Three-dimensional high-resolution reconstruction of polarization in ferroelectric capacitors by piezoresponse force microscopy

Journal of Applied Physics

Volumn 95, Issue 4, 2004, Pages 1958-1962

  Rodriguez, B J ^a   Gruverman, A ^a   Kingon, A I ^a   Nemanich, R J ^a   Cross, J S ^b  

^a NORTH CAROLINA STATE UNIVERSITY   (United States)

^b FUJITSU LABORATORIES LTD   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CAPACITORS; FERROELECTRIC THIN FILMS; GRAIN SIZE AND SHAPE; IMAGE ANALYSIS; REACTIVE ION ETCHING; TEXTURES; VECTORS;

FERROELECTRIC CAPACITORS; FERROELECTRIC CRYSTALS; PIEZORESPONSE FORCE MICROSCOPY; POLYCRYSTALLINITY; POLYDOMAIN STATE;

FERROELECTRIC MATERIALS;

EID: 1542336939     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1638889     Document Type: Article

References (25)

1. O. Auciello, J. F. Scott, and R. Ramesh, Phys. Today 1998, 22.
2. A. Gruverman, O. Auciello, and H. Tokumoto, Appl. Phys. Lett. 69, 3191 (1996).
3. T. Hidaka, T. Maruyama, I. Sakai, M. Saitoh, L. A. Wills, R. Hiskes, S. A. Dicarolis, and J. Amano, Integr. Ferroelectr. 17, 319-327 (1997).
4. A. Gruverman, O. Auciello, and H. Tokumoto, Annu. Rev. Mater. Sci. 28, 101 (1998).
5. J. A. Christman, R. R. Woolcott, A. I. Kingon, and R. J. Nemanich, Appl. Phys. Lett. 73, 3851 (1998).
6. J. A. Christman, S.-H. Kim, H. Maiwa, J.-P. Maria, B. J. Rodriguez, A. I. Kingon, and R. J. Nemanich, J. Appl. Phys. 87, 8031 (2000).
7. S. V. Kalinin, and D. A. Bonnell, Phys. Rev. B 65, 125408 (2002).
8. S. Hong, E. L. Colla, E. Kim, D. V. Taylor, A. K. Tagantsev, P. Muralt, K. No, and N. Setter, J. Appl. Phys. 86, 607 (1999).
9. M. Alexe, C. Harnagea, D. Hesse, and U. Gösele, Astrophys. Appl. Phys. Lett. 79, 242 (2001).
10. I. Stolichnov, E. Colla, A. Tagantsev, S. Bharadwaja, S. Hong, N. Setter, J. S. Cross, and M. Tsukada, Appl. Phys. Lett. 80, 4804 (2002).
11. A. Gruverman, B. J. Rodriguez, A. I. Kingon, R. J. Nemanich, J. S. Cross, and M. Tsukada, Appl. Phys. Lett. 82, 3071 (2003).
12. A. Gruverman, B. J. Rodriguez, A. I. Kingon, R. J. Nemanich, J. S. Cross, and M. Tsukada, Appl. Phys. Lett. 83, 728 (2003)
13. L. M. Eng, H.-J. Güntherodt, G. Rosenman, A. Skliar, M. Oron, M. Katz, and D. Eger, J. Appl. Phys. 83, 5973 (1998).
14. L. M. Eng, M. Abplanalp, P. Günter, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. A66, S679-S683 (1998).
15. M. Abplanalp, L. M. Eng, and P. Günter, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. A66, S231-S234 (1998).
16. L. M. Eng, H. J. Güntherodt, G. A. Schneider, U. Köpke, and J. Muñoz Saldaña, Appl. Phys. Lett. 74, 233 (1999).
17. A. Roelofs, U. Böttger, R. Waser, F. Schlaphof, S. Trogisch, and L. M. Eng, Appl. Phys. Lett. 77, 3444 (2000).
18. C. S. Ganpule, V. Nagarajan, B. K. Hill, A. L. Royburd, E. D. Williams, S. P. Alpay, A. Roelofs, R. Waser, and L. M. Eng, J. Appl. Phys. 91, 1477 (2002).
19. X. Du, U. Belegundu, and K. Uchino, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 36, 5580 (1997).
20. X. Du, J. Zheng, U. Belegundu, and K. Uchino, Appl. Phys. Lett. 72, 2421 (1998).
21. X. Du, Q.-M. Wang, U. Belegundu, A. Bhalla, and K. Uchino, Mater. Lett. 40, 109 (1999).
22. S. Kalpat, X. Du, I. R. Abothu, A. Akiba, H. Goto, and K. Uchino, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 40, 713 (2001).
23. C. Harnagea, A. Pignolet, M. Alexe, and D. Hesse, Integr. Ferroelectr. 38 23 (2001).
24. M. J. Haun, Ferroelectrics 99, 63 (1989).
25. G. Shirane, K. Suzuki, and A. Takeda, J. Phys. Soc. Jpn. 7, 12 (1952).