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Volumn 111, Issue 6, 2012, Pages

Cleaning graphene using atomic force microscope

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AFM TIP; ATOMIC FORCE MICROSCOPE (AFM); CONTACT MODES; GRAPHENE DEVICES; ROOT MEAN SQUARE ROUGHNESS; ZERO GATE;

EID: 84859530215     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.3695451     Document Type: Article
Times cited : (83)

References (31)
  • 5
    • 67649225738 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1126/science.1158877
    • A. K. Geim, Science 324, 1530 (2009). 10.1126/science.1158877
    • (2009) Science , vol.324 , pp. 1530
    • Geim, A.K.1
  • 6
    • 77956430820 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1038/nnano.2010.132
    • S. Bae, Nature Nanotech. 5, 574 (2010). 10.1038/nnano.2010.132
    • (2010) Nature Nanotech. , vol.5 , pp. 574
    • Bae, S.1
  • 7
    • 80052819859 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1021/nl201280q
    • J. Svensson, Nano Lett. 11, 3569 (2011). 10.1021/nl201280q
    • (2011) Nano Lett. , vol.11 , pp. 3569
    • Svensson, J.1
  • 22
    • 77957908617 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1038/nnano.2010.172
    • C. R. Dean, Nature Nanotech. 5, 722 (2010). 10.1038/nnano.2010.172
    • (2010) Nature Nanotech. , vol.5 , pp. 722
    • Dean, C.R.1
  • 23
    • 77951100455 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1021/jp910085n
    • A. Nourbakhsh, J. Phys. Chem. C 114, 6894 (2010). 10.1021/jp910085n
    • (2010) J. Phys. Chem. C , vol.114 , pp. 6894
    • Nourbakhsh, A.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.