Quantitative theory for the imaging of conducting objects in electrostatic force microscopy

Applied Physics Letters

Volumn 89, Issue 17, 2006, Pages

  Sacha, G M ^a   Gomez Navarro C ^b   Saenz J J ^b   Gomez Herrero J ^b  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b NONE

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CANTILEVER BEAMS; ELECTRIC CHARGE; NANOTUBES; NUMERICAL ANALYSIS; OSCILLATIONS;

ELECTROSTATIC FORCE MICROSCOPY; ISOLATED NANOTUBES; METALLIC OBJECTS;

ELECTRIC FIELDS;

EID: 33750487454     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2364862     Document Type: Article

References (26)

1. B. D. Terris, J. E. Stern, D. Rugar, and H. J. Mamin, Phys. Rev. Lett. 63, 2662 (1989).
2. Y. Martin, D. W. Abraham, and H. K. Wickramasinghe, Appl. Phys. Lett. 52, 1103 (1988).
3. C. Schönenberger and S. F. Alvarado, Phys. Rev. Lett. 65, 3162 (1990).
4. J. Hu, X. D. Xiao, D. F. Ogletree, and M. Salmerón, Science 268, 267 (1995).
5. A. Verdaguer, G. M. Sacha, H. Bluhm, and M. Salmeron, Chem. Rev. (Washington, D.C.) 106, 1478 (2006).
6. S. Gómez-Moivas, J. J. Sáenz, M. Calleja, and R. García, Phys. Rev. Lett. 91, 56101 (2003).
7. A. Batchold, M. S. Fuhrer, S. Plyasunov, M. Forero, E. H. Anderson, A. Zettl, and P. L. McEuen, Phys. Rev. Lett. 84, 6082 (2000).
8. M. Bockrath, N. Markovic, A. Sheppard, L. Gurevich, L. Kouwenhoven, M. Wu, and L. Sohn, Nano Lett. 2, 187 (2002).
9. C. Gómez-Navarro, F. Moreno-Herrero, P. J. de Pablo, J. Colchero, J. Gómez-Herrero, and A. M. Baró, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 99, 8484 (2002).
10. M. Paillet, P. Poncharal, and A. Zahab, Phys. Rev. Lett. 94, 186801 (2005).
11. D. Bozovic, M. Bockrath, J. H. Hafner, C. M. Lieber, H. Park, and M. Tinkham, Phys. Rev. B 67, 033407 (2003).
12. E. Tevaarwerk, D. G. Keppel, P. Rugheimer, M. G. Lagally, and M. A. Eriksson, Rev. Sci. Instrum. 76, 053707 (2005).
13. H. W. Hao, A. M. Baró, and J. J. Sáenz, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 1323 (1991).
14. S. Belaidi, P. Girard, and G. Leveque, J. Appl. Phys. 81, 1023 (1997).
15. M. Saint-Jean, S. Hudlet, C. Guthmann, and J. Berger, J. Appl. Phys. 86, 5245 (1999).
16. S. Gómez-Moivas, L. S. Froufe, A. J. Caamao, and J. J. Sáenz, Appl. Phys. Lett. 79, 4048 (2001).
17. S. Gómez-Moivas, L. S. Froufe, R. Carminati, J. J. Greffet, and J. J. Sáenz, Nanotechnology 12, 496 (2001).
18. G. M. Sacha and J. J. Sáenz, Appl. Phys. Lett. 85, 2610 (2004).
19. S. Gómez-Moivas, J. J. Sáenz, R. Carminati, and J. J. Greffet, Appl. Phys. Lett. 76, 2955 (2000).
20. G. Mesa, E. Dobado-Fuentes, and J. J. Sáenz, J. Appl. Phys. 79, 39 (1996).
21. G. M. Sacha, A. Verdaguer, J. Martinez, J. J. Sáenz, D. F. Ogletree, and M. Salmeron, Appl. Phys. Lett. 86, 123101 (2005).
22. W. R. Smythe, Static and Dynamic Electricity (McGraw-Hill, New York, 1968).
23. AFM images are processed using WSXM free software, downloadable at www.nanotec.es
24. C. P. Green, H. Lioe, J. P. Cleveland, R. Proksch, P. Mulvaney, and J. E. Sader, Rev. Sci. Instrum. 75, 1988 (2004).
25. P. J. de Pablo, M. T. Martínez, J. Colchero, J. Gomez-Herrero, W. K. Maser, A. M. Benito, E. Muoz, and A. M. Baró, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 12, 573 (2000).
26. C. Gomez-Navarro, A. Gil, M. Alvarez, P. J. de Pablo, F. Moreno-Herrero, I. Horcas, R. Fernandez-Sanchez, J. Colchero, J. Gomez-Herrero, and A. M. Baro, Nanotechnology 13, 314 (2002).