Vapor-Phase Adsorption Kinetics of 1-Decene on H-Terminated Si(100)

Langmuir

Volumn 19, Issue 22, 2003, Pages 9315-9320

  Kosuri, Madhava R ^a   Gerung, Henry ^a   Li, Qiming ^a   Han, Sang M ^a   Bunker, Bruce C ^b   Mayer, Thomas M ^b  

^a University of New Mexico   (United States)

^b SANDIA NATIONAL LABORATORIES   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ADSORPTION; CHEMICAL BONDS; CONTACT ANGLE; DEGRADATION; ELLIPSOMETRY; FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY; HYDROGENATION; HYDROPHOBICITY; ISOTHERMS; MONOLAYERS; RATE CONSTANTS; SELF ASSEMBLY; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

FILM THICKNESS;

SILICON;

EID: 0242576127     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la035153p     Document Type: Article

References (44)

1. Porter, M. D.; Bright, T. B.; Allara, D. L.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3559-3568.
2. Graham, R. L.; Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1993, 97, 9456-9464.
3. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022-9028.
4. Linford, M. R.; Fenter, P.; Eisenberger, P. M.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 3145-3155.
5. Han, S. M.; Ashurst, W. R.; Carraro, C.; Maboudian, R. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 2422-2425.
6. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533-1554.
7. Swalen, J. D.; Allara, D. L.; Andrade, J. D.; Chandross, E. A.; Garoff, S.; Israelachvili, J.; McCarthy, T. J.; Murray, R.; Pease, R. F.; Rabolt, J. F. ; Wynne, K. J.; Yu, H. Langmuir 1987, 3, 932-950.
8. Rehák, M.; xb3nejdárková, M.; Otto, M. Biosens. Bioelectron. 1994, 9, 337-341.
9. Rickert, J.; Weiss, T.; Kraas, W.; Jung, G.; Göpel, W. Biosens. Bioelectron. 1996, 11, 591-598.
10. Bhushan, B.; Kulkarni, A. V.; Koinkar, V. N.; Boehm, M.; Odoni, L.; Martelet, C.; Belin, M. Langmuir 1995, 11, 3189-3198.
11. Maboudian, R. Surf. Sci. Rep. 1998, 30, 207-270.
12. Bard, A.; Berggren, K. K.; Wilbur, J. L.; Gillaspy, J. D.; Rolston, S. L.; McClellend, J. J.; Phillips, W. D.; Prentiss, M.; Whitesides, G. M. J. Vac. Sci. Technol., B 1997, 15, 1805-1810.
13. Lercel, M. J.; Craighead, H. G.; Parikh, A. N.; Seshardri, K.; Allara, D. L. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 1504-1506.
14. Pan, M.; Yun, M.; Kozicki, M. N.; Whidden, T. K. Superlattices Microstruct. 1996, 20, 369-376.
15. Roscoe, S. B.; Kakkar, A. K.; Marks, T. J.; Malik, A.; Durbin, M. K.; Lin, W.; Wong, G. K.; Dutta, P. Langmuir 1996, 12, 4218-4228.
16. Collins, R. J.; Bae, I. T.; Scherson, D. A.; Sukenik, C. N. Langmuir 1996, 12, 5509-5511.
17. Linford, M. R.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1993, 775, 12631-12632.
18. Bansal, A.; Li, X. L.; Lauermann, I.; Lewis, N. S.; Yi, S. I.; Weinberg, W. H. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 7225-7226.
19. Chabal, Y. J. Surf. Sci. 1986, 168, 594-608.
20. Chabal, Y. J. Surf. Sci. Rep. 1988, 8, 211-357.
21. Neuwald, U.; Feltz, A.; Memmert, U.; Behm, R. J. J. Appl. Phys. 1995, 78, 4131-4136.
22. Higashi, G. S.; Becker, R. S.; Chabal, Y. J.; Becker, A. J. Appl. Phys. Lett. 1991, 58, 1656-1658.
23. Muller, R. H.; Farmer, J. C. Rev. Sci. Instrum. 1884, 55, 371-374.
24. Ashurst, W. R.; Yau, C.; Carraro, C.; Lee, C.; Kluth, G. J.; Howe, R. T. ; Maboudian, R. Sens. Actuators, A - Phys. 2001, 91, 239-248.
25. Bellamy, L. J. The Infrared Spectra of Complex Molecules, 2nd ed.; John Wiley & Sons: New York, 1958.
26. Chabal, Y. J. In Studies of Semiconductor Surfaces: Vibrational Spectroscopy of Adsorbates in Internal Reflection Spectroscopy; Francis, M., Mirabella, J., Eds.; Marcel Dekker: New York, 1993; Vol. 15, pp 191-231.
27. Boukherroub, R.; Morin, S.; Bensebaa, F.; Wayner, D. D. M. Langmuir 1999, 15, 3831-3835.
28. Yuan, S.-L.; Cai, Z.-T.; Jiang, Y.-S. New J. Chem. 2003, 27, 626-633.
29. Sinniah, K.; Sherman, M. G.; Lewis, L. B.; Weinberg, W. H.; Yates, J. T. ; Janda, K. C. J. Chem. Phys. 1990, 92, 5700-5711.
30. Flowers, M. C.; Jonathan, N. B. H.; Liu, Y.; Morris, A. J. Chem. Phys. 1993, 99, 7038-7048.
31. Höfer, U.; Li, L.; Heinz, T. F. Phys. Rev. B 1992, 45, 9485-9488.
32. Dumas, P.; Chabal,Y. J. Chem. Phys. Lett. 1991, 181, 537-543.
33. Aubuchon, C. M.; Davison, B. S.; Nishimura, A. M.; Tro, N. J. J. Phys. Chem. 1994, 95, 240-244.
34. Jakob, P.; Chabal, Y. J.; Ragavachari, K. Chem. Phys. Lett. 1991, 187, 325-333.
35. Kessels, W. M. M.; Marra, D. C.; Sanden, M. C. M. v. d.; Aydil, E. S. J. Vac. Sci. Technol. 2002, 20, 781-788.
36. Hofmann, S. In Depth Profiling in AES and XPS in Practical Surface Analysis, 2nd ed.; Briggs, D., Seah, M. P., Eds.; John Wiley & Sons: New York, 1990; Vol. 1, p 183.
37. Scofield, J. H. J. Electron Spectrosc. 1976, 8, 129-137.
38. Yeh, J. J.; Lindau, I. At. Data Nucl. Data Tables 1985, 32, 1-155.
39. Band, I. M.; Kharitonov, Y. I.; Trzhaskovskaya, M. B. At. Data Nucl. Data Tables 1979, 23, 443-505.
40. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, C. M. J. Phys. Chem. 1991, 95, 7017-7021.
41. Bergerson, W. F.; Mulder, J. A.; Hsung, R. P.; Zhu, X. Y. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 454-455.
42. Terry, J.; Linford, M. R.; Wigren, C.; Cao, R.; Pianetta, P.; Chidsey, C. E. D. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 1056-1058.
43. Cole, D. A.; Shallenberger, J. R.; Novak, S. W.; Moore, R. L.; Edgell, M. J.; Smith, S. P.; Hitzman, C. J.; Kirchhoff, J. F.; Principe, E.; Nieveen, W.; Huang, F. K.; Biswas, S.; Bleiler, R. J.; Jones, K. J. Vac. Sci. Technol., B 2000, 18, 440-444.
44. n. In Handbook of Optical Constant II; Palik, E. D., Ed.; Academic Press: Orlando, FL, 1991; pp 957-987.