   (Israel)

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FUNCTION EVALUATION; PARAMETER ESTIMATION; SEMICONDUCTING INDIUM COMPOUNDS; STRAIN;

KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY; NANOSCALE MAPPING;

SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS;

EID: 34547620653     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl071031w     Document Type: Article

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