Improved quality (112̄0) a-plane GaN with sidewall lateral epitaxial overgrowth

Applied Physics Letters

Volumn 88, Issue 6, 2006, Pages

  Imer, Bilge M ^a   Wu, Feng ^a   Denbaars, Steven P ^a   Speck, James S ^a  

^a University of California   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COALESCED FILMS; DEFECT DENSITIES;

COALESCENCE; DEFECTS; DISLOCATIONS (CRYSTALS); EPITAXIAL GROWTH; SILICA; SURFACE ROUGHNESS;

GALLIUM NITRIDE;

EID: 32444439030     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2172159     Document Type: Review

References (23)

1. M. D. Craven, S. H. Lim, F. Wu, J. S. Speck, and S. P. DenBaars, Appl. Phys. Lett. 81, 469 (2002).
2. M. D. Craven, A. Chakraborty, B. Imer, F. Wu, S. Keller, U. K. Mishra, J. S. Speck, and S. P. DenBaars, Phys. Status Solidi C 1, 4 (2003).
3. B. A. Haskell, F. Wu, S. Matsuda, M. D. Craven, P. T. Fini, S. P. DenBaars, J. S. Speck, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 83, 1554 (2003).
4. E. S. Hellman, Z. Liliental-Weber, and D. N. E. Buchanan, MRS Internet J. Nitride Semicond. Res. 2, 30 (1997).
5. P. Waltereit, O. Brandt, M. Ramsteiner, A. Trampert, H. T. Grahn, J. Menniger, M. Reiche, R. Uecker, P. Reiche, and K. H. Ploog, Phys. Status Solidi A 180, 133 (2000).
6. B. A. Haskell, A. Chakraborty, F. Wu, H. Sasano, P. T. Fini, S. P. Denbaars, J. S. Speck, and S. Nakamura, J. Electron. Mater. 34, 357 (2005).
7. G. A. Garrett, H. Shen, M. Wraback, B. Imer, B. Haskell, J. S. Speck, S. Keller, S. Nakamura, and S. P. DenBaars, Phys. Status Solidi A 202, 846 (2005).
8. H. M. Ng, Appl. Phys. Lett. 80, 4369 (2002).
9. P. Waltereit, O. Brandt, A. Trampert, H. T. Grahn, J. Menniger, M. Ramsteiner, M. Reiche, and K. H. Ploog, Nature (London) 406, 865 (2000).
10. A. Bhattacharya, I. Friel, S. Iyer, T.-C. Chen, W. Li, J. Cabalu, Y. Fedyunin, K. F. Ludwig, Jr., T. D. Moustakas, H.-P. Maruska, D. W. Hill, J. J. Gallagher, M. C. Chou, and B. Chai, J. Cryst. Growth 251, 487 (2003).
11. A. Chakraborty, B. A. Haskell, S. Keller, J. S. Speck, S. P. DenBaars, S. Nakamura, and U. K. Mishra, Appl. Phys. Lett. 85, 5143 (2004).
12. A. Chakraborty, S. Keller, C. Meier, B. A. Haskell, S. Keller, P. Waltereit, S. P. DenBaars, S. Nakamura, J. S. Speck, and U. K. Mishra, Appl. Phys. Lett. 86, 031901 (2005).
13. A. Chakraborty, B. A. Haskell, S. Keller, J. S. Speck, S. P. DenBaars, S. Nakamura, and U. K. Mishra, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 44, L173 (2005).
14. J. S. Speck and S. J. Rosner, Physica B, 273-274, 24 (1999).
15. P. Fini, L. Zhao, B. Moran, M. Hansen, H. Marchand, J. P. Ibbetson, S. P. DenBaars, U. K. Mishra, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 75, 1706 (1999).
16. I. Kidoguchi, A. Ishibashi, G. Sugahara, and Y. Ban, Appl. Phys. Lett. 76, 3768 (2000).
17. K. Hiramatsu, K. Nishiyama, M. Onishi, H. Mizutani, M. Narukawa, A. Motogaito, H. Miyake, Y. Iyechika, and T. Maeda, J. Cryst. Growth 221, 316 (2000).
18. C. I. H. Ashby, C. C. Mitchell, J. Han, N. A. Missert, P. P. Provencio, D. M. Follstaedt, G. M. Peake, and L. Griego, Appl. Phys. Lett. 77, 3233 (2000).
19. K. Linthicum, T. Gehrke, D. Thomson, E. Carlson, P. Rajagopal, T. Smith, D. Batchelor, and R. Davis, Appl. Phys. Lett. 75, 196 (1999).
20. T. S. Zheleva, W. M. Ashmawi, and K. A. Jones, Phys. Status Solidi A 176, 545 (1999).
21. M. D. Craven, S. H. Lim, F. Wu, J. S. Speck, and S. P. DenBaars, Appl. Phys. Lett. 81, 1201 (2002).
22. C. Chen, J. Zhang, J. Yang, V. Adivarhan, S. Rai, S. Wu, H. Wang, W. Sun, M. Su, Z. Gong, E. Kuokstis, M. Gaevski, and M. A. Khan, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 42, L818 (2003).
23. B. A. Haskell, T. J. Baker, M. B. McLaurin, F. Wu, P. T. Fini, S. P. DenBaars, J. S. Speck, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 86, 111917 (2005).