Direct experimental observation of the local electronic structure at threading dislocations in metalorganic vapor phase epitaxy grown wurtzite GaN thin films

Applied Physics Letters

Volumn 76, Issue 4, 2000, Pages 466-468

  Xin, Y ^a   James, E M ^a   Arslan, I ^a   Sivananthan, S ^a   Browning, N D ^a   Pennycook, S J ^b   Omnes F ^c   Beaumont, B ^c   Faurie, J P ^c   Gibart, P ^c  

^a UNIVERSITY OF ILLINOIS AT CHICAGO   (United States)

^b OAK RIDGE NATIONAL LABORATORY   (United States)

^c CRHEA CNRS   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001223298     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.125789     Document Type: Article

References (23)

1. S. D. Lester, F. A. Ponce, M. G. Craford, and D. A. Steigerwald, Appl. Phys. Lett. 66, 1249 (1995).
2. J. Elsner, R. Jones, P. K. Sitch, V. D. Porezag, M. Elstner, T. Frauenheim, M. I. Heggie, S. Oberg, and P. R. Briddon, Phys. Rev. Lett. 79, 3672 (1997).
3. S. Nakamura, M. Senoh, S. Nagahama, N. Iwasa, T. Yamada, T. Matsushita, H. Kiyoku, Y. Sugimoto, T. Kozaki, H. Umemoto, M. Sano, and K. Chocho, Appl. Phys. Lett. 72, 211 (1998).
4. O. Nam, M. D. Bremser, and R. F. Davis, Appl. Phys. Lett. 71, 2638 (1997).
5. S. J. Rosner, E. C. Carr, M. J. Ludowise, G. Girolami, and H. I. Erikson, Appl. Phys. Lett. 70, 420 (1997).
6. T. Sugahara, H. Sato, M. S. Hao, Y. Naoi, S. Kurai, S. Tottori, K. Yamashita, K. Nishino, L. T. Romano, and S. Sakai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 37, L398 (1998).
7. A. F. Wright and U. Grossner, Appl. Phys. Lett. 73, 2751 (1998).
8. J. Elsner, R. Jones, M. I. Heggie, P. K. Sitch, M. Haugk, V. D. Porezag, Th. Frauenheim, S. Oberg, and P. R. Briddon, Phys. Rev. B 58, 12571 (1998).
9. N. G. Weimann, L. F. Eastman, D. Doppalapudi, H. M. Ng, and T. D. Moustakas, J. Appl. Phys. 83, 3656 (1998).
10. P. J. Hansen, Y. E. Strausser, A. N. Erickson, E. J. Tarsa, P. Kozodoy, E. G. Brazel, J. P. Ibbetson, U. Mishra, V. Narayanamurti, S. P. DenBaars, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 72, 2247 (1998).
11. C. Youtsey, L. T. Romano, and I. Adesida, Appl. Phys. Lett. 73, 797 (1998).
12. D. C. Look and J. R. Sizelove, Phys. Rev. Lett. 82, 1237 (1999).
13. Y. Xin, S. J. Pennycook, N. D. Browning, P. D. Nellist, S. Sivananthan, J.-P. Faurie, and P. Gibart, Appl. Phys. Lett. 72, 2680 (1998).
14. E. M. James and N. D. Browning, Ultramicroscopy 78, 125 (1999).
15. S. J. Pennycook and D. E. Jesson, Ultramicroscopy 37, 14 (1991).
16. N. D. Browning, M. F. Chisholm, and S. J. Pennycook, Nature (London) 366, 143 (1993).
17. M. Hao, T. Sugahara, H. Sato, Y. Morishima, Y. Naoi, L. T. Romano, and S. Sakai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 37, L291 (1998).
18. R. F. Egerton, Electron Energy Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, 2nd ed. (Plenum, New York, 1996).
19. T. J. Eustis and J. Silcox, Microsc. Microanal. 5, 642 (1999).
20. A. L. Ankudinov, B. Ravel, J. J. Rehr, and S. D. Conradson, Phys. Rev. B 58, 7565 (1998).
21. N. D. Browning, J. Yuan, and L. M. Brown, Ultramicroscopy 38, 291 (1991).
22. M. Katsikini, E. C. Paloura, and T. D. Moustakas, J. Appl. Phys. 83, 1437 (1998).
23. K. Lawniczak-Jablonska, T. Suski, Z. Liliental-Weber, E. M. Gullikson, J. H. Underwood, R. C. C. Perera, and T. J. Drummond, Appl. Phys. Lett. 70, 2711 (1997).