Measurement of AlN/GaN (0001) heterojunction band offsets by x-ray photoemission spectroscopy

Applied Physics Letters

Volumn 68, Issue 20, 1996, Pages 2879-2881

  Waldrop, J R ^a   Grant, R W ^a  

^a ROCKWELL SCIENCE CENTER   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000559580     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.116355     Document Type: Article

References (21)

1. S. Strite and H. Morkoç, J. Vac. Sci. Technol. AIP 10, 1237 (1992).
2. J. H. Edgar, J. Mater. Res. AIP 7, 235 (1992).
3. R. F. Davis, Proc. IEEE INS 79, 702 (1991).
4. Z. Sitar, M. J. Paisley, B. Yan, R. F. Davis, J. Ruan, and J. W. Choyke, Thin Solid Films INS 200, 311 (1991).
5. G. Martin, S. Strite, A. Botchkarev, A. Agarwal, A. Rockett, H. Morkoç, W. R. L. Lambrecht, and B. Segall, Appl. Phys. Lett. AIP 65, 610 (1994).
6. J. R. Waldrop, R. W. Grant, S. P. Kowalczyk, and E. A. Kraut, J. Vac. Sci. Technol. A AIP 3, 835 (1985).
7. E. A. Kraut, R. W. Grant, J. R. Waldrop, and S. P. Kowalczyk, Phys. Rev. 28, 1965 (1983).
8. A. Itoh and S. Misawa, Jpn. J. Appl. Phys. Suppl. 2, Pt. 1, 467 (1974).
9. S. Yoshida, S. Misawa, Y. Fujii, S. Takada, H. Hayakawa, S. Gonda, and A. Itoh, J. Vac. Sci. Technol. AIP 16, 990 (1979).
10. H. Gotoh, T. Suga, H. Suzuki, and M. Kimata, Jpn. J. Appl. Phys. INS 20, L545 (1981).
11. J. R. Waldrop and R. W. Grant, Appl. Phys. Lett. AIP 62, 2685 (1993).
12. H.-U. Baier and W. Monch, J. Appl. Phys. AIP 68, 586 (1990).
13. J. L. Dupuie and E. Gulari, Appl. Phys. Lett. AIP 59, 549 (1991).
14. S. Krishnankutty, R. M. Kolbas, M. A. Khan, J. N. Kuznia, J. M. Van Hove, and D. T. Olson, J. Electron. Mater. INS 21, 437 (1992).
15. S. Bloom, G. Harbeke, E. Meier, and I. B. Ortenburger, Phys. Status Solidi B INS 66, 161 (1974).
16. J. Hedman and N. Mårtensson, Phys. Scr. INS 22, 176 (1980).
17. W. Y. Ching and B. N. Harmon, Phys. Rev. B AIP 34, 5305 (1986).
18. M.-Z. Huang and W. Y. Ching, J. Phys. Chem. Solids 46, 977 (1985).
19. Y.-N. Xu and W. Y. Ching, Phys. Rev. B AIP 48, 4335 (1993).
20. E. A. Albanesi, W. R. L. Lambrecht, and B. Segall, J. Vac. Sci. Technol. B AIP 12, 2470 (1994).
21. J. Baur, K. Maier, M. Kunzer, U. Kaufmann, and J. Schneider, Appl. Phys. Lett. AIP 65, 2211 (1994).