N- and P-channel transport behavior in thin film transistors based on tricyanovinyl- capped oligothiophenes

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 30, 2006, Pages 14590-14597

  Cai, Xiuyu ^a   Burand, Michael W ^a   Newman, Christopher R ^a   Da Silva Filho, Demetrio A ^b   Pappenfus, Ted M ^c   Bader, Mamoun M ^d   Brédas, Jean Luc ^b   Mann, Kent R ^a   Frisbie, C Daniel ^a  

^a University of Minnesota   (United States)

^b GEORGIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (United States)

^c UNIVERSITY OF MINNESOTA   (United States)

^d PENNSYLVANIA STATE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CYCLIC VOLTAMMETRY; ELECTRIC RESISTANCE; SEMICONDUCTING ORGANIC COMPOUNDS; TRANSPORT PROPERTIES; X RAY DIFFRACTION;

CHANNEL TRANSPORT; CONTACT RESISTANCE; ELECTRON-WITHDRAWING TRICYANOVINYL (TCV); OLIGOTHIOPHENES;

THIN FILM TRANSISTORS;

EID: 33748297544     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp061168v     Document Type: Article

References (47)

1. Katz, H. E., Dodabalapur, A., Bao, Z., Eds. Handbook of Oligo-and Polythiophenes; Wiley-VCH: Weinheim, Germany, 1999; p 459.
2. Locklin, J.; Li, D.; Mannsfeld, S. C. B.; Borkent, E.-J.; Meng, H.; Advincula, R.; Bao, Z. Chem. Mater. 2005, 17, 3366-3374.
3. Facchetti, A.; Letizia, J.; Yoon, M.-H.; Mushrush, M.; Katz, H. E.; Marks, T. J. Chem. Mater. 2004, 16, 4715-4727.
4. Nenajdenko, V. G.; Sumerin, V. V.; Chernichenko, K. Y.; Balenkova, E. S. Org. Lett. 2004, 6, 3437-3439.
5. Chang, P. C.; Lee, J.; Huang, D.; Subramanian, V.; Murphy, A. R.; Frechet, J. M. J. Chem. Mater. 2004, 16, 4783-4789.
6. Johansson, E.; Larsson, S. Synth. Met. 2004, 144, 183-191.
7. Ruiz Delgado, M. C.; Casado, J.; Hernandez, V.; Lopez Navarrete, J. T.; Fuhrmann, G.; Baeuerle, P. J. Phys. Chem., B 2004, 108, 3158-3167.
8. Meinardi, F.; Cerminara, M.; Blumstengel, S.; Sassella, A.; Borghesi, A. ; Tubino, R. Phys. Rev. B 2003, 67, 184205/184201-184205/ 184206.
9. Facchetti, A.; Mushrush, M.; Katz, H. E.; Marks, T. J. Adv. Mater. 2003, 15, 33-38.
10. Meng, H.; Zheng, J.; Lovinger, A. J.; Wang, B.-C.; Van Patten, P. G.; Bao, Z. Chem. Mater. 2003, 15, 1778-1787.
11. Deman, A. L.; Tardy, J.; Nicolas, Y.; Blanchard, P.; Roncali, J. Synth. Met. 2004, 146, 365-371.
12. Halik, M.; Klauk, H.; Zschieschang, U.; Schmid, G.; Ponomarenko, S.; Kirchmeyer, S.; Weber, W. Adv. Mater. 2003, 15, 917-922.
13. Fichou, D. J. Mater. Chem. 2000, 10, 571-588.
14. Mohapatra, S.; Holmes, B. T.; Newman, C. R.; Prendergast, C. F.; Frisbie, C. D.; Ward, M. D. Adv. Funct. Mater. 2004, 14, 605-609.
15. Newman, C. R.; Frisbie, C. D.; da Silva Filho, D. A.; Brédas, J.-L.; Ewbank, P. C.; Mann, K. R. Chem. Mater. 2004, 16, 4436-4451.
16. Facchetti, A.; Yoon, M.-H.; Katz, H. E.; Mushrush, M.; Marks, T. J. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 2003, 771, 397-402.
17. Facchetti, A.; Yoon, M.-H.; Stern, C. L.; Hutchison, G. R.; Ratner, M. A.; Marks, T. J. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 13480-13501.
18. Facchetti, A.; Yoon, M.-H.; Stern, C. L.; Katz, H. E.; Marks, T. J. Angew. Chem., Int. Ed. 2003, 42, 3900-3903.
19. Yoon, M.-H.; DiBenedetto, S. A.; Facchetti, A.; Marks, T. J. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 1348-1349.
20. Chesterfield, R. J.; Newman, C. R.; Pappenfus, T. M.; Ewbank, P. C.; Haukaas, M. H.; Mann, K. R.; Miller, L. L.; Frisbie, C. D. Adv. Mater. 2003, 15, 1278-1282.
21. Pappenfus, T. M.; Chesterfield, R. J.; Frisbie, C. D.; Mann, K. R.; Casado, J.; Raff, J. D.; Miller, L. L. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 4184-4185.
22. Bader, M. M.; Custelcean, R.; Ward, M. D. Chem. Mater. 2003, 15, 616-618.
23. Pappenfus, T. M.; Burand, M. W.; Janzen, D. E.; Mann, K. R. Org. Lett. 2003, 5, 1535-1538.
24. Barclay, T. M.; Cordes, A. W.; MacKinnon, C. D.; Oakley, R. T.; Reed, R. W. Chem. Mater. 1997, 9, 981-990.
25. Janzen, D. E.; Burand, M. W.; Ewbank, P. C.; Pappenfus, T. M.; Higuchi, H.; da Silva Filho, D. A.; Young, V. G.; Brédas, J.-L.; Mann, K. R. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 15295-15308.
26. Graf, D. D.; Duan, R. G.; Campbell, J. P.; Miller, L. L.; Mann, K. R. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 5888-5899.
27. Becke, A. D. Phys. Rev. A 1988, 38, 3098-3100.
28. Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 1372-1377.
29. Lee, C.; Yang, W.; Parr, R. G. Phys. Rev. B 1988, 37, 785-789.
30. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B. G.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03 (Revision B.01); Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 2003.
31. Ditchfield, R.; Hehre, W. J.; Pople, J. A. J. Chem. Phys. 1971 54, 724-728.
32. Hehre, W. J.; Ditchfield, R.; Pople, J. A. J. Chem. Phys. 1972, 56, 2257-2261.
33. Harihara, P. C.; Pople, J. A. Mol. Phys. 1974, 27, 209-214.
34. Gordon, M. S. Chem. Phys. Lett. 1980, 76, 163-168.
35. Hariharam, P. C.; Pople, J. A. Theor. Chin. Acta 1973, 28, 213-222.
36. Cai, C.; Liakatas, I.; Wong, M.-S.; Boesch, M.; Bosshard, C.; Guenter, P.; Concilio, S.; Tirelli, N.; Suter, U. W. Org. Lett. 1999, 1, 1847-1849.
37. Wang, Y.-K.; Shu, C.-F.; Breitung, E. M.; McMahon, R. J. J. Mater. Chem. 1999, 9, 1449-1452.
38. Bu, X. R.; Li, H.; Van Derveer, D.; Mintz, E. A. Tetrahedron Lett. 1996, 37, 7331-7334.
39. Casado, J.; Ruiz Delgado, M. C.; Rey Merchán, M. C.; Hernández, V.; Lópetz Navarrete, J. T.; Pappenfus, T. M.; Williams, N.; Stregner, W. J.; Johnson, J. C.; Edlund, B. A.; Janzen, D. E.; Mann, K. R.; Orduna, J.; Villacampa, B. Chem. Eur. J. 2006, in press.
40. Sirringhaus, H.; Tessler, N.; Friend, R. H. Science 1998, 280, 1741-1744.
41. Shtein, M.; Mapel, J.; Benziger, J. B.; Forrest, S. R. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 268-270.
42. Sirringhaus, H.; Brown, P. J.; Friend, R. H.; Nielsen, M. M.; Bechgaard, K.; Langeveld-Voss, B. M. W.; Spiering, A. J. H.; Janssen, R. A. J.; Meijer, E. W.; Herwig, P.; De Leeuw, D. M. Nature 1999, 401, 685-688.
43. Salleo, A.; Chabinyc, M. L.; Yang, M. S.; Street, R. A. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 4383-4385.
44. Chesterfield, R. J.; McKeen, J. C.; Newman, C. R.; Frisbie, C. D.; Ewbank, P. C.; Mann, K. R.; Miller, L. L. J. Appl. Phys. 2004, 95, 6396-6405.
45. Chesterfield, R. J.; McKeen, J. C.; Newman, C. R.; Ewbank, P. C.; da Silva Filho, D. A.; Brédas, J.-L.; Miller, L. L.; Mann, K. R.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem., B 2004, 108, 19281-19292.
46. Horowitz, G.; Hajlaoui, M. E.; Hajlaoui, R. J. Appl. Phys. 2000, 87, 4456-4463.
47. Horowitz, G.; Hajlaoui, R.; Delannoy, P. J. Phys. III 1995, 5, 355-371.