Contrast formation in Kelvin probe force microscopy of single π-conjugated molecules

Nano Letters

Volumn 14, Issue 6, 2014, Pages 3342-3346

  Schuler, Bruno ^a   Liu, Shi Xia ^b   Geng, Yan ^b   Decurtins, Silvio ^b   Meyer, Gerhard ^a   Gross, Leo ^a  

^a IBM RESEARCH ZURICH   (Switzerland)

^b UNIVERSITY OF BERN   (Switzerland)

Author keywords

charge distribution; charge transfer complex (CTC); donor acceptor molecules; Kelvin probe force microscopy (KPFM); noncontact atomic force microscopy (NC AFM)

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHARGE DISTRIBUTION; CHARGE TRANSFER; PROBES;

CHARGE TRANSFER COMPLEX; CONJUGATED MOLECULES; CONTACT POTENTIAL DIFFERENCE; DONOR-ACCEPTOR MOLECULES; ELECTRON SHELLS; KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY; NONCONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPY; PARTIAL CHARGES;

MOLECULES;

SODIUM CHLORIDE;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY;

MICROSCOPY, ATOMIC FORCE; SODIUM CHLORIDE;

EID: 84902273145     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl500805x     Document Type: Article

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