N-edge x-ray-absorption study of heteroepitaxial GaN films

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 56, Issue 20, 1997, Pages 13380-13386

  Katsikini, M ^a   Paloura, E ^b  

^a HAHN MEITNER INSTITUT   (Germany)

^b ARISTOTLE UNIVERSITY OF THESSALONIKI   (Greece)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000574116     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.56.13380     Document Type: Article

References (37)

1. S. D. Lester, F. A. Ponce, M. G. Craford, and D. A. Steigerwald, Appl. Phys. Lett. 66, 1250 (1995).
2. H. Sakai, T. Koide, H. Suzuki, M. Yamaguchi, S. Yamasaki, M. Koike, H. Amano, and I. Akasaki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 34, L1429 (1995).
3. T. Kozawa, T. Kachi, H. Kans, H. Nagase, N. Koide, and K. Manabe, J. Appl. Phys. 77, 4389 (1995).
4. W. Lei and W.-X. Ni, Appl. Phys. Lett. 68, 705 (1996).
5. Jörg Neugebauer and Chris G. Van de Walle, Phys. Rev. B 50, 8067 (1994).
6. P. Boguslawski, E. L. Briggs, and J. Bernholc, Phys. Rev. B 51, 17 255 (1995).
7. I. Corczyca, A. Svane, and N. E. Christensen, Solid State Commun. 101, 747 (1997).
8. K. Miwa and A. Fukumoto, Phys. Rev. B 48, 7897 (1993).
9. M. Leszczynski, H. Teisseyre, T. Suski, I. Grzegory, M. Bockowski, J. Jun, S. Porowski, K. Pakula, J. M. Baranowski, C. T. Foxon, and T. S. Cheng, Appl. Phys. Lett. 69, 73 (1996).
10. O. Lagerstedt and B. Monemar, Phys. Rev. B 19, 3064 (1979).
11. K. Hiramatsu, T. Detchprohm, and I. Akasaki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 32, 1528 (1993).
12. D. Konigsberger and R. Prins, X-Ray Absorption: Principles, Techniques and Applications of EXAFS and XANES (Wiley, New York, 1988).
13. U. Scheuer and B. Lengerer, Phys. Rev. B 44, 9883 (1991).
14. N. Papanikolaou, R. Zeller, P. H. Dederichs, and N. Stefanou, Phys. Rev. B 55, 4157 (1997).
15. L. Tröger, D. Arvanitis, K. Baberschke, H. Michaelis, U. Grimm, and E. Zschech, Phys. Rev. B 46, 3283 (1992).
16. P. Perlin, C. Jauberthie-Carillon, J. P. Itie, A. San Miguel, I. Grzegory, and A. Polian, Phys. Rev. B 45, 83 (1992).
17. M. Katsikini, E. C. Paloura, and T. D. Moustakas, Appl. Phys. Lett. 69, 4206 (1996).
18. T. D. Moustakas, T. Lei, and R. J. Molnar, Physica B 185, 36 (1993).
19. T. Lei, T. D. Moustakas, R. J. Graham, Y. He, and S. J. Berkowitz, J. Appl. Phys. 71, 4933 (1992).
20. S. N. Basu, T. Lei, and T. D. Moustakas, J. Mater. Res. 9, 2370 (1994).
21. T. Lei, K. F. Ludwig, and T. D. Moustakas, J. Appl. Phys. 74, 4430 (1993).
22. M. Katsikini and E. C. Paloura (unpublished).
23. H. Petersen, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 246, 260 (1986).
24. L. Tröger, D. Arvanitis, H. Rabus, L. Wenzel, and K. Baberschke, Phys. Rev. B 41, 7297 (1990).
25. L. Tröger, T. Yokoyama, D. Arvanitis, T. Lederer, M. Tischer, and K. Baberschke, 49, 888 (1994), and references therein.
26. J. Stöhr, NEXAFS Spectroscopy (Springer-Verlag, Berlin, 1992).
27. Handbook on Synchrotron Radiation, edited by E. E. Koch (North-Holland, Amsterdam, 1983).
28. J. J. Yeh and I. Lindau, At. Data Nucl. Data Tables 32, 1 (1985).
29. J. Mustre de Leon, J. J. Rehr, R. C. Albers, and S. I. Zabinsky, Phys. Rev. B 44, 3937 (1992).
30. E. Sevillano, H. Meuth, and J. J. Rehr, Phys. Rev. B 20, 4908 (1979).
31. M. Katsikini, E. C. Paloura, T. Cheng, and C. T. Foxon, J. Appl. Phys. 82, 1166 (1997).
32. M. Leszczynski, H. Teisseyre, T. Suski, I. Grzegory, M. Bockowski, J. Jun, S. Porowski, K. Pakula, J. M. Baranowski, C. T. Foxon, and T. S. Cheng, Appl. Phys. Lett. 69, 73 (1996).
33. Y. M. Sirenko, J.-B. Jeon, K. W. Kim, M. A. Littlejohn, and M. A. Stroscio, Appl. Phys. Lett. 69, 2504 (1996).
34. J. Xie, J. Zi, and K. Zhang, Phys. Status Solidi B 192, 95 (1995).
35. S. Kamiyama, K. Ohnaka, M. Suzuki, and T. Uenoyama, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 34, L821 (1995).
36. M. Nido, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 34, L1513 (1995).
37. K. Kim, W. R. Lambrecht, and B. Segal, Phys. Rev. B 50, 1502 (1994).