Quantitative Measurements of Frictional Properties of n-Alkanethiols on Au(111) by Scanning Force Microscopy

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 103, Issue 39, 1999, Pages 8290-8295

  Li, Lingyan ^a   Yu, Qiuming ^a   Jiang, Shaoyi ^a  

^a Sunflower Networking Group   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000952803     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp990645p     Document Type: Article

References (45)

1. Carpick, R. W.; Salmeron, M. Chem. Rev. 1997, 97, 1163.
2. Bhushan, B.; Israelachvili, J. N.; Landman, U. Nature 1995, 374, 607.
3. Binnig, G.; Quate, C. F.; Gerber, C. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 930.
4. Mate, C. M.; McClelland, G. M.; Erlandsson, R.; Chiang, S. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 1942.
5. Howe, R. T. J. Vac. Sci. Technol. 1988, B6, 1809.
6. Miu, D. K.; Wu, S.; Temesvary, V.; Tai, Y.-C. Adv. Info. Storage Syst. 1993, 5, 139.
7. Zarrad, H.; Clechett, P.; Belin, M.; Martelet, C.; Jaffrezic-Renault, N. J. Micromech. Microeng. 1993, 3, 222.
8. Bhushan, B.; Kulkarni, A. V.; Koinkar, V. N.; Boehm, M.; Odoni, L.; Martelet, C.; Belin, M. Langmuir 1995, 11, 3189.
9. Nuzzo, R. G.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1983, 105, 4481.
10. Whitesides, G. M.; Ferguson, G. S. Chemtracts 1988, 1, 171.
11. Chidsey, C. E. D.; Liu, G.; Rowntree, P.; Scoles, G. J. Chem. Phys. 1989, 91, 4421.
12. Nuzzo, R. G.; Dubois, L. H.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 558.
13. Lio, A.; Charych, D. H.; Salmeron, M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 3800.
14. McDermott, M. T.; Green, J.-B. D.; Porter, M. D. Langmuir 1997, 13, 2504.
15. Kim, H. I.; Koini, T.; Lee, T. R.; Perry, S. S. Langmuir 1997, 13, 7192.
16. Ogletree, D. F.; Carpick, R. W.; Salmeron, M. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 3298.
17. O'Shea, S. J.; Weiland, M. E.; Wong, T. M. H. Ultramicroscopy 1993, 52, 55.
18. Carpick, R. W.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 1548.
19. Liu, Y.; Wu, T.; Evans, D. F. Langmuir 1994, 10, 2241.
20. Xiao, X.; Hu, J.; Charych, D. H.; Salmeron, M. Langmuir 1996, 12, 235.
21. Meyer, E.; Overney, R.; Brodbeck, D.; Howald, L.; Luthi, R.; Frommer, J.; Guntherodt, H.-J. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 1777. Overney, R. M.; Meyer, E.; Frommer, J.; Guntherodt, H.-J.; Decher, G.; Sohling, U. Langmuir 1993, 9, 341.
22. Meyer, E.; Overney, R.; Brodbeck, D.; Howald, L.; Luthi, R.; Frommer, J.; Guntherodt, H.-J. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 1777. Overney, R. M.; Meyer, E.; Frommer, J.; Guntherodt, H.-J.; Decher, G.; Sohling, U. Langmuir 1993, 9, 341.
23. O'Shea, S. J.; Weiland, M. E.; Rayment, T. Langmuir 1993, 9, 1826.
24. Frisbie, C. D.; Tozsnyai, L. F.; Noy, A.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. Science 1994, 265, 2071.
25. Noy, A.; Frisbie, C. D.; Rozsnyai, L. F.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 7943.
26. Noy, A.; Vezenov, D. V.; Lieber, C. M. Annu. Rev. Mater. Sci. 1997, 27, 381.
27. Green, J. B. D.; McDermott, M. T.; Porter, M. D.; Siperko, L. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 10960.
28. Albrecht, T. R.; Akamine, S.; Carver, T. E.; Quate, C. F. J. Vac. Sci. Technol. A 1990, 8, 3386.
29. Butt, H.-J.; Siedle, P.; Seifert, K.; Fendler, K.; Deeger, T.; Bamberg, E.; Weisenhorn, A. L.; Goldie, K.; Engel, A. J. Microsc. 1993, 169, 75.
30. Neumeister, J. M.; Ducker, W. A. Rev. Sci. Instrum. 1994, 65, 2527.
31. Sader, J. E. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 4583.
32. Cleveland, J. P.; Manne, S. Bocek, D. Hansma, P. K. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 403. Sader J. E.; Larson, I.; Mulvaney, P.; White, L. R. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 3789.
33. Cleveland, J. P.; Manne, S. Bocek, D. Hansma, P. K. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 403. Sader J. E.; Larson, I.; Mulvaney, P.; White, L. R. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 3789.
34. Ruan, J. A.; Bhusan, B. Trans. ASME J. Tribol. 1994, 116, 378. Li, Y. Q.; Tan, N. J.; Pan, J.; Garcia, A. A.; Lindsay, S. M. Langmuir 1993, 9, 637. Gibson, C. T.; Watson, G. S.; Myhra, S. Nanotechnology 1996, 7, 259.
35. Ruan, J. A.; Bhusan, B. Trans. ASME J. Tribol. 1994, 116, 378. Li, Y. Q.; Tan, N. J.; Pan, J.; Garcia, A. A.; Lindsay, S. M. Langmuir 1993, 9, 637. Gibson, C. T.; Watson, G. S.; Myhra, S. Nanotechnology 1996, 7, 259.
36. Ruan, J. A.; Bhusan, B. Trans. ASME J. Tribol. 1994, 116, 378. Li, Y. Q.; Tan, N. J.; Pan, J.; Garcia, A. A.; Lindsay, S. M. Langmuir 1993, 9, 637. Gibson, C. T.; Watson, G. S.; Myhra, S. Nanotechnology 1996, 7, 259.
37. Clavilier, J.; Armand, D.; Wu, B. L. J. Electroanal. Chem. Interfacial Electrochem. 1982, 135, 159. Hidetoshi, H.; Sugawara, S.; Itaya, K. Anal. Chem. 1990, 62, 2424. Hayes, W. A.; Shannon, C. Langmuir 1998, 14, 1099.
38. Clavilier, J.; Armand, D.; Wu, B. L. J. Electroanal. Chem. Interfacial Electrochem. 1982, 135, 159. Hidetoshi, H.; Sugawara, S.; Itaya, K. Anal. Chem. 1990, 62, 2424. Hayes, W. A.; Shannon, C. Langmuir 1998, 14, 1099.
39. Clavilier, J.; Armand, D.; Wu, B. L. J. Electroanal. Chem. Interfacial Electrochem. 1982, 135, 159. Hidetoshi, H.; Sugawara, S.; Itaya, K. Anal. Chem. 1990, 62, 2424. Hayes, W. A.; Shannon, C. Langmuir 1998, 14, 1099.
40. Sheiko, S. S.; Möller, M.; Reuvekamp, E. M. C. M.; Zandbergen, H. W. Phys. Rev. B 1993, 48, 5675.
41. Stokey, W. F. Shock and Vibration Handbook; McGraw-Hill: New York, 1989.
42. Strong, L.; Whitesides, G. M. Langmuir 1988, 4, 546.
43. Liu, G.; Salmeron, M. B. Langmuir 1994, 10, 367.
44. Balasundaram, R.; Li, L.; Jiang, S. Annual AIChE Meeting, Miami, FL, November, 1998.
45. Hu, J.; Xiao, X.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Surf. Sci. 1995, 327, 358.