Band-edge electroluminescence from N +-implanted bulk ZnO

Applied Physics Letters

Volumn 88, Issue 10, 2006, Pages

  Wang, Hung Ta ^a   Kang, B S ^a   Chen, Jau Jiun ^a   Anderson, T ^a   Jang, S ^a   Ren, F ^a   Kim, H S ^a   Li, Y J ^a   Norton, D P ^a   Pearton, S J ^a  

^a University of Florida   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CURRENT-VOLTAGE BEHAVIOR; METAL-INSULATOR-SEMICONDUCTOR DEVICES;

DIODES; ELECTRIC CURRENTS; ELECTRIC POTENTIAL; ELECTROLUMINESCENCE; IMPACT IONIZATION; ION IMPLANTATION; NITROGEN; POSITIVE IONS; SINGLE CRYSTALS;

ZINC OXIDE;

EID: 33644988216     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2186508     Document Type: Article

References (29)

1. D. C. Look, Mater. Sci. Eng., B 80, 383 (2001).
2. S. J. Pearton, D. P. Norton, K. Ip, Y. W. Heo, and T. Steiner, Prog. Mater. Sci. 50, 293 (2005).
3. G-C. Yi, C. Wang, and W. I. Park, Semicond. Sci. Technol. 20, S22 (2005).
4. Ya. I. Alivov, E. V. Kalinina, A. E. Cherenkov, D. C. Look, B. M. Ataev, A. K. Omaev, M. V. Chukichev, and D. M. Bagnall, Appl. Phys. Lett. 83, 4719 (2003).
5. A. Osinsky, J. W. Dong, M. Z. Kauser, B. Hertog, A. M. Dabiran, P. P. Chow, S. J. Pearton, O. Lopatiuk, and L. Chernyak, Appl. Phys. Lett. 85, 4272 (2004).
6. B. W. Thomas and D. Walsh, Electron. Lett. 9, 362 (1973).
7. T. Minami, M. Tanigawa, M. Yamanishi, and T. Kawamura, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 13, 1475 (1974).
8. T. Minami, S. Takata, M. Yamanishi, and T. Kawamura, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 18, 1617 (1979).
9. A. Shimizu, M. Kanbara, M. Hada, and M. Kasuga, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 17, 1435 (1978).
10. S. Takata, T. Minami, H. Nanto, and T. Kawamura, Phys. Status Solidi A 65, K83 (1981).
11. Y. I. Alivov, J. E. Van Nostrand, D. C. Look, M. V. Chukichev, and B. M. Ataev, Appl. Phys. Lett. 83, 2943 (2003).
12. H. Hosono, H. Ohta, K. Hayashi, M. Orita, and M. Hirano, J. Cryst. Growth 237-239, 496 (2001).
13. D. K. Hwang, S. H. Kang, J. H. Lim, E. J. Yang, J. Y. Oh, J. H. Yang, and S. J. Park, Appl. Phys. Lett. 86, 222101 (2005).
14. H. S. Yang, S. Y. Han, Y. W. Heo, K. H. Baik, D. P. Norton, S. J. Pearton, F. Ren, A. Osinsky, J. W. Dong, B. Hertog, A. M. Dabiran, P. P. Chow, L. Chernyak, T. Steiner, C. J. Kao, and G. C. Chi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 44, 7296 (2005).
15. A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, K. Ohtani, S. F. Chichibu, S. Fuke, Y. Segawa, H. Ohno, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Nat. Mater. 4, 42 (2005).
16. A. Tsukazaki, M. Kubota, A. Ohtomo, T. Onuma, K. Ohtani, H. Ohno, S. F. Chichibu, and M. Kawasaki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 21, L643 (2005).
17. S. O. Kucheyev, J. S. Williams, C. Jagadish, J. Zou, C. Evans, A. J. Nelson, and A. V. Hamza, Phys. Rev. B 67, 094115 (2003).
18. S. O. Kucheyev, P. N. K. Deenapanray, C. Jagadish, J. S. Williams, M. Yano, K. Koike, S. Sasa, M. Inoue, and K. Ogata, Appl. Phys. Lett. 81, 3350 (2002).
19. S. O. Kucheyev, C. Jagadish, J. S. Williams, P. N. K. Deenapanray, M. Yano, K. Koike, S. Sasa, M. Inoue, and K. Ogata, J. Appl. Phys. 93, 2972 (2003).
20. V. A. Coleman, H. H. Tan, C. Jagadish, S. O. Kucheyev, and J. Zou, Appl. Phys. Lett. 87, 231912 (2005).
21. E. Alves, E. Rita, U. Wahl, J. G. Correia, T. Monteiro, J. Soares, and C. Boemare, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 206, 1047 (2003).
22. T. S. Jeong, M. S. Han, C. J. Youn, and Y. S. Park, J. Appl. Phys. 96, 175 (2004).
23. F. Reus, C. Kirchner, Th. Gruber, R. Kling, S. Maschek, W. Limmer, A. Waag, and P. Ziemann, J. Appl. Phys. 95, 3385 (2004).
24. K. Lorenz, E. Alves, E. Wendler, O. Bilani, W. Wesch, and M. Hayes, Appl. Phys. Lett. 87, 191904 (2005).
25. G. Braunstein, A. Muraviev, H. Saxena, N. Dhere, V. Richter, and R. Kalish, Appl. Phys. Lett. 87, 192103 (2005).
26. H. S. Yang, D. P. Norton, S. J. Pearton, and F. Ren, Appl. Phys. Lett. 87, 212106 (2005).
27. G. D. Mahan, L. M. Levinson, and H. R. Philipp, J. Appl. Phys. 50, 2799 (1979).
28. G. E. Pike, S. R. Kurtz, P. L. Gourley, H. R. Philipp, and L. M. Levinson, J. Appl. Phys. 57, 5512 (1985).
29. T. M. Barnes, K. Olson, and C. A. Wolden, Appl. Phys. Lett. 86, 112112 (2005).