Measurement of Zn 0.95Cd 0.05 O/ZnO (0001) heterojunction band offsets by x-ray photoelectron spectroscopy

Applied Physics Letters

Volumn 87, Issue 19, 2005, Pages 1-3

  Chen, Jau Jiun ^a   Ren, F ^a   Li, Yuanjie ^a   Norton, D P ^a   Pearton, S J ^a   Osinsky, A ^b   Dong, J W ^b   Chow, P P ^b   Weaver, J F ^a  

^a University of Florida   (United States)

^b SVT ASSOCIATES   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CONDUCTION BANDS; ENERGY DISCONTINUITY; RF PLASMA-ENHANCED MOLECULAR-BEAM EPITAXY; VALENCE BANDS;

ELECTRON ENERGY LEVELS; MOLECULAR BEAM EPITAXY; PLASMA APPLICATIONS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; ZINC COMPOUNDS;

HETEROJUNCTIONS;

EID: 27644543610     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2128477     Document Type: Article

References (28)

1. D. C. Look, B. Claflin, Ya. I. Alivov, and S. J. Park, Phys. Status Solidi A, 201, 2203 (2004).
2. D. C. Look, Mater. Sci. Eng., B 80, 383 (2001).
3. S. J. Pearton, D. P. Norton, K. Ip, Y. W. Heo, and T. Steiner, Prog. Mater. Sci. 50, 293 (2005).
4. Y. R. Ryu, T. S. Lee, J. H. Leem, and H. W. White, Appl. Phys. Lett. 83, 4032 (2003).
5. X.-L. Guo, J.-H Choi, H. Tabata, and T. Kawai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 40, L177 (2001).
6. T. Aoki and Y. Hatanaka, Appl. Phys. Lett. 76, 3257 (2000).
7. Y. I. Alivov, J. E. Van Nostrand, D. C. Look, M. V. Chukichev, and B. M. Ataev, Appl. Phys. Lett. 83, 2943 (2003).
8. Y. I. Alivov, E. V. Kalinina, A. E. Cherenkov, D. C. Look, B. M. Ataev, A. K. Omaev, M. V. Chukichev, and D. M. Bagnall, Appl. Phys. Lett. 83, 4719 (2003).
9. H. Hosono, H. Ohta, K. Hayashi, M. Orita, and M. Hirano, J. Cryst. Growth 237-239, 496 (2001).
10. A. Osinsky, J. W. Dong, M. Z. Kauser, B. Hertog, A. M. Dabiran, P. P. Chow, S. J. Pearton, O. Lopatiuk, and L. Chernyak, Appl. Phys. Lett. 85, 4272 (2004).
11. J. W. Dong, A. Osinsky, B. Hertog, A. M. Dabiran, P. P. Chow, Y. W. Heo, D. P. Norton and S. J. Pearton, J. Electron. Mater. 34, 416 (2005).
12. D.-K. Hwang, S.-H. Kang, J.-H. Lim, E.-J. Yang, J.-Y. Oh, J.-H. Yang, and S.-J. Park, Appl. Phys. Lett. 86, 222101 (2005).
13. A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, K. Ohtani, S. F. Chichibu, S. Fuke, Y. Segawa, H. Ohno, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Nat. Mater. 4, 42 (2005).
14. A. Tsukazaki, M. Kubota, A. Ohtomo, T. Onuma, K. Ohtani, H. Ohno, S. F. Chichibu, and M. Kawasaki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 44, L643 (2005).
15. T. Makino, Y. Segawa, M. Kawasaki, A. Ohtomo, R. Shiroki, K. Tamura, T. Yasuda, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 1237 (2001).
16. L. M. Kukreja, S. Barik, and P. Misra, J. Cryst. Growth 268 531 (2004).
17. K. Sakurai, T. Takagi, T. Kubo, D. Kajita, T. Tanabe, H. Takasu, S. Fujita, and S. T. Fujita, J. Cryst. Growth 237-239, 514 (2002).
18. J. R. Waldrop and R. W. Grant, Appl. Phys. Lett. 68, 2879 (1996).
19. J. R. Waldrop, R. W. Grant, S. P. Kowalczyk, and E. A. Kraut, J. Vac. Sci. Technol. A 3, 835 (1985).
20. E. A. Kraut, R. W. Grant, J. R. Waldrop, and S. P. Kowalczyk, Phys. Rev. 28, 1965 (1983).
21. L. F. Edge, D. G. Schlom, S. A. Chambers, E. Cicerrella, J. L. Freeouf, B. Hollander, and J. Schubert, Appl. Phys. Lett. 84, 726 (2004).
22. S. A. Ding, S. R. Barman, K. Horn, H. Yang, B. Yang, O. Brandt, and K. Ploog, Appl. Phys. Lett. 70, 2407 (1997).
23. A. C. Tuan, T. C. Kaspar, T. Droubay, J. W. Rogers, Jr., and S. A. Chambers, Appl. Phys. Lett. 83, 3734 (2003).
24. T. Kitani, M. Kondow, T. Kikawa, Y. Yazawa, M. Okai, and K. Uomi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 38, 5003 (1999).
25. G. Venkata Rao, F. Sauerlich, and A. Klein, Appl. Phys. Lett. 87, 032101 (2005).
26. See, for example, S. W. King, R. J. Nemanich, and R. F. Davis, in Properties, Processing and Applications of GaN and Related Semiconductors, edited by, J. H. Edgar, S. Strite, I. Akasaki, H. Amano, and, C. Wetzel, (INSPEC, IEE, London, 1999).
27. A. Ohtomo, M. Kawasaki, I. Ohkubo, H. Konuma, T. Yasuda, and Y. Segawa, Appl. Phys. Lett. 75, 980 (1999).
28. G. Coli and K. K. Bajaj, Appl. Phys. Lett. 78, 2861 (2001).