-
2
-
-
0029779805
-
-
Nakamura, S.; Senoh, M.; Nagahama, S.; Iwasa, N.; Yamada, T.; Matsushita, T.; Kiyoku, H.; Sugimoto, Y. Jpn. J. Appl. Phys. 1996, 35, L74-L76
-
(1996)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.35
-
-
Nakamura, S.1
Senoh, M.2
Nagahama, S.3
Iwasa, N.4
Yamada, T.5
Matsushita, T.6
Kiyoku, H.7
Sugimoto, Y.8
-
4
-
-
34047256216
-
-
Holec, D.; Costa, P. M. F. J.; Humphreys, C. J. J. Cryst. Growth 2007, 303, 314-317
-
(2007)
J. Cryst. Growth
, vol.303
, pp. 314-317
-
-
Holec, D.1
Costa, P.M.F.J.2
Humphreys, C.J.3
-
5
-
-
20544450530
-
-
Ertekin, E.; Greaney, P. A.; Chrzan, D. C.; Sands, T. D. J. Appl. Phys. 2005, 97, 114325-1-114325-10
-
(2005)
J. Appl. Phys.
, vol.97
, pp. 1143251-11432510
-
-
Ertekin, E.1
Greaney, P.A.2
Chrzan, D.C.3
Sands, T.D.4
-
6
-
-
33748417557
-
-
Glas, F. Phys. Rev. B 2006, 74, 121302-1-121302-4
-
(2006)
Phys. Rev. B
, vol.74
, pp. 1213021-1213024
-
-
Glas, F.1
-
7
-
-
84860318467
-
-
Hiralal, P.; Unalan, H.; Amaratunga, G. Nanotechnology 2012, 23, 194002-1-194002-17
-
(2012)
Nanotechnology
, vol.23
, pp. 1940021-19400217
-
-
Hiralal, P.1
Unalan, H.2
Amaratunga, G.3
-
8
-
-
77249164255
-
-
Kelzenberg, M. D.; Boettcher, S. W.; Petykiewicz, J. A.; Turner-. Evans, D. B.; Putnam, M. C.; Warren, E. L.; Spurgeon, J. M.; Briggs, R. M.; Lewis, N. S.; Atwater, H. A. Nat. Mater. 2010, 9, 239-244
-
(2010)
Nat. Mater.
, vol.9
, pp. 239-244
-
-
Kelzenberg, M.D.1
Boettcher, S.W.2
Petykiewicz, J.A.3
Turner-. Evans, D.B.4
Putnam, M.C.5
Warren, E.L.6
Spurgeon, J.M.7
Briggs, R.M.8
Lewis, N.S.9
Atwater, H.A.10
-
9
-
-
20544449654
-
-
Kayes, B. M.; Atwater, H. A.; Lewis, N. S. J. Appl. Phys. 2005, 97, 114302-1-114302-11
-
(2005)
J. Appl. Phys.
, vol.97
, pp. 1143021-11430211
-
-
Kayes, B.M.1
Atwater, H.A.2
Lewis, N.S.3
-
10
-
-
79958819646
-
-
Wang, D.; Pierre, A.; Kibria, M. G.; Cui, K.; Han, X.; Bevan, K. H.; Guo, H.; Paradis, S.; Hakima, A. R.; Mi, Z. Nano Lett. 2011, 11, 2353-2357
-
(2011)
Nano Lett.
, vol.11
, pp. 2353-2357
-
-
Wang, D.1
Pierre, A.2
Kibria, M.G.3
Cui, K.4
Han, X.5
Bevan, K.H.6
Guo, H.7
Paradis, S.8
Hakima, A.R.9
Mi, Z.10
-
11
-
-
31644433504
-
-
Fujii, K.; Kusakabe, K.; Ohkawa, K. Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 2005, 44, 7433-7435
-
(2005)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.44
, pp. 7433-7435
-
-
Fujii, K.1
Kusakabe, K.2
Ohkawa, K.3
-
12
-
-
54949143962
-
-
Li, J.; Lin, J. Y.; Jiang, H. X. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 162107-1-162107-3
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.93
, pp. 1621071-1621073
-
-
Li, J.1
Lin, J.Y.2
Jiang, H.X.3
-
13
-
-
76449111619
-
-
Aryal, K.; Pantha, B. N.; Li, J.; Lin, J. Y.; Jiang, H. X. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 052110-1-052110-3
-
(2010)
Appl. Phys. Lett.
, vol.96
, pp. 0521101-0521103
-
-
Aryal, K.1
Pantha, B.N.2
Li, J.3
Lin, J.Y.4
Jiang, H.X.5
-
14
-
-
84858853111
-
-
Mauder, C.; Tuna, Ö.; Gutrath, B.; Balmes, V.; Behmenburg, H.; Rzheutskii, M. V.; Lutsenko, E. V.; Yablonskii, G. P.; Noyong, M.; Simon, U.; Heuken, M.; Kalisch, H.; Vescan, A. Phys. Stat. Sol. C 2012, 9, 964-967
-
(2012)
Phys. Stat. Sol. C
, vol.9
, pp. 964-967
-
-
Mauder, C.1
Tuna, Ö.2
Gutrath, B.3
Balmes, V.4
Behmenburg, H.5
Rzheutskii, M.V.6
Lutsenko, E.V.7
Yablonskii, G.P.8
Noyong, M.9
Simon, U.10
Heuken, M.11
Kalisch, H.12
Vescan, A.13
-
15
-
-
59349094560
-
-
Usui, S.; Kikawa, S.; Kobayashi, N.; Yamamoto, J.; Ban, Y.; Matsumoto, K. Jpn. J. Appl. Phys. 2008, 47, 8793-8795
-
(2008)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.47
, pp. 8793-8795
-
-
Usui, S.1
Kikawa, S.2
Kobayashi, N.3
Yamamoto, J.4
Ban, Y.5
Matsumoto, K.6
-
16
-
-
84858241162
-
-
Hwang, Y.; Wu, C. H.; Hahn, C.; Jeong, H. E.; Yang, P. Nano Lett. 2012, 12, 1678-1682
-
(2012)
Nano Lett.
, vol.12
, pp. 1678-1682
-
-
Hwang, Y.1
Wu, C.H.2
Hahn, C.3
Jeong, H.E.4
Yang, P.5
-
18
-
-
0031996437
-
-
Bogdanoff, P.; Friebe, P.; Alonso-Vante, P. J. Electrochem. Soc. 1998, 145, 576-582
-
(1998)
J. Electrochem. Soc.
, vol.145
, pp. 576-582
-
-
Bogdanoff, P.1
Friebe, P.2
Alonso-Vante, P.3
-
19
-
-
80051676345
-
-
Geelhaar, L.; Chèze, C.; Jenichen, B.; Brandt, O.; Pfüller, C.; Münch, S.; Rothemund, R.; Reitzenstein, S.; Forchel, A.; Kehagias, T.; Komninou, P.; Dimitrakopulos, G. P.; Karakostas, T.; Lari, L.; Chalker, P. R.; Gass, M. H.; Riechert, H. IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 2011, 17, 878-888
-
(2011)
IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron.
, vol.17
, pp. 878-888
-
-
Geelhaar, L.1
Chèze, C.2
Jenichen, B.3
Brandt, O.4
Pfüller, C.5
Münch, S.6
Rothemund, R.7
Reitzenstein, S.8
Forchel, A.9
Kehagias, T.10
Komninou, P.11
Dimitrakopulos, G.P.12
Karakostas, T.13
Lari, L.14
Chalker, P.R.15
Gass, M.H.16
Riechert, H.17
-
20
-
-
34547796436
-
-
Calleja, E.; Ristić, J.; Fernández-Garrido, S.; Cerutti, L.; Sánchez-García, M. A.; Grandal, J.; Trampert, A.; Jahn, U.; Sánchez, G.; Griol, A.; Sánchez, B. Phys. Status Solidi B 2007, 244, 2816-2837
-
(2007)
Phys. Status Solidi B
, vol.244
, pp. 2816-2837
-
-
Calleja, E.1
Ristić, J.2
Fernández-Garrido, S.3
Cerutti, L.4
Sánchez-García, M.A.5
Grandal, J.6
Trampert, A.7
Jahn, U.8
Sánchez, G.9
Griol, A.10
Sánchez, B.11
-
21
-
-
84868705042
-
-
Wölz, M.; Fernández-Garrido, S.; Hauswald, C.; Brandt, O.; Limbach, F.; Geelhaar, L.; Riechert, H. Cryst. Growth Des. 2012, 12, 5686-5692
-
(2012)
Cryst. Growth Des.
, vol.12
, pp. 5686-5692
-
-
Wölz, M.1
Fernández-Garrido, S.2
Hauswald, C.3
Brandt, O.4
Limbach, F.5
Geelhaar, L.6
Riechert, H.7
-
22
-
-
78449289476
-
-
Walter, M. G.; Warren, E. L.; Boettcher, S. W.; Mi, Q.; McKone, J. R.; Santori, E. A.; Lewis, N. S. Chem. Rev. 2010, 110, 6446-6473a
-
(2010)
Chem. Rev.
, vol.110
-
-
Walter, M.G.1
Warren, E.L.2
Boettcher, S.W.3
Mi, Q.4
McKone, J.R.5
Santori, E.A.6
Lewis, N.S.7
-
23
-
-
79956041003
-
-
Wu, J.; Walukiewicz, W.; Yu, K. M.; Ager, J. W., III; Haller, E. E.; Lu, H.; Schaff J. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 4741-4743
-
(2002)
J. Appl. Phys. Lett.
, vol.80
, pp. 4741-4743
-
-
Wu, J.1
Walukiewicz, W.2
Yu, K.M.3
Ager III, J.W.4
Haller, E.E.5
Lu, H.6
Schaff7
-
24
-
-
79955725059
-
-
Goodman, K. D.; Protasenko, V. V.; Verma, J.; Kosel, T. H.; Xing, H. G.; Jena, D. J. Appl. Phys. 2011, 109, 084336-1-084336-10
-
(2011)
J. Appl. Phys.
, vol.109
, pp. 0843361-08433610
-
-
Goodman, K.D.1
Protasenko, V.V.2
Verma, J.3
Kosel, T.H.4
Xing, H.G.5
Jena, D.6
-
26
-
-
33750015835
-
-
Chichibu, S. F.; Uedono, A.; Onuma, T.; Haskell, B. A.; Chakraborty, A.; Koyama, T.; Fini, P. T.; Keller, S.; Denbaars, S. P.; Speck, J. S.; Mishira, U. K.; Nakamura, S.; Yamaguchi, S.; Kamiyama, S.; Amano, H.; Akasaki, I.; Han, J.; Sota, T. Nat. Mater. 2006, 5, 810-816
-
(2006)
Nat. Mater.
, vol.5
, pp. 810-816
-
-
Chichibu, S.F.1
Uedono, A.2
Onuma, T.3
Haskell, B.A.4
Chakraborty, A.5
Koyama, T.6
Fini, P.T.7
Keller, S.8
Denbaars, S.P.9
Speck, J.S.10
Mishira, U.K.11
Nakamura, S.12
Yamaguchi, S.13
Kamiyama, S.14
Amano, H.15
Akasaki, I.16
Han, J.17
Sota, T.18
-
27
-
-
84856823031
-
-
Sizov, D.; Bhat, R.; Zah, C.-E. J. Lightwave Technol. 2012, 30, 679-699-699
-
(2012)
J. Lightwave Technol.
, vol.30
, pp. 679
-
-
Sizov, D.1
Bhat, R.2
Zah, C.-E.3
|