Sensitivity to molecular order of the electrical conductivity in oligothiophene monolayer films

Langmuir

Volumn 29, Issue 4, 2013, Pages 1206-1210

  Martin, Florent ^a,b   Hendriksen, Bas L M ^a   Katan, Allard J ^a   Qi, Yabing ^a,b   Mauldin, Clayton ^a,b   Fréchet, Jean M J ^a,b   Salmeron, Miquel ^a,b  

^a LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AFM TIP; CONDUCTING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPIES; CRYSTALLINE ORDER; ELECTRICAL CONDUCTIVITY; MOLECULAR FILMS; MOLECULAR ORDERS; MONOLAYER FILM; OLIGOTHIOPHENES;

SILICON WAFERS;

ELECTRIC CONDUCTIVITY;

EID: 84873149149     PISSN: 07437463     EISSN: 15205827     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la303609g     Document Type: Article

References (31)

1. Forrest, S. R. Nature 2004, 428, 911-918
2. Wang, C.; Jimison, L. H.; Goris, L.; Mcculloch, I.; Heeney, M.; Ziegler, A.; Salleo, A. Adv. Mater. 2010, 22, 697-701
3. Locklin, J.; Li, D.; Mannsfeld, S. C.; Borkent, E.; Meng, H.; Advincula, R.; Bao, Z. Chem. Mater. 2005, 17, 3366-3374
4. Jimison, L. H.; Salleo, A.; Chabinyc, M. L.; Bernstein, D. P.; Toney, M. F. Phys. Rev. B 2008, 78, 1-18
5. Puntambekar, K.; Dong, J.; Haugstad, G.; Frisbie, D. Adv. Funct. Mater. 2006, 16, 879-884
6. Rivnay, J.; Jimison, L. H.; Northrup, J. E.; Toney, M. F.; Noriega, R.; Lu, S.; Marks, T. J.; Facchetti, A.; Salleo, A. Nat. Mater. 2009, 8, 952-958
7. Chabinyc, M. L.; Jimison, L. H.; Rivnay, J.; Alberto, S. MRS Bull. 2008, 33, 683-689
8. Braga, D.; Horowitz, G. Adv. Mater. 2009, 21, 1473-1486
9. Chabinyc, M. L. Polym. Rev. 2008, 46, 463-492
10. Yang, H.; Shin, T. J.; Ling, M.; Cho, K.; Ryu, C.; Bao, Z. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 11542-11543
11. Garnaes, J.; Larsen, N. B.; Bjornholm, T.; Jorgensen, M.; Kjaer, K.; Als-Nielsen, J.; Jorgensen, J. F.; Zasadzinski, J. A. Science 1994, 264, 2-5
12. Hassenkam, T.; Greve, D. R.; Bjornholm, T. Adv. Mater. 2001, 13, 631-634
13. Smits, E. C.; Mathijssen, S. G.; Setayesh, S.; Geuns, T. C.; Mutsaers, K. A.; Cantatore, E.; Wondergem, H. J.; Werzer, O.; Resel, R.; Kemerink, M.; Kirchmeyer, S.; Muzafarov, A. M.; Ponomarenko, S. A.; Blom, P. W. Nature 2008, 455, 956-959
14. Granstrom, E. L.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. B 1999, 42, 8842-8849
15. Pingree, L. S. C.; Reid, O. G.; Ginger, D. S. Nano Lett. 2009, 9, 2946-52
16. Tello, M.; Chiesa, M.; Duffy, C. M.; Sirringhaus, H. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 3907-3913
17. Palermo, V.; Palma, M.; Samori, P. Adv. Mater. 2006, 18, 145-164
18. Fang, L.; Park, J. Y.; Salmeron, M. Langmuir 2007, 23, 11522-11525
19. Qi, Y.; Liu, X.; Hendriksen, B. L. M.; Navarro, V.; Park, J. Y.; Ratera, I.; Klopp, J. M.; Edder, C.; Himpsel, F. J.; Fréchet, J. M. J.; Haller, E. E.; Salmeron, M. Langmuir 2010, 26, 16522-16528
20. Hendriksen, B. L. M.; Martin, F.; Qi, Y.; Mauldin, C.; Vukmirovic, N.; Ren, J. F.; Wormeester, H.; Katan, A. J.; Altoe, V.; Aloni, S.; Fréchet, J. M. J.; Wang, L.-W.; Salmeron, M. Nano Lett. 2011, 11, 4107-4112
21. Chen, J.; Murphy, A. R.; Esteve, J.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M.; Frechet, J. M. Langmuir 2004, 20, 7703-7710
22. Szlufarska, I.; Chandross, M.; Carpick, R. W. J. Phys. D 2008, 41, 1-39
23. E. Barrena, E.; Kopta, S.; Ogletree, D. F.; Charych, D. H.; Salmeron, M. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 2880
24. Barrena, E.; Ocal, C.; Salmeron, M. J. Chem. Phys. 1999, 111, 9797
25. Salmeron, M. Tribol. Lett. 2001, 10, 69-79
26. Altoe, V.; Martin, F.; Katan, A.; Salmeron, M.; Aloni, S. Nano Lett. 2012, 12, 1295-1299
27. Murphy, A. R.; Frechet, J. M. Chem. Rev. 2007, 107, 1066-1096
28. Ishida, T.; Mizutani, W.; Aya, Y.; Ogiso, H.; Sasaki, S. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 5886-5892
29. Yokota, Y.; Fukui, K.; Enoki, T.; Hara, M.; About, M.; Article, T. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 6571-6575
30. Käfer, D.; Bashir, A.; Dou, X.; Witte, G.; Müllen, K.; Wöll., C. Adv. Mater. 2009, 21, 384-388
31. Qi, Y. B.; Ratera, I.; Park, J. Y.; Ashby, P. D.; Quek, S. Y.; Neaton, J. B.; Salmeron, M. Langmuir 2008, 24, 2219-2223