Different contrast mechanisms induced by topography artifacts in near-field optical microscopy

Applied Physics Letters

Volumn 79, Issue 10, 2001, Pages 1543-1545

  Gucciardi, P G ^a   Colocci, M ^b  

^a CNR   (Italy)

^b INFM   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0345821870     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1402154     Document Type: Article

References (20)

1. D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984); A. Lewis, M. Isaacson, A. Harootunian, and A. Murray, Ultramicroscopy 13, 227 (1984).
2. D. W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984); A. Lewis, M. Isaacson, A. Harootunian, and A. Murray, Ultramicroscopy 13, 227 (1984).
3. E. Betzig, J. K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner, and R. L. Kostelak, Science 251, 1468 (1991).
4. P. Hoffmann, B. Dutoit, and R. P. Salathe, Ultramicroscopy 61, 165 (1995).
5. E. Betzig, P. L. Finn, and J. S. Weiner, Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992); R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, and M. Vaez-Iravani, ibid. 60, 2957 (1992).
6. E. Betzig, P. L. Finn, and J. S. Weiner, Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992); R. Toledo-Crow, P. C. Yang, Y. Chen, and M. Vaez-Iravani, ibid. 60, 2957 (1992).
7. B. Hecht, H. Bielefeldt, Y. Inouye, D. W. Pohl, and L. Novotny, J. Appl. Phys. 81, 2492 (1997).
8. R. Carminati, A. Mandrazo, M. Nieto-Vesperinas, and J.-J. Greffet, J. Appl. Phys. 82, 501 (1997).
9. P. J. Valle, J.-J. Greffet, and R. Carminati, J. Appl. Phys. 86, 648 (1999).
10. J. N. Walford, J. A. Porto, R. Carminati, J.-J. Greffet, P. M. Adam, S. Hudlet, J.-L. Bijeon, A. Stashkevich, and P. Royer, J. Appl. Phys. 89, 5159 (2001).
11. V. Sandoghdar, S. Wegscheider, G. Krausch, and J. Mlynek, J. Appl. Phys. 81, 2499 (1997).
12. S. I. Bozhevolnyi, J. Opt. Soc. Am. B 14, 2254 (1997).
13. C. E. Jordan, S. J. Stranick, L. J. Richter, and R. R. Cavenagh, J. Appl. Phys. 86, 2785 (1999).
14. M. Labardi, S. Patanè, and M. Allegrini, Appl. Phys. Lett. 77, 621 (2000).
15. K. D. Weston, J. A. DeAro, and S. K. Buratto, Rev. Sci. Instrum. 67, 2924 (1996); B. Hecht, H. Bielefeldt, D. W. Pohl, L. Novotny, and H. Heinzelmann, J. Appl. Phys. 84, 5873 (1998); T. David, C. Chicanne, N. Richard, J. R. Krenn, F. Scheurer, K. Ounadjela, M. Hehn, Y. Lacroute, and J.-P. Goudonnet, Rev. Sci. Instrum. 70, 4587 (1999).
16. K. D. Weston, J. A. DeAro, and S. K. Buratto, Rev. Sci. Instrum. 67, 2924 (1996); B. Hecht, H. Bielefeldt, D. W. Pohl, L. Novotny, and H. Heinzelmann, J. Appl. Phys. 84, 5873 (1998); T. David, C. Chicanne, N. Richard, J. R. Krenn, F. Scheurer, K. Ounadjela, M. Hehn, Y. Lacroute, and J.-P. Goudonnet, Rev. Sci. Instrum. 70, 4587 (1999).
17. K. D. Weston, J. A. DeAro, and S. K. Buratto, Rev. Sci. Instrum. 67, 2924 (1996); B. Hecht, H. Bielefeldt, D. W. Pohl, L. Novotny, and H. Heinzelmann, J. Appl. Phys. 84, 5873 (1998); T. David, C. Chicanne, N. Richard, J. R. Krenn, F. Scheurer, K. Ounadjela, M. Hehn, Y. Lacroute, and J.-P. Goudonnet, Rev. Sci. Instrum. 70, 4587 (1999).
18. For further informations http://snom.omicron.de
19. R. Brunner, A. Bietsch, O. Hollricher, and O. Marti, Rev. Sci. Instrum. 68, 1769 (1997).
20. M. Labardi, P. G. Gucciardi, M. Allegrini, and C. Pelosi, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 66, S397 (1998).