Nanocrystals acting as Coulomb islands operating at room temperature created using a focused ion-beam process

Applied Physics Letters

Volumn 79, Issue 1, 2001, Pages 120-122

  Kim, T W ^a   Choo, D C ^a   Shim, J H ^a   Jung, M ^a   Kang, S O ^a   Lee, H S ^b   Lee, J Y ^b  

^a Kwangwoon University   (South Korea)

^b Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035796662     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1378052     Document Type: Article

References (28)

1. Single Charge Tunneling, edited by H. Gravert and M. H. Devoret (Plenum, New York, 1992).
2. T. A. Fulton, P. L. Gammel, and L. N. Dunkleberger, Phys. Rev. Lett. 67, 3148 (1991).
3. E. Leobandung, L. Guo, Y. Wang, and S. Y. Shou, Appl. Phys. Lett. 67, 2338 (1995).
4. M. Field, C. G. Smith, M. Pepper, K. M. Brown, E. H. Linfield, M. P. Grimshaw, D. A. Ritchie, and G. A. C. Jones, Phys. Rev. Lett. 77, 350 (1996).
5. L. Zhuang, L. Guo, and S. Y. Chou, Appl. Phys. Lett. 72, 1205 (1998).
6. S. Tiwari, F. Rana, H. Hanafi, A. Hartstein, E. F. Crabbe, and K. Chan, Appl. Phys. Lett. 68, 1377 (1996).
7. D. C. Ralph, C. T. Black, and M. Tinkham, Phys. Rev. Lett. 78, 4087 (1997).
8. A. Nakajima, T. Futatsugi, K. Kosemura, T. Fukamo, and N. Yokoyama, Appl. Phys. Lett. 70, 1742 (1997).
9. H. Ishikura and T. Hiramoto, Appl. Phys. Lett. 71, 3691 (1997).
10. N. B. Zhitenev, R. C. Ashoori, L. N. Pfieiffer, and K. W. West, Phys. Rev. Lett. 79, 2308 (1997).
11. J. Shirakashi, K. Matsumoto, N. Miura, and M. Konagi, Appl. Phys. Lett. 72, 1893 (1998).
12. Y. Toda, O. Moriwaki, M. Nishioka, and Y. Arakawa, Phys. Rev. Lett. 82, 4224 (1999).
13. P. C. Sercel, A. L. Efros, and M. Rosen, Phys. Rev. Lett. 83, 2394 (1999).
14. K. K. Likahrev, Proc. IEEE 87, 606 (1999).
15. K. Matsumoto, Y. Gotoh, T. Maeda, J. A. Dagata, and J. S. Harris, Appl. Phys. Lett. 76, 239 (2000).
16. E. Leobandung, L. Guo, Y. Wang, and S. Y. Chou, Appl. Phys. Lett. 67, 938 (1995).
17. H. Ishikuro, T. Fujii, T. Saraya, G. Hashiguchi, T. Hiramoto, and T. Ikoma, Appl. Phys. Lett. 68, 3585 (1996).
18. E. S. Snow and P. M. Cambell, Appl. Phys. Lett. 64, 1932 (1994).
19. K. Matsumoto, M. Ishii, K. Segawa, Y. Oka, B. J. Vartanian, and J. S. Harris, Appl. Phys. Lett. 68, 34 (1996).
20. K. Matsumoto, Proc. IEEE 85, 642 (1997).
21. T. Bever, G. Jager-Waldau, M. Eckberg, E. T. Heyen, H. Lage, A. D. Wieck, and K. Ploog, J. Appl. Phys. 72, 1858 (1992).
22. T. Fujisawa and S. Tarucha, Appl. Phys. Lett. 68, 526 (1996).
23. M. Tanaka, K. Furuya, and T. Saito, Appl. Phys. Lett. 68, 961 (1996).
24. H. Kim, T. Noda, and H. Sakaki, J. Vac. Sci. Technol. B 16, 2547 (1998).
25. T. W. Kim, S. O. Kang, D. C. Choo, and J. H. Sim, Appl. Phys. Lett. 76, 1036 (2000).
26. G. S. Cho, E. H. Choi, Y. Seo, T. W. Kim, and S. O. Kang, J. Appl. Phys. 74, 3503 (1993).
27. L. W. Swanson and A. E. Bell, J. Appl. Phys. 20, 1657 (1987).
28. B. Lu, C. Wang, and Y. Zhang, Appl. Phys. Lett. 70, 717 (1997).