Atomic force microscopy probes go electrochemical

Analytical Chemistry

Volumn 74, Issue 21, 2002, Pages

  Gardner, Catherine E ^a   Macpherson, Julie V ^a  

^a UNIVERSITY OF WARWICK   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; BIOLOGICAL MEMBRANES; DIAMONDS; ELECTRODES; PROBES; SURFACE TOPOGRAPHY;

ELECTROCHEMICAL;

ELECTROCHEMISTRY;

DIAMOND;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELECTROCHEMISTRY; ELECTRODE; IMAGING; NANOTECHNOLOGY; REVIEW; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SURFACE PROPERTY; TECHNIQUE;

EID: 0036830473     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Review

References (45)

1. Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, C.; Weibel, E. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 120-123.
2. Colton, R. J.; Engel, A.; Frommer, J. E.; Gaub, H. E.; Eds.; Procedures in Scanning Probe Microscopies; John Wiley & Sons: New York, 1998.
3. Binnig, G.; Quate, C. F.; Gerber, C. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 930-933.
4. Albrecht, T.; Akamine, S.; Carver, T. E.; Quate, C. F. J. Vac. Sci. Technol., A 1990, 8, 3386-3396.
5. Ohnesorge, F. M.; Horber, J. K. H.; Haberle, W.; Czerny, C. P.; Smith, D. P. E.; Binnig, G. Biophys. J. 1997, 73, 2183-2194.
6. Noy, A.; Vezenov, D. V.; Lieber, C. M. Annu. Rev. Mater. Sci. 1997, 27, 381-421.
7. Frisbie, C. D.; Rosnyai, L. F.; Noy, A.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. Science 1994, 265, 2071-2074.
8. Rief, M.; Gautel, M.; Oesterhelt, F.; Fernandez, J. M.; Gaub, H. E. Science 1997, 276, 1109-1112.
9. Lee, G. U.; Chrisey, L. A.; Colton, R. J. Science 1994, 266, 771-773.
10. Hansma, H. G. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 1999, 96, 14678-14680.
11. Bard, A. J.; Fan, F.-R. F.; Pierce, D. T.; Unwin, P. R.; Wipf, D. O.; Zhou, F. Science 1991, 254, 68-74.
12. Mirkin, M. V. Anal. Chem. 1996, 68, 177 A-182 A.
13. Engstrom, R. C.; Weber, M.; Wunder, D. J.; Burgess, R.; Winquist, S. Anal. Chem. 1986, 58, 844-848.
14. Bard, A. J.; Fan, F.-R. F.; Kwak, J.; Lev, O. Anal. Chem. 1989, 61, 132-138.
15. Shao, Y.; Mirkin, M. V.; Fish, G.; Kokotov, S.; Palanker, D.; Lewis, A. Anal. Chem. 1997, 69, 1627-1634.
16. Ballesteros Katemann, B.; Schuhmann, W. Electroanalysis 2002, 14, 22-28.
17. Slevin, C. J.; Gray, N. J.; Macpherson, J. V.; Webb, M. A.; Unwin, P. R. Electrochem. Comm. 1999, 1, 282-288.
18. Barker, A. L.; Gonsalves, M.; Macpherson, J. V.; Slevin, C. J.; Unwin, P. R. Anal. Chim. Acta 1999, 385, 223-240.
19. Hansma, P. K.; Drake, B.; Marti, O.; Gould, S. A. C.; Prater, C. B. Science 1989, 243, 641-643.
20. Korchev, Y. E.; Bashford, C. L.; Milovanovic, M.; Vodyanoy, I.; Lab, M. J. Biophys. J. 1997, 73, 653-658.
21. Ludwig, M.; Kranz, C.; Schuhmann, W.; Gaub, H. E. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 2857-2860.
22. James, P. I.; Garfias-Mesias, L. F.; Moyer, P. J.; Smyrl, W. H. J. Electrochem. Soc. 1998, 145, L64-L66.
23. Hengstenberg, A.; Kranz, C.; Schuhmann, W. Chem. Eur. J. 2000, 6, 1547-1554.
24. O'Shea, S. J.; Atta, R. M.; Welland, M. E. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 2508-2512.
25. Jones, C. E.; Macpherson, J. V.; Barber, Z. H.; Somekh, R. E.; Unwin, P. R. Electrochem. Comm. 1999, 1, 55-60.
26. Fan, F.-R. F.; Bard, A. J.; Guckenberger, R.; Heim, M. Science 1995, 270, 1849-1852.
27. Fan, F.-R.F; Bard, A. J. Proc. Natl. Acad. Sci . U.S.A. 1999, 96, 14222-14227.
28. Macpherson, J. V.; Jones, C. E.; Barker, A. L.; Unwin, P. R. Anal. Chem. 2002, 74, 1841-1848.
29. Macpherson, J. V.; Unwin, R R.; Hillier, A. C.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 6445-6452.
30. Jones, C. E.; Macpherson, J. V.; Unwin, P. R. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 2351-2359.
31. Jones, C. E., Ph.D. Thesis, University of Warwick (United Kingdom), 2000.
32. Diaz, D. J.; Hudson, J. E.; Storrier, G. D.; Abruña, H. D.; Sundarajan, N.; Ober, C. K. Langmuir 2001, 17, 5932-5938.
33. Hudson, J. E.; Abruña, H. D. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 6303-6304.
34. Penner, R. M.; Heben, M. J.; Longin, T. L.; Lewis, N. S. Science 1990, 250, 1118-1121.
35. Nagahara, L. A.; Thundat, T.; Lindsay, S. M. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 3128-3130.
36. Stern, J. E.; Terris, B. D.; Mamin, H. J.; Rugar, D. Appl. Phys. Lett. 1988, 53, 2717-2719.
37. Macpherson, J. V.; Unwin, P. R. Anal. Chem. 2000, 72, 276-285.
38. Macpherson, J. V.; Unwin, P. R. Anal. Chem. 2001, 73, 550-557.
39. Macpherson, J. V.; Gueneau de Mussy, J. P.; Delplancke, J. L. J. Electrochem. Soc. 2002, 149, B306-B313.
40. Zhou, H.; Mills, G.; Chong, B. K.; Midha, A.; Donaldson, L.; Weaver, J. M. R. J. Vac. Sci. Technol., A 1999, 17, 2233-2239.
41. Baller, M. K.; et al. Ultramicroscopy 2000, 82, 1-9.
42. Kranz, C.; Friedbacher, G.; Mizaikoff, B. Anal. Chem. 2001, 73, 2491-2500.
43. Amman, E.; Beuret, C.; Indermuhle, P. F.; Kotz, R.; de Rooij, N. F.; Siegenthaler, H. Electrochim. Acta 2001, 47, 327-334.
44. Vettiger, R.; et al. IBM J. Res. Dev. 2000, 44, 323.
45. Cheung, C. L.; Hafner, J. H.; Lieber, C. M. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2000, 97, 3809-3813.