메뉴 건너뛰기




Volumn 2, Issue 2, 2010, Pages 83-88

Effects of source-drain underlaps on the performance of silicon nanowire on insulator transistors

Author keywords

Insulator transistors; Silicon nanowire; Source drain

Indexed keywords


EID: 79956317236     PISSN: 23116706     EISSN: 21505551     Source Type: Journal    
DOI: 10.5101/nml.v2i2.p83-88     Document Type: Article
Times cited : (8)

References (20)
  • 3
  • 7
    • 0035902938 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1126/science.1062711
    • Y. Cui, Q. Wei, H. Park and C. M. Lieber, Science 293, 1289 (2001). doi:10.1126/science.1062711
    • (2001) Science , vol.293 , pp. 1289
    • Cui, Y.1    Wei, Q.2    Park, H.3    Lieber, C.M.4
  • 12
    • 24144440785 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1063/1.2011788
    • K. Alam and R. Lake, Appl. Phys. Lett. 87, 073104 (2005). doi:10.1063/1.2011788
    • (2005) Appl. Phys. Lett , vol.87 , pp. 073104
    • Alam, K.1    Lake, R.2
  • 13
    • 26244456092 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1063/1.2060962
    • K. Alam and R. K. Lake, J. Appl. Phys. 98, 064307 (2005). doi:10.1063/1.2060962
    • (2005) J. Appl. Phys , vol.98 , pp. 064307
    • Alam, K.1    Lake, R.K.2
  • 14
    • 33947271521 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1109/TNANO.2007.891819
    • M. Shin, IEEE Trans. Nanotechnol. 6, 230 (2007). doi:10.1109/TNANO.2007.891819
    • (2007) IEEE Trans. Nanotechnol , vol.6 , pp. 230
    • Shin, M.1
  • 17
    • 0030584605 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10. 1006/jcph.1996.0059
    • V. Eyert, J. Comput. Phys. 124, 271 (1996). doi:10. 1006/jcph.1996.0059
    • (1996) Comput. Phys , vol.124 , pp. 271
    • Eyert, V.1
  • 20
    • 40949116361 scopus 로고    scopus 로고
    • doi:10.1109/TED.2008.916149
    • M. Shin, IEEE Trans. Electron Dev. 55, 737 (2008). doi:10.1109/TED.2008.916149
    • (2008) IEEE Trans. Electron Dev , vol.55 , pp. 737
    • Shin, M.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.