SCOPUS 정보 검색 플랫폼

Beilstein Journal of Nanotechnology

Volumn 4, Issue 1, 2013, Pages 87-93

Towards 4-dimensional atomic force spectroscopy using the spectral inversion method

(2) Williams, Jeffrey C a Solares, Santiago D a

a UNIVERSITY OF MARYLAND (United States)

Author keywords

Atomic force microscopy; Spectral inversion; Spectroscopy; Torsional harmonic cantilever; Viscoelasticity

Indexed keywords

ATOMIC FORCE SPECTROSCOPY; CARTESIAN COORDINATE; DYNAMIC NATURE; RATE-DEPENDENT MATERIAL PROPERTIES; SPECTRAL INVERSION; TIP-SAMPLE FORCES; TORSIONAL HARMONIC CANTILEVER; VERTICAL VELOCITY;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; SPECTROSCOPY; VISCOELASTICITY;

TWO DIMENSIONAL;

EID: 84876112392 PISSN: None EISSN: 21904286 Source Type: Journal
DOI: 10.3762/bjnano.4.10 Document Type: Article

Times cited : (8)

References (19)

1
- 0038981463
- doi:10.1063/1.347347
- Albrecht, T. R.; Grütter, P.; Horne, D.; Rugar, D. J. Appl. Phys. 1991, 69, 668-673. doi:10.1063/1.347347
- (1991) J. Appl. Phys. , vol.69 , pp. 668-673
- Albrecht, T.R.¹ Grütter, P.² Horne, D.³ Rugar, D.⁴

2
- 84927762517
- doi:10.1116/1.576168
- Burnham, N. A.; Colton, R. J. J. Vac. Sci. Technol., A 1989, 7, 2906-2913. doi:10.1116/1.576168
- (1989) J. Vac. Sci. Technol. , vol.7 , pp. 2906-2913
- Burnham, N.A.¹ Colton, R.J.²

3
- 0037011628
- doi:10.1063/1.1525056
- Hölscher, H.; Langkat, S. M.; Schwarz, A.; Wiesendanger, R. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 4428-4430. doi:10.1063/1.1525056
- (2002) Appl. Phys. Lett. , vol.81 , pp. 4428-4430
- Hölscher, H.¹ Langkat, S.M.² Schwarz, A.³ Wiesendanger, R.⁴

4
- 0035881413
- doi:10.1103/PhysRevB.64.075402
- Hölscher, H.; Gotsmann, B.; Allers, W.; Schwarz, U. D.; Fuchs, H.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 2001, 64, 075402. doi:10.1103/PhysRevB.64.075402
- (2001) Phys. Rev. B , vol.64 , pp. 075402
- Hölscher, H.¹ Gotsmann, B.² Allers, W.³ Schwarz, U.D.⁴ Fuchs, H.⁵ Wiesendanger, R.⁶

5
- 67049158292
- doi:10.1038/nnano.2009.57
- Albers, B. J.; Schwendemann, T. C.; Baykara, M. Z.; Pilet, N.; Liebmann, M.; Altman, E. I.; Schwarz, U. D. Nat. Nanotechnol. 2009, 4, 307-310. doi:10.1038/nnano.2009.57
- (2009) Nat. Nanotechnol. , vol.4 , pp. 307-310
- Albers, B.J.¹ Schwendemann, T.C.² Baykara, M.Z.³ Pilet, N.⁴ Liebmann, M.⁵ Altman, E.I.⁶ Schwarz, U.D.⁷

6
- 73649127296
- doi:10.1103/PhysRevLett.104.016101
- Fukuma, T.; Ueda, Y.; Yoshioka, S.; Asakawa, H. Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 016101. doi:10.1103/PhysRevLett.104.016101
- (2010) Phys. Rev. Lett. , vol.104 , pp. 016101
- Fukuma, T.¹ Ueda, Y.² Yoshioka, S.³ Asakawa, H.⁴

7
- 0037172996
- doi:10.1073/pnas.122040599
- Stark, M.; Stark, R. W.; Heckl, W. M.; Guckenberger, R. Proc. Natl. Acad. Sci. U. S. A. 2002, 99, 8473-8478. doi:10.1073/pnas.122040599
- (2002) Proc. Natl. Acad. Sci. U. S. A. , vol.99 , pp. 8473-8478
- Stark, M.¹ Stark, R.W.² Heckl, W.M.³ Guckenberger, R.⁴

8
- 34547698856
- doi:10.1038/nnano.2007.226
- Sahin, O.; Magonov, S.; Su, C.; Quate, C. F.; Solgaard, O. Nat. Nanotechnol. 2007, 2, 507-514. doi:10.1038/nnano.2007.226
- (2007) Nat. Nanotechnol. , vol.2 , pp. 507-514
- Sahin, O.¹ Magonov, S.² Su, C.³ Quate, C.F.⁴ Solgaard, O.⁵

9
- 79953249009
- doi:10.1038/ncomms1246
- Dong, M.; Sahin, O. Nat. Commun. 2011, 2, 247. doi:10.1038/ncomms1246
- (2011) Nat. Commun. , vol.2 , pp. 247
- Dong, M.¹ Sahin, O.²

10
- 72949119728
- doi:10.1038/nature08626
- Husale, S.; Persson, H. H. J.; Sahin, O. Nature 2009, 462, 1075-1078. doi:10.1038/nature08626
- (2009) Nature , vol.462 , pp. 1075-1078
- Husale, S.¹ Persson, H.H.J.² Sahin, O.³

11
- 74949094519
- doi:10.1088/0957-4484/21/7/075702
- Solares, S. D.; Hölscher, H. Nanotechnology 2010, 21, 075702. doi:10.1088/0957-4484/21/7/075702
- (2010) Nanotechnology , vol.21 , pp. 075702
- Solares, S.D.¹ Hölscher, H.²

12
- 77952977267
- doi:10.1116/1.3305338
- Solares, S. D.; Hölscher, H. J. Vac. Sci. Technol., B 2010, 28, C4E1. doi:10.1116/1.3305338
- (2010) Vac. Sci. Technol. , vol.28
- Solares, S.D.¹ Hölscher, H.J.²

13
- 0036712485
- doi:10. 1016/S0167-5729(02)
- García, R.; Pérez, R. Surf. Sci. Rep. 2002, 47, 197-301. doi:10.1016/S0167-5729(02)00077-8
- (2002) Surf. Sci. Rep. , vol.47 , pp. 197-301
- García, R.¹ Pérez, R.²

14
- 0000080232
- doi:10.1103/PhysRevB.60.11051
- Gotsmann, B.; Seidel, C.; Anczykowski, B.; Fuchs, H. Phys. Rev. B 1999, 60, 11051-11061. doi:10.1103/PhysRevB.60.11051
- (1999) Phys. Rev. B , vol.60 , pp. 11051-11061
- Gotsmann, B.¹ Seidel, C.² Anczykowski, B.³ Fuchs, H.⁴

15
- 54049133276
- doi:10.1063/1.2996259
- Yuya, P. A.; Hurley, D. C.; Turner, J. A. J. Appl. Phys. 2008, 104, 074916. doi:10.1063/1.2996259
- (2008) J. Appl. Phys. , vol.104 , pp. 074916
- Yuya, P.A.¹ Hurley, D.C.² Turner, J.A.³

16
- 79959407290
- doi:10.1063/1.3592966
- Yuya, P. A.; Hurley, D. C.; Turner, J. A. J. Appl. Phys. 2011, 109, 113528. doi:10.1063/1.3592966
- (2011) J. Appl. Phys. , vol.109 , pp. 113528
- Yuya, P.A.¹ Hurley, D.C.² Turner, J.A.³

17
- 84876122674
- Surface characterization of viscoelastic materials through spectral intermittent contact atomic force microscopy
- M.S. Thesis, University of Maryland, College Park, USA
- Williams, J. C. Surface characterization of viscoelastic materials through spectral intermittent contact atomic force microscopy. M.S. Thesis, University of Maryland, College Park, USA, 2012.
- (2012)
- Williams, J.C.¹

18
- 51349160066
- doi:10.1063/1.2976438
- Melcher, J.; Xu, X.; Raman, A. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 093111. doi:10.1063/1.2976438
- (2008) Appl. Phys. Lett. , vol.93 , pp. 093111
- Melcher, J.¹ Xu, X.² Raman, A.³

19
- 78649819702
- doi:10. 1088/0957-0233/21/12/125502
- Solares, S. D.; Chawla, G. Meas. Sci. Technol. 2010, 21, 125502. doi:10.1088/0957-0233/21/12/125502
- (2010) Meas. Sci. Technol , vol.21 , pp. 125502
- Solares, S.D.¹ Chawla, G.²

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.