Quantitative study of molecular N2 trapped in disordered GaN:O films

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 70, Issue 23, 2004, Pages 1-5

  Ruck, B J ^a   Koo, A ^a   Lanke, U D ^a   Budde, F ^a   Granville, S ^a   Trodahl, H J ^a   Bittar, A ^b   Metson, J B ^c   Kennedy, V J ^d   Markwitz, A ^d  

^a VICTORIA UNIVERSITY OF WELLINGTON   (New Zealand)

^b CALLAGHAN INNOVATION   (New Zealand)

^c UNIVERSITY OF AUCKLAND   (New Zealand)

^d GNS SCIENCE   (New Zealand)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANION; CATION; GALLIUM; NITROGEN;

ABSORPTION SPECTROSCOPY; ARTICLE; FILM; MOLECULAR INTERACTION; QUANTITATIVE ANALYSIS; RAMAN SPECTROMETRY; ROENTGEN SPECTROSCOPY;

EID: 13944277991     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.70.235202     Document Type: Article

References (32)

1. For recent examples see G. J. Williams, M. A. Pfeifer, I. A. Vartanyants, and I. K. Robinson, Phys. Rev. Lett. 90, 175501 (2003); A. Malachias, S. Kycia, G. Medeiros-Ribeiro, R. Magalhães-Paniago, T. I. Kamins, and R. Stanley Williams, ibid. 90, 175501 (2003); A. I. Frenkel, A. V. Kolobov, I. K. Robinson, J. O. Cross, Y. Maeda, and C. E. Bouldin, ibid. 89, 285503 (2002); P. M. Voyles, J. E. Gerbi, M. M. J. Treacy, J. M. Gibson, and J. R. Abelson, ibid. 86, 5514 (2001).
2. For recent examples see G. J. Williams, M. A. Pfeifer, I. A. Vartanyants, and I. K. Robinson, Phys. Rev. Lett. 90, 175501 (2003); A. Malachias, S. Kycia, G. Medeiros-Ribeiro, R. Magalhães-Paniago, T. I. Kamins, and R. Stanley Williams, ibid. 90, 175501 (2003); A. I. Frenkel, A. V. Kolobov, I. K. Robinson, J. O. Cross, Y. Maeda, and C. E. Bouldin, ibid. 89, 285503 (2002); P. M. Voyles, J. E. Gerbi, M. M. J. Treacy, J. M. Gibson, and J. R. Abelson, ibid. 86, 5514 (2001).
3. For recent examples see G. J. Williams, M. A. Pfeifer, I. A. Vartanyants, and I. K. Robinson, Phys. Rev. Lett. 90, 175501 (2003); A. Malachias, S. Kycia, G. Medeiros-Ribeiro, R. Magalhães-Paniago, T. I. Kamins, and R. Stanley Williams, ibid. 90, 175501 (2003); A. I. Frenkel, A. V. Kolobov, I. K. Robinson, J. O. Cross, Y. Maeda, and C. E. Bouldin, ibid. 89, 285503 (2002); P. M. Voyles, J. E. Gerbi, M. M. J. Treacy, J. M. Gibson, and J. R. Abelson, ibid. 86, 5514 (2001).
4. For recent examples see G. J. Williams, M. A. Pfeifer, I. A. Vartanyants, and I. K. Robinson, Phys. Rev. Lett. 90, 175501 (2003); A. Malachias, S. Kycia, G. Medeiros-Ribeiro, R. Magalhães-Paniago, T. I. Kamins, and R. Stanley Williams, ibid. 90, 175501 (2003); A. I. Frenkel, A. V. Kolobov, I. K. Robinson, J. O. Cross, Y. Maeda, and C. E. Bouldin, ibid. 89, 285503 (2002); P. M. Voyles, J. E. Gerbi, M. M. J. Treacy, J. M. Gibson, and J. R. Abelson, ibid. 86, 5514 (2001).
5. I. Arslan and N. D. Browning, Phys. Rev. Lett. 91, 165501 (2003).
6. P. Stumm and D. A. Drabold, Phys. Rev. Lett. 79, 677 (1997).
7. M. Yu and D. A. Drabold, Solid State Commun. 108, 413 (1998).
8. A. Bittar, H. J. Trodahl, N. T. Kemp, and A. Markwitz, Appl. Phys. Lett. 78, 619 (2001).
9. U. D. Lanke, A. Koo, B. J. Ruck, H. K. Lee, A. Markwitz, V. J. Kennedy, M. J. Ariza, D. J. Jones, J. Rozière, A. Bittar, and H. J. Trodahl, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 693, 16.10.1 (2002).
10. A. Koo, B. J. Ruck, U. D. Lanke, J. B. Metson, M. J. Ariza, D. J. Jones, J. Rozière, A. Bittar, and H. J. Trodahl, in Proceedings of the 26th International Conference on the Physics of Semiconductors (Institute of Physics Publishing, Bristol, UK and Philadelphia, 2003).
11. U. Lanke, A. Koo, S. Granville, J. Trodahl, A. Markwitz, J. Kennedy, and A. Bittar, Mod. Phys. Lett. B 15, 1355 (2001).
12. A. Koo, U. D. Lanke, B. J. Ruck, S. Brown, R. Reeves, I. Liem, A. Bittar, and H. J. Trodahl, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 693, 110.10.1 (2002).
13. J. B. Metson, H. J. Trodahl, B. J. Ruck, U. D. Lanke, and A. Bittar, Surf. Interface Anal. 35, 719 (2003).
14. Y. Kang and D. C. Ingram, J. Appl. Phys. 93, 3954 (2003).
15. M. Kuball, H. Mokhtari, D. Cherns, J. Lu, and D. I. Westwood, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 39, 4753 (2000).
16. H. Chen, K. Chen, D. A. Drabold, and M. E. Kordesch, Appl. Phys. Lett. 77, 1117 (2000).
17. T. Miyazaki, T. Fujimaki, S. Adachi, and K. Ohtsuka, J. Appl. Phys. 89, 8316 (2001).
18. N. Preschilla, S. Major, N. Kumar, I. Samajdar, and R. S. Srinivasa, Appl. Phys. Lett. 77, 1861 (2000).
19. K. Yamada, H. Asahi, H. Tampo, Y. Imanishi, K. Ohnishi, and K. Asami, Appl. Phys. Lett. 78, 2849 (2001).
20. Y. Yang, V. J. Leppert, S. H. Risbud, B. Twamley, P. P. Power, and H. W. H. Lee, Appl. Phys. Lett. 74, 2262 (1999).
21. V. J. Kennedy, A. Markwitz, U. D. Lanke, A. McIvor, H. J. Trodahl, and A. Bittar, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 190, 620 (2002).
22. M. Katsikini, E. C. Paloura, M. Fieber-Erdmann, J. Kalomiros, T. D. Moustakas, H. Amano, and I. Akasaki, Phys. Rev. B 56, 13380 (1997).
23. W. R. L. Lambrecht, S. N. Rashkeev, B. Segall, K. Lawniczak-Jablonska, T. Suski, E. M. Gullikson, J. H. Underwood, R. C. C. Perera, J. C. Rife, I. Grzegory, S. Porowski, and D. K. Wickenden, Phys. Rev. B 55, 2612 (1997).
24. K. Lawniczak-Jablonska, T. Suski, I. Gorczyca, N. E. Christensen, K. E. Attenkofer, R. C. C. Perera, E. M. Gullikson, J. H. Underwood, D. L. Ederer, and Z. Liliental-Weber, Phys. Rev. B 61, 16623 (2000).
25. B. W. Yates, Y. F. Hu, K. H. Tan, G. Retzlaff, R. G. Cavell, T. K. Sham, and G. M. Bancroft, J. Synchrotron Radiat. 7, 296 (2000).
26. L. Wenzel, D. Arvanitis, R. Schlögl, M. Muhler, D. Norman, K. Baberschke, and G. Ertl, Phys. Rev. B 40, 6409 (1989).
27. M. W. Ruckman, S. L. Qiu, J. Chen, and M. Strongin, Phys. Rev. B 43, 8603 (1991).
28. S. E. Aleksandrov, T. A. Gavrikova, and V. A. Zykov, Semiconductors 34, 291 (2000).
29. C. G. Van de Walle and J. Neugebauer, J. Appl. Phys. 95, 3851 (2004).
30. F. Esaka, K. Furuya, H. Shimada, M. Imamura, N. Matsubayashi, H. Sato, A. Nishijima, A. Kawana, H. Ichimura, and T. Kikuchi, J. Vac. Sci. Technol. A 15, 2521 (1997).
31. S. O. Kucheyev, J. S. Williams, J. Zuo, C. Jagadish, and G. Li, Appl. Phys. Lett. 77, 3577 (2000).
32. D. Behr, J. Wagner, J. Schneider, H. Amano, and I. Akasaki, Appl. Phys. Lett. 68, 2404 (1996).