Origin of bias-stress induced instability in organic thin-film transistors with semiconducting small-molecule/insulating polymer blend channel

ACS Applied Materials and Interfaces

Volumn 5, Issue 5, 2013, Pages 1625-1629

  Park, Ji Hoon ^a   Lee, Young Tack ^a   Lee, Hee Sung ^a   Lee, Jun Young ^a   Lee, Kimoon ^a   Lee, Gyu Baek ^a   Han, Jiwon ^b   Kim, Tae Woong ^b   Im, Seongil ^a  

^a Yonsei University   (South Korea)

^b Samsung Display Co   (South Korea)

Author keywords

bias stress; blend; photoexcited charge collection spectroscopy (PECCS); scanning kelvin probe microscopy (SKPM); stability; TIPS pentacene

Indexed keywords

BIAS-STRESS; BLEND; CHARGE COLLECTION; SCANNING KELVIN PROBE MICROSCOPY; TIPS-PENTACENE;

BLENDING; CONVERGENCE OF NUMERICAL METHODS; THIN FILM TRANSISTORS;

CHEMICAL SENSORS;

EID: 84875026116     PISSN: 19448244     EISSN: 19448252     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/am3022703     Document Type: Article

References (32)

1. Halik, M.; Klauk, H.; Zschieschang, U.; Schmid, G.; Dehm, C.; Schutz, M.; Maisch, S.; Effenberger, F.; Brunnbauer, M.; Stellacci, F. Nature 2004, 431, 963-966
2. Lim, J. A.; Lee, H. S.; Lee, W. H.; Cho, K. Adv. Funct. Mater. 2008, 19, 1515-1525
3. Yan, H.; Chen, Z.; Zheng, Y.; Newman, C.; Quinn, J. R.; Dötz, F.; Kastler, M.; Facchetti, A. Nature 2009, 457, 679-686
4. Chung, S.; Lee, J.; Song, H.; Kim, S.; Jeong, J.; Hong, Y. Appl. Phys. Lett. 2011, 98, 153110
5. Hwang, D. K.; Fuentes-Hernandez, C.; Berrigan, J.; Fang, Y.; Kim, J.; Potscavage, W.; Cheun, H.; Sandhage, K.; Kippelen, B. J. Mater. Chem. 2012, 22, 5531-5537
6. Ohe, T.; Kuribayashi, M.; Yasuda, R.; Tsuboi, A.; Nomoto, K.; Satori, K.; Itabashi, M.; Kasahara, J. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 053303
7. Kang, J.; Shin, N.; Jang, D. Y.; Prabhu, V. M.; Yoon, D. Y. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 12273-12275
8. Hamilton, R.; Smith, J.; Ogier, S.; Heeney, M.; Anthony, A. E.; McCulloch, I.; Veres, J.; Bradley, D. D. C.; Anthopoulos, T. D. Adv. Mater. 2009, 21, 1166-1171
9. James, D.; Charlotte Kjellander, B. K.; Smaal, W. T. T.; Gelinck, G.; Combe, C.; McCulloch, I.; Wilson, R.; Burroughes, J.; Bradley, D. D. C.; Kim, J. ACS Nano 2011, 5, 9824-9835
10. Choi, D.; Ahn, B.; Kim, S. H.; Hong, K.; Ree, M.; Park, C. E. ACS Appl. Mater. Interfaces 2012, 4, 117-122
11. Park, J. H.; Lee, K. H.; Mun, S.-J.; Ko, G.; Heo, S. J.; Kim, J. H.; Kim, E.; Im, S. Org. Electron. 2010, 11, 1688-1692
12. Park, J. H.; Lim, H.; Cheong, H.; Lee, K. M.; Sohn, H. C.; Lee, G.; Im, S. Org. Electron. 2012, 13, 1250-1254
13. Lee, J.; Kim, D. H.; Lee, B.-L.; Park, J.-I.; Yoo, B.; Kim, J. Y.; Moon, H.; Koo, B.; Jin, Y.-W.; Lee, S. J. Appl. Phys. 2011, 110, 084511
14. Zilker, S. J.; Detcheverry, C.; Cantatore, E.; de Leeuw, D. M. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 1124
15. Street, R. A.; Salleo, A.; Chabinyc, M. L. Phys. Rev. B. 2003, 68, 085316
16. Choi, H. H.; Lee, W. H.; Cho, K. Adv. Funct. Mater. 2012, 22, 4833-4839
17. Kim, Y.; Anthony, J. E.; Park, S. K. Org. Electron. 2012, 13, 1152-1157
18. Lee, W. H.; Kwak, D.; Anthony, J. E.; Lee, H. S.; Choi, H. H.; Kim, D. H.; Lee, S. G.; Cho, K. Adv. Funct. Mater. 2012, 22, 267-281
19. Sirringhaus, H. Adv. Mater. 2009, 21, 3859-3873
20. Kalb, W. L.; Mathis, T.; Haas, S.; Stassen, A. F.; Batlogg, B. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 092104
21. de Leeuw, D. M.; Simenon, M. M. J.; Brown, A. R.; Einerhand, R. E. F. Synth. Met. 1997, 87, 53-59
22. Kim, D. H.; Lee, B.; Moon, H.; Kang, H. M.; Jeong, E. J.; Park, J.; Han, K.; Lee, S.; Yoo, B. W.; Koo, B. W.; Kim, J. Y.; Lee, W. H.; Cho, K.; Becerril, H. A.; Bao, Z. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 6124-6132
23. Tello, M.; Chiesa, M.; Duffy, C. M.; Sirringhaus, H. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 3907-3913
24. Sze, S. M.; Physics of Semiconductor Devices, 2nd ed.; Wiley: New York, 1981; Chapter 7, pp 362-430.
25. Lee, K.; Oh, M. S.; Mun, S.; Lee, K. H.; Ha, T. W.; Kim, J. H.; Park, S.; Hwang, C.; Lee, B. H.; Sung, M. M.; Im, S. Adv. Mater. 2010, 22, 3260-3265
26. Lee, K.; Lee, B. H.; Lee, K. H.; Park, J. H.; Sung, M. M.; Im, S. J. Mater. Chem. 2010, 20, 2659-2663
27. Lee, J.; Jung, J. Y.; Kim, D. H.; Kim, J.; Lee, B.; Park, J.; Chung, J. W.; Park, J. S.; Koo, B.; Jin, Y. W.; Lee, S. Appl. Phys. Lett. 2012, 100, 083302
28. Sakanoue, T.; Sirringhaus, H. Nat. Mater. 2010, 9, 736-740
29. Hoshino, S.; Yoshida, M.; Uemura, S.; Kodzasa, T.; Takada, N.; Kamata, T.; Yase, K. J. Appl. Phys. 2004, 95, 5088-5093
30. Kim, Y.; Kim, H. S.; Han, J.; Park, S. K. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 092105
31. Chung, W.; Chang, T.; Li, H.; Chen, Chi.; Chen, Y.; Chen, S.; Tseng, T.; Tai, Y. Electrochem. Solid-State Lett. 2011, 14, H114-H116
32. Salleo, A.; Chabinyc, M. L. Organic Electronics Materials: Manufacturing and Applications; Klauk, H., Ed.; Wiley-VCH: Weinheim, Germany, 2006; Chapter 5, p 126.