-
1
-
-
84862169019
-
-
Boettler, W.; Smirnov, V.; Huepkes, J.; Finger, F. Phys. Status Solidi A 2012, 209, 1144-1149
-
(2012)
Phys. Status Solidi A
, vol.209
, pp. 1144-1149
-
-
Boettler, W.1
Smirnov, V.2
Huepkes, J.3
Finger, F.4
-
2
-
-
0031162080
-
-
Kim, K. H.; Park, K. C.; Ma, D. Y. J. Appl. Phys. 1997, 81, 7764-7772
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.81
, pp. 7764-7772
-
-
Kim, K.H.1
Park, K.C.2
Ma, D.Y.3
-
3
-
-
33751418152
-
-
Chen, Y. W.; Yu, W. H.; Liu, Y. C. Sci. China, Ser. G: Phys., Mech. Astron 2004, 47, 588-596
-
(2004)
Sci. China, Ser. G: Phys., Mech. Astron
, vol.47
, pp. 588-596
-
-
Chen, Y.W.1
Yu, W.H.2
Liu, Y.C.3
-
4
-
-
33846615556
-
-
Sahu, D. R.; Lin, S. Y.; Huang, J. L. Microelectron. J. 2007, 38, 245-250
-
(2007)
Microelectron. J.
, vol.38
, pp. 245-250
-
-
Sahu, D.R.1
Lin, S.Y.2
Huang, J.L.3
-
5
-
-
0029753292
-
-
Suzuki, A.; Matsushita, T.; Wada, N.; Sakamoto, Y.; Okuda, M. Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 1996, 35, L56-L59
-
(1996)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
, vol.35
, pp. 56-L59
-
-
Suzuki, A.1
Matsushita, T.2
Wada, N.3
Sakamoto, Y.4
Okuda, M.5
-
6
-
-
0026123774
-
-
Aktaruzzaman, A. F.; Sharma, G. L.; Malhotra, L. K. Thin Solid Films 1991, 198, 67-74
-
(1991)
Thin Solid Films
, vol.198
, pp. 67-74
-
-
Aktaruzzaman, A.F.1
Sharma, G.L.2
Malhotra, L.K.3
-
7
-
-
0028441635
-
-
Minami, T.; Sonohara, H.; Takata, S.; Sato, H. Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 1994, 33, L743-L746
-
(1994)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
, vol.33
, pp. 743-L746
-
-
Minami, T.1
Sonohara, H.2
Takata, S.3
Sato, H.4
-
11
-
-
84869505921
-
-
Schellens, K.; Capon, B.; De Dobbelaere, C.; Detavernier, C.; Hardy, A.; Van Bael, M. K. Thin Solid Films 2012, 524, 81-85
-
(2012)
Thin Solid Films
, vol.524
, pp. 81-85
-
-
Schellens, K.1
Capon, B.2
De Dobbelaere, C.3
Detavernier, C.4
Hardy, A.5
Van Bael, M.K.6
-
12
-
-
0028763371
-
-
Tsuchiya, T.; Emoto, T.; Sei, T. J. Non-Cryst. Solids 1994, 178, 327-332
-
(1994)
J. Non-Cryst. Solids
, vol.178
, pp. 327-332
-
-
Tsuchiya, T.1
Emoto, T.2
Sei, T.3
-
13
-
-
0032099920
-
-
Ohyama, M.; Kozuka, H.; Yoko, T. J. Am. Ceram. Soc. 1998, 81, 1622-1632
-
(1998)
J. Am. Ceram. Soc.
, vol.81
, pp. 1622-1632
-
-
Ohyama, M.1
Kozuka, H.2
Yoko, T.3
-
14
-
-
33746962680
-
-
Van den Rul, H.; Mondelaers, D.; Van Bael, M. K.; Mullens, J. J. Sol-Gel Sci. Technol. 2006, 39, 41-47
-
(2006)
J. Sol-Gel Sci. Technol.
, vol.39
, pp. 41-47
-
-
Van Den Rul, H.1
Mondelaers, D.2
Van Bael, M.K.3
Mullens, J.4
-
15
-
-
79954578660
-
-
Gao, M.; Wu, X.; Liu, J.; Liu, W. Appl. Surf. Sci. 2011, 257, 6919-6922
-
(2011)
Appl. Surf. Sci.
, vol.257
, pp. 6919-6922
-
-
Gao, M.1
Wu, X.2
Liu, J.3
Liu, W.4
-
16
-
-
0030192029
-
-
Nishio, K.; Miyake, S.; Sei, T.; Watanabe, Y.; Tsuchiya, T. J. Mater. Sci. 1996, 31, 3651-3656
-
(1996)
J. Mater. Sci.
, vol.31
, pp. 3651-3656
-
-
Nishio, K.1
Miyake, S.2
Sei, T.3
Watanabe, Y.4
Tsuchiya, T.5
-
17
-
-
34548460741
-
-
Zhu, M.; Huang, H.; Gong, J.; Sun, C.; Jiang, X. J. Appl. Phys. 2007, 102, 043106
-
(2007)
J. Appl. Phys.
, vol.102
, pp. 043106
-
-
Zhu, M.1
Huang, H.2
Gong, J.3
Sun, C.4
Jiang, X.5
-
18
-
-
84908305017
-
-
Hagendorfer, H.; Lienau, K.; Nishiwaki, S.; Fella, C. M.; Kranz, L.; Uhl, A. R.; Jaeger, D.; Luo, L.; Gretener, C.; Buecheler, S.; Romanyuk, Y. E.; Tiwari, A. N. Adv. Mater. 2013, 632-636
-
(2013)
Adv. Mater.
, pp. 632-636
-
-
Hagendorfer, H.1
Lienau, K.2
Nishiwaki, S.3
Fella, C.M.4
Kranz, L.5
Uhl, A.R.6
Jaeger, D.7
Luo, L.8
Gretener, C.9
Buecheler, S.10
Romanyuk, Y.E.11
Tiwari, A.N.12
-
19
-
-
79954997963
-
-
Rousset, J.; Saucedo, E.; Herz, K.; Lincot, D. Prog. Photovoltaics 2011, 19, 537-546
-
(2011)
Prog. Photovoltaics
, vol.19
, pp. 537-546
-
-
Rousset, J.1
Saucedo, E.2
Herz, K.3
Lincot, D.4
-
20
-
-
42549124490
-
-
Lee, S. H.; Lee, T. S.; Lee, K. S.; Cheong, B.; Kim, Y. D.; Kim, W. M. J. Phys. D: Appl. Phys. 2008, 41, 095303/1-095303/7
-
(2008)
J. Phys. D: Appl. Phys.
, vol.41
, pp. 095303/1-095303/7
-
-
Lee, S.H.1
Lee, T.S.2
Lee, K.S.3
Cheong, B.4
Kim, Y.D.5
Kim, W.M.6
-
21
-
-
84878768008
-
-
Alam, M. J.; Cameron, D. C. J. Vac. Sci. Technol., A 2001, 19, 1642-1646
-
(2001)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.19
, pp. 1642-1646
-
-
Alam, M.J.1
Cameron, D.C.2
-
22
-
-
77949914477
-
-
Dghoughi, L.; Ouachtari, F.; Addou, M.; Elidrissi, B.; Erguig, H.; Rmili, A.; Bouaoud, A. Phys. B 2010, 405, 2277-2282
-
(2010)
Phys. B
, vol.405
, pp. 2277-2282
-
-
Dghoughi, L.1
Ouachtari, F.2
Addou, M.3
Elidrissi, B.4
Erguig, H.5
Rmili, A.6
Bouaoud, A.7
-
23
-
-
78049319379
-
-
Yao, P. C.; Hang, S. T.; Lin, Y. S.; Yen, W. T.; Lin, Y. C. Appl. Surf. Sci. 2010, 257, 1441-1448
-
(2010)
Appl. Surf. Sci.
, vol.257
, pp. 1441-1448
-
-
Yao, P.C.1
Hang, S.T.2
Lin, Y.S.3
Yen, W.T.4
Lin, Y.C.5
-
24
-
-
84858342855
-
-
Inamdar, D.; Agashe, C.; Kadam, P.; Mahamuni, S. Thin Solid Films 2012, 520, 3871-3877
-
(2012)
Thin Solid Films
, vol.520
, pp. 3871-3877
-
-
Inamdar, D.1
Agashe, C.2
Kadam, P.3
Mahamuni, S.4
-
25
-
-
79961091807
-
-
Kemmitt, T.; Ingham, B.; Linklater, R. J. Phys. Chem. C 2011, 115, 15031-15039
-
(2011)
J. Phys. Chem. C
, vol.115
, pp. 15031-15039
-
-
Kemmitt, T.1
Ingham, B.2
Linklater, R.3
-
26
-
-
61849142146
-
-
Miao, S.; d'Alnoncourt, R. N.; Reinecke, T.; Kasatkin, I.; Behrens, M.; Schlögl, R.; Muhler, M. Eur. J. Inorg. Chem. 2009, 2009, 910-921
-
(2009)
Eur. J. Inorg. Chem.
, vol.2009
, pp. 910-921
-
-
Miao, S.1
D'Alnoncourt, R.N.2
Reinecke, T.3
Kasatkin, I.4
Behrens, M.5
Schlögl, R.6
Muhler, M.7
-
28
-
-
0036163102
-
-
Van Werde, K.; Mondelaers, D.; Vanhoyland, G.; Nelis, D.; Van Bael, M. K.; Mullens, J.; Van Poucke, L. C.; Van der Veken, B.; Desseyn, H. O. J. Mater. Sci. 2002, 37, 81-88
-
(2002)
J. Mater. Sci.
, vol.37
, pp. 81-88
-
-
Van Werde, K.1
Mondelaers, D.2
Vanhoyland, G.3
Nelis, D.4
Van Bael, M.K.5
Mullens, J.6
Van Poucke, L.C.7
Van Der Veken, B.8
Desseyn, H.O.9
-
29
-
-
2942604075
-
-
Van Bael, M. K.; Nelis, D.; Hardy, A.; Mondelaers, D.; Van Werde, K.; D'Haen, J.; Vanhoyland, G.; Van den Rul, H.; Mullens, J.; Van Poucke, L. C.; Frederix, F.; Wouters, D. J. Integr. Ferroelectr. 2002, 45, 113-122
-
(2002)
Integr. Ferroelectr.
, vol.45
, pp. 113-122
-
-
Van Bael, M.K.1
Nelis, D.2
Hardy, A.3
Mondelaers, D.4
Van Werde, K.5
D'Haen, J.6
Vanhoyland, G.7
Van Den Rul, H.8
Mullens, J.9
Van Poucke, L.C.10
Frederix, F.11
Wouters, D.J.12
-
30
-
-
0019926425
-
-
Burdett, J. K.; Price, G. D.; Price, S. L. J. Am. Chem. Soc. 1982, 104, 92-95
-
(1982)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.104
, pp. 92-95
-
-
Burdett, J.K.1
Price, G.D.2
Price, S.L.3
-
31
-
-
84864699803
-
-
Avadhut, Y.; Weber, J.; Hammarberg, E.; Feldmann, C.; Schmedt auf der Günne, J. Phys. Chem. Chem. Phys. 2012, 14, 11610-11625
-
(2012)
Phys. Chem. Chem. Phys.
, vol.14
, pp. 11610-11625
-
-
Avadhut, Y.1
Weber, J.2
Hammarberg, E.3
Feldmann, C.4
Schmedt Auf Der Günne, J.5
-
33
-
-
80755125606
-
-
Buonsanti, R.; Llordes, A.; Aloni, S.; Helms, B. A.; Milliron, D. J. Nano Lett. 2011, 11, 4706-4710
-
(2011)
Nano Lett.
, vol.11
, pp. 4706-4710
-
-
Buonsanti, R.1
Llordes, A.2
Aloni, S.3
Helms, B.A.4
Milliron, D.J.5
-
34
-
-
0030194256
-
-
Islam, M. N.; Ghosh, T. B.; Chopra, K. L.; Acharya, H. N. Thin Solid Films 1996, 280, 20-25
-
(1996)
Thin Solid Films
, vol.280
, pp. 20-25
-
-
Islam, M.N.1
Ghosh, T.B.2
Chopra, K.L.3
Acharya, H.N.4
-
36
-
-
1842731894
-
-
18081
-
Musat, V.; Teixeira, B.; Fortunato, E.; Monteiro, R. C. C.; Vilarinho, P. Surf. Coat. Technol. 2004, 180-81, 659-662
-
(2004)
Surf. Coat. Technol.
, pp. 659-662
-
-
Musat, V.1
Teixeira, B.2
Fortunato, E.3
Monteiro, R.C.C.4
Vilarinho, P.5
-
37
-
-
84875428139
-
-
Charpentier, C.; Prod'homme, P.; Roca i Cabarrocas, P. Thin Solid Films 2013, 531, 424-429
-
(2013)
Thin Solid Films
, vol.531
, pp. 424-429
-
-
Charpentier, C.1
Prod'Homme, P.2
Roca i Cabarrocas, P.3
-
38
-
-
84876685567
-
-
Shahzad, M. B.; Qi, Y.; Lu, H.; Wang, X. Thin Solid Films 2013, 534, 242-248
-
(2013)
Thin Solid Films
, vol.534
, pp. 242-248
-
-
Shahzad, M.B.1
Qi, Y.2
Lu, H.3
Wang, X.4
-
41
-
-
0001174299
-
-
Baik, S. J.; Jang, J. H.; Lee, C. H.; Cho, W. Y.; Lim, K. S. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 3516-3518
-
(1997)
Appl. Phys. Lett.
, vol.70
, pp. 3516-3518
-
-
Baik, S.J.1
Jang, J.H.2
Lee, C.H.3
Cho, W.Y.4
Lim, K.S.5
-
43
-
-
80055016807
-
-
Pasquarelli, R. M.; Ginley, D. S.; O'Hayre, R. Chem. Soc. Rev. 2011, 40, 5406-5441
-
(2011)
Chem. Soc. Rev.
, vol.40
, pp. 5406-5441
-
-
Pasquarelli, R.M.1
Ginley, D.S.2
O'Hayre, R.3
-
44
-
-
72049132652
-
-
ágoston, P.; Albe, K.; Nieminen, R. M.; Puska, M. J. Phys. Rev. Lett. 2009, 103, 245501
-
(2009)
Phys. Rev. Lett.
, vol.103
, pp. 245501
-
-
Ágoston, P.1
Albe, K.2
Nieminen, R.M.3
Puska, M.J.4
-
46
-
-
84899553591
-
-
Vunnam, S.; Ankireddy, K.; Kellar, J.; Cross, W. Nanotechnology 2014, 25, 195301
-
(2014)
Nanotechnology
, vol.25
, pp. 195301
-
-
Vunnam, S.1
Ankireddy, K.2
Kellar, J.3
Cross, W.4
-
47
-
-
4143149691
-
-
Martins, R.; Fortunato, E.; Nunes, P.; Ferreira, I.; Marques, A.; Bender, M.; Katsarakis, N.; Cimalla, V.; Kiriakidis, G. J. Appl. Phys. 2004, 96, 1398-1408
-
(2004)
J. Appl. Phys.
, vol.96
, pp. 1398-1408
-
-
Martins, R.1
Fortunato, E.2
Nunes, P.3
Ferreira, I.4
Marques, A.5
Bender, M.6
Katsarakis, N.7
Cimalla, V.8
Kiriakidis, G.9
-
49
-
-
73649137510
-
-
Hensen, E. J. M.; Poduval, D. G.; Magusin, P. C. M. M.; Coumans, A. E.; van Veen, J. A. R. J. Catal. 2010, 269, 201-218
-
(2010)
J. Catal.
, vol.269
, pp. 201-218
-
-
Hensen, E.J.M.1
Poduval, D.G.2
Magusin, P.C.M.M.3
Coumans, A.E.4
Van Veen, J.A.R.5
-
50
-
-
84856615129
-
-
Yuan, C. C.; Yang, Y. F.; Xi, X. K.; Cui, J.; Xiang, J. F. Solid State Nucl. Magn. Reson. 2012, 41, 28-31
-
(2012)
Solid State Nucl. Magn. Reson.
, vol.41
, pp. 28-31
-
-
Yuan, C.C.1
Yang, Y.F.2
Xi, X.K.3
Cui, J.4
Xiang, J.F.5
-
52
-
-
77955679881
-
-
Dasgupta, N. P.; Neubert, S.; Lee, W.; Trejo, O.; Lee, J. R.; Prinz, F. B. Chem. Mater. 2010, 22, 4769-4775
-
(2010)
Chem. Mater.
, vol.22
, pp. 4769-4775
-
-
Dasgupta, N.P.1
Neubert, S.2
Lee, W.3
Trejo, O.4
Lee, J.R.5
Prinz, F.B.6
-
54
-
-
82955247594
-
-
Park, J. K.; Lee, K. W.; Lee, W.; Lee, C. E.; Kim, D. J.; Park, W. Solid State Commun. 2012, 152, 116-118
-
(2012)
Solid State Commun.
, vol.152
, pp. 116-118
-
-
Park, J.K.1
Lee, K.W.2
Lee, W.3
Lee, C.E.4
Kim, D.J.5
Park, W.6
-
55
-
-
67349194729
-
-
Serier, H.; Gaudon, M.; Menetrier, M. Solid State Sci. 2009, 11, 1192-1197
-
(2009)
Solid State Sci.
, vol.11
, pp. 1192-1197
-
-
Serier, H.1
Gaudon, M.2
Menetrier, M.3
-
57
-
-
84865145607
-
-
Li, H.; Schirra, L. K.; Shim, J.; Cheun, H.; Kippelen, B.; Monti, O. L. A.; Bredas, J.-L. Chem. Mater. 2012, 24, 3044-3055
-
(2012)
Chem. Mater.
, vol.24
, pp. 3044-3055
-
-
Li, H.1
Schirra, L.K.2
Shim, J.3
Cheun, H.4
Kippelen, B.5
Monti, O.L.A.6
Bredas, J.-L.7
-
58
-
-
77957829695
-
-
Pern, F. J.; To, B.; Glick, S. H.; Sundaramoorthy, R.; DeHart, C.; Glynn, S.; Perkins, C.; Mansfield, L.; Gessert, T. Proc. SPIE 2010, 7773, 77730R
-
(2010)
Proc. SPIE
, vol.7773
, pp. 77730R
-
-
Pern, F.J.1
To, B.2
Glick, S.H.3
Sundaramoorthy, R.4
Dehart, C.5
Glynn, S.6
Perkins, C.7
Mansfield, L.8
Gessert, T.9
-
59
-
-
71749094161
-
-
Kanehara, M.; Koike, H.; Yoshinaga, T.; Teranishi, T. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 17736-17737
-
(2009)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.131
, pp. 17736-17737
-
-
Kanehara, M.1
Koike, H.2
Yoshinaga, T.3
Teranishi, T.4
|