Boundary friction of aromatic self-assembled monolayers: Comparison of systems with one or both sliding surfaces covered with a thiol monolayer

Langmuir

Volumn 19, Issue 17, 2003, Pages 6788-6795

  Ruths, M ^a  

^a ÅBO AKADEMI UNIVERSITY   (Finland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FRICTION FORCE MICROSCOPY;

ADHESION; AROMATIC COMPOUNDS; LUBRICANTS;

MONOLAYERS;

EID: 0042379819     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la034003b     Document Type: Article

References (71)

1. Heenan, D. F.; Januszkiewicz, K. R.; Sulek, H. H. Wear 1988, 123, 257.
2. Oumar-Mahamat, H.; Horodysky, A. G.; Jeng, A. U.S. Patent 5514289, 1996.
3. Nuzzo, R. G.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1983, 105, 4481.
4. Bain, C. D.; Troughton, E. B.; Tao, Y.-T.; Evall, J.; Whitesides, G. M.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321.
5. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152.
6. (a) Ulman, A. An Introduction to Ultrathin Organic Films: From Langmuir-Blodgett to Self-Assembly; Academic Press: Boston, 1991.
7. (b) Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
8. Noy, A.; Frisbie, C. D.; Rozsnyai, L. F.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 7943.
9. Green, J.-B. D.; McDermott, M. T.; Porter, M. D.; Siperko, L. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 10960.
10. Carpick, R. W.; Salmeron, M. Chem. Rev. 1997, 97, 1163.
11. Lio, A.; Charych, D. H.; Salmeron, M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 3800.
12. Lio, A.; Morant, C.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 4767.
13. Kiely, J. D.; Houston, J. E. Langmuir 1999, 15, 4513.
14. Clear, S. C.; Nealey, P. F. J. Colloid Interface Sci. 1999, 213, 238.
15. Li, L.; Yu, Q.; Jiang, S. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 8290.
16. van der Vegte, E. W.; Subbotin, A.; Hadziioannou, G.; Ashton, P. R.; Preece, J. A. Langmuir 2000, 16, 3249.
17. Salmeron, M. Trib. Lett. 2001, 10, 69.
18. Kim, H. I.; Boiadjiev, V.; Houston, J. E.; Zhu, X.-Y.; Kiely, J. D. Trib. Lett. 2001, 10, 97.
19. Gui, J. Y.; Stern, D. A.; Frank, D. G.; Lu, P.; Zapien, D. C.; Hubbard, A. T. Langmuir 1991, 7, 955.
20. Carron, K. T.; Hurley, L. G. J. Phys. Chem. 1991, 95, 9979.
21. Kim, Y.-T.; McCarley, R. L.; Bard, A. J. J. Phys. Chem. 1992, 96, 7416.
22. Sabatani, E.; Cohen-Boulakia, J.; Bruening, M.; Rubinstein, I. Langmuir 1993, 9, 2974.
23. Mohri, N.; Inoue, M.; Arai, Y.; Yoshikawa, K. Langmuir 1995, 11, 1612.
24. Dhirani, A.-A.; Zehner, R. W.; Hsung, R. P.; Guyot-Sionnest, P.; Sita, L. R. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 3319.
25. Hayes, W. A.; Shannon, C. Langmuir 1996, 12, 3688.
26. Hayes, W. A.; Kim, H.; Yue, X.; Perry, S. S.; Shannon, C. Langmuir 1997, 13, 2511.
27. Tao, Y.-T.; Wu, C.-C., Eu, J.-Y., Lin, W.-L.; Wu, K.-C.; Chen, C.-h. Langmuir 1997, 13, 4018.
28. Lukkari, J.; Kleemola, K.; Meretoja, M.; Ollonqvist, T.; Kankare, J. Langmuir 1998, 14, 1705.
29. Szafranski, C. A.; Tanner, W.; Laibinis, P. E.; Garrell, R. L. Langmuir 1998, 14, 3570.
30. Abduaini, A.; Kera, S.; Aoki, M.; Okudaira, K. K.; Ueno, N.; Harada, Y. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88-91, 849.
31. Jung, H. H.; Won, Y. D.; Shin, S.; Kim, K. Langmuir 1999, 15, 1147.
32. Whelan, C. M.; Barnes, C. J.; Walker, C. G. H.; Brown, N. M. D. Surf. Sci. 1999, 425, 195.
33. Sawaguohi, T.; Mizutani, F.; Yoshimoto, S.; Taniguchi, I. Electrochim. Acta 2000, 45, 2861.
34. Gole, A.; Sainkar, S. R.; Sastry, M. Chem. Mater. 2000, 12, 1234.
35. Wan, L.-J.; Terashima, M.; Noda, H.; Osawa, M. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 3563.
36. Batz, V.; Schneeweiss, M. A.; Kramer, D.; Hagenström, H.; Kolb, D. M.; Mandler, D. J. Electroanal. Chem. 2000, 491, 55.
37. Frey, S.; Stadler, V.; Heister, K.; Eck, W.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Zeysing, B.; Terfort, A. Langmuir 2000, 17, 2408.
38. Israelachvili, J. N.; Berman, A. D. In Handbook of Micro/Nanotribology, 2nd ed.; Bhushan, B., Ed.; CRC Press: Boca Raton, FL, 1999; pp 371-432.
39. Mate, C. M.; McClelland, G. M.; Erlandason, R.; Chiang, S. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 1942.
40. Meyer, G.; Amer, N. M. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 2089.
41. Meyer, E.; Overney, R. M.; Dransfeldt, K.; Gyalog, T. Nanoscience: Friction and Rheology on the Nanometer Scale; World Scientific: Singapore, 1998.
42. Enachescu, M.; van den Oetelaar, R. J. A.; Carpiok, R. W.; Ogletree, D. F.; Flipse, C. F. J.; Salmeron, M. Trib. Lett. 1999, 7, 73.
43. Kim, H. I.; Houston, J. E. J. Am. Chem. Soc. 2000, 112, 12045.
44. Schwarz, U. D.; Allers, W.; Gensterblum, G.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 1995, 52, 14976.
45. Berman, A.; Drummond, C.; Israelachvili, J. Trib. Lett. 1998, 4, 95.
46. Briscoe, B. J.; Evans, D. C. B. Proc. R. Soc. London A 1982, 380, 389.
47. Ruths, M.; Alcantar, N. A.; Israelachvili, J. N. Unpublished data.
48. Valtakari, D. Master's thesis, Åbo Akademi University, Åbo, Finland, 2002.
49. Lantz, M. A.; O'Shea, S. J.; Hoole, A. C. F.; Welland, M. E. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 970.
50. Carpick, R. W.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 1548.
51. Piétrement, O.; Beaudoin, J. L.; Troyon, M. Trib. Lett. 1999, 7, 213
52. Cleveland, J. P.; Manne, S.; Bocek, D.; Hansma, P. K. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 403.
53. Sader, J. E.; Chon, J. W. M.; Mulvaney, P. Rev. Sci. Instrum. 1999, 70, 3967.
54. Buenviaje, C. K.; Ge, S.-R.; Rafailovich, M. H.; Overney, R. M. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1998, 522, 187.
55. (a) Liu, Y.; Wu, T.; Evans, D. F. Langmuir 1994, 10, 2241.
56. (b) Liu, Y.; Evans, D. F.; Song, Q.; Grainger, D. W. Langmuir 1996, 12, 1235.
57. Sader, J. E.; Larson, I.; Mulvaney, P.; White, L. R. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 3789.
58. Cain, R. G.; Reitsma, M. G.; Biggs, S.; Page, N. W. Rev. Sci. Instrum. 2001, 72, 3304.
59. McNeil, L. E.; Grimsditch, M. J. Phys. Condens. Matter 1993, 5, 1681.
60. Weisenhorn, A. L., Maivald, P.; Butt, H.-J.; Hansma, P. K. Phys. Rev. B 1992, 45, 11226.
61. Gee, M. L.; Israelachvili, J. N. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1990, 86, 4049.
62. Frink, L. J. D.; van Swol, F. J. Chem. Phys. 1998, 108, 5588.
63. Ederth, T. Langmuir 2001, 17, 3329.
64. Löning, S.; Horst, C.; Hoffmann, U. Chem. Eng. Technol. 2001, 24, 242.
65. Liu, G.-y.; Salmeron, M. B. Langmuir 1994, 10, 367.
66. Yoshizawa, H.; Chen, Y. L.; Israelachvili, J. J. Phys. Chem. 1993, 97, 4128.
67. Kang, J. F.; Liao, S.; Jordan, R.; Ulman, A. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 9662.
68. Brewer, N. J.; Beake, B. D.; Leggett, G. J. Langmuir 2001, 17, 1970.
69. Beilstein, 4th Suppl. Ser., 13, 1289.
70. Beilstein, 4th Suppl. Ser., 6, 2632.
71. Beilstein, 4th Suppl. Ser., 6, 1463.