Preparation and characterization of self-assembled monolayers on indium tin oxide

Langmuir

Volumn 16, Issue 15, 2000, Pages 6208-6215

  Yan, C ^a   Zharnikov, M ^a   Golzhauser A ^a   Grunze, M ^a  

^a UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARBOXYLIC ACIDS; INDIUM COMPOUNDS; MONOLAYERS; SULFUR COMPOUNDS;

INDIUM TIN OXIDE; SELF-ASSEMBLED MONOLAYERS;

SURFACE CHEMISTRY;

EID: 0034225688     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la000128u     Document Type: Article

References (57)

1. Gu, G.; Bulovic, V.; Burrows, P. E.; Forrest, S. R.; Thompson, M. E. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 2606.
2. Gu, G.; Khalfin, V.; Forrest, S. R. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 2399.
3. Burrows, P. E.; Forrest, S. R.; Sibley, S. P.; Thompson, M. E. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 2959.
4. Shen, Z.; Burrows, P. E.; Bulovic, V.; Forrest, S. R.; Thompson, M. E. Science 1997, 276, 2009.
5. Tasch, S.; Niko, A.; Leising, G.; Scherf, U. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 1090.
6. Parent, Ph.; Dexpert, H.; Tourillon, G. J. Electrochem. Soc. 1992, 139, 276.
7. Parent, Ph.; Dexpert, H.; Tourillon, G. J. Electrochem. Soc. 1992, 139, 282.
8. Nelson, A. J.; Aharoni, H. J. Vac. Sci. Technol. A 1987, 5, 231.
9. Malinsky, J. E.; Jabbour, G. E.; Shaheen, S. E.; Anderson, J. D.; Richter, A. G.; Marks, T. J.; Armstrong, N. R.; Pulak Dutta, B. K.; Peyghambarian, N. Adv. Mater. 1999, 11, 227.
10. Nüesch, F.; Rothberg, L. J.; Forsythe, E. W.; Le, Q. T.; Gao, Y. L. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 880.
11. Higuchi, M.; Sawada, M.; Kuronuma, Y. J. Electrochem. Soc. 1993, 140, 1773.
12. Kasiviswanathan, S.; Srinivas, V.; Kar, A. K.; Mathur, B. K.; Chopra, K. L. Appl. Surf. Sci. 1997, 115, 399.
13. Rottmann, M.; Heckner, K. H. J. Phys. D: Appl. Phys. 1995, 28, 1448.
14. Higuchi, M.; Vekusa, S.; Nakano, R.; Yokogawa, K. J. Appl. Phys. 1993, 74, 6710.
15. Era, M.; Tsutsui, T.; Saito, S. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 2436.
16. Resel, R.; Koch, N.; Meghadi, F.; Leising, G.; Unzog, W.; Reichmann, K. Thin Solid Films 1997, 305, 232.
17. Wegner, H.; Weiss, K.; Grunze, M.; Wöll, Ch. Appl. Phys. A 1997, 65, 231.
18. Tanaka, T.; Honda, Y.; Sugi, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, 3250.
19. Gardner, T. J.; Frisble, C. D.; Wrighton, M. S. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 6927.
20. Doron, A.; Katz, E.; Willner, I. Langmuir 1995, 11, 1313.
21. Kim, J. S.; Granström, M.; Friend, R. H.; Johansson, N.; Salaneck, W. R.; Daik, R.; Feast, W. J. J. Appl. Phys. 1998, 84, 6859.
22. Wu, C. C.; Wu, C. I.; Sturm, J. C.; Kahn, A. Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 1348.
23. Beamson, G.; Briggs, D. High-Resolution XPS of organic Polymers, The Scienta ESCA 300 Database; Wiley: Chichester, England, 1992.
24. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N., Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152.
25. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
26. Nuzzo, R. G.; Dubois, L. H.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 558. Bain, C. D.; Evall, J.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 7155. Bain, C. D. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321. Walczak, M. M. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 2370.
27. Nuzzo, R. G.; Dubois, L. H.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 558. Bain, C. D.; Evall, J.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 7155. Bain, C. D. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321. Walczak, M. M. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 2370.
28. Nuzzo, R. G.; Dubois, L. H.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 558. Bain, C. D.; Evall, J.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 7155. Bain, C. D. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321. Walczak, M. M. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 2370.
29. Nuzzo, R. G.; Dubois, L. H.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 558. Bain, C. D.; Evall, J.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 7155. Bain, C. D. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321. Walczak, M. M. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 2370.
30. Ron, H.; Matlis, S.; Rubinstein, I. Langmuir 1998, 14, 1116.
31. Yan, C.; Gölzhäuser, A.; Wöll, Gh.; Grunze, M. Langmuir 1999, 15, 2414.
32. Gu, Y.; Lin, Z.; Butera, R. A.; Smentkowski, V. S.; Waldeck, D. H. Langmuir 1995, 11, 1849.
33. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1991, 95, 7017.
34. Harder, P.; Grunze, M.; Dahint, R.; Whitesides, G. M.; Laibinis, P. E. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 426.
35. Witte, G.; Wöll, Ch. J. Chem. Phys. 1995, 103, 5860.
36. Thome, J.; Himmelhaus, M.; Zharnikov, M.; Grunze, M. Langmuir 1998, 14, 7435.
37. Jäger, B.; Schürmann, H.; Müller, H. U.; Himmel, H.-J.; Neumann, M.; Grunze, M.; Wöll, Ch. Z. Phys. Chem. 1997, 202, 263.
38. Zharnikov, M.; Geyer, W.; Gölzhäuser, A.; Frey, S.; Grunze, M. Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, 1, 3163.
39. Zhong, C. J.; Brush, R. C.; Anderegg, J.; Porter, M. D. Langmuir 1999, 15, 518.
40. Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer, New York, 1992.
41. Bagus, P. S.; Weiss, K.; Scheitel, A.; Wöll, Ch.; Braun, W.; Hellwig, C.; Jung, C. Chem. Phys. Lett. 1996, 248, 129.
42. Hähner, G.; Wöll, Ch.; Buck, M.; Grunze, M. Langmuir 1993, 9, 1955.
43. Bierbaum, K.; Kinzler, M.; Wöll, Ch.; Grunze, M.; Hähner, G.; Heid, S.; Effenberger, F. Langmuir 1995, 11, 512.
44. Witte, G.; Weiss, K.; Jakob, P.; Braun, J.; Kostov K. L.; Wöll, Ch. Phys. Rev. Lett. 1998 80, 121.
45. Kinzler, M.; Scheitel, A.; Hähner, G.; Wöll, Ch.; Grunze, M.; Albrecht, H.; Holzhüter, G.; Gerber, Th. J. Chem. Phys. 1994, 100(10), 7722.
46. Liu, Y. H.; Wu, T.; Evans, D. F. Langmuir 1994, 10, 2241.
47. Allara, D. L.; Nuzzo, R. G. Langmuir 1985, 1, 45.
48. Brundle, C. R.; Baker A. D., Ed., Electron Spectroscopy: Theory, Techniques and Applications; Academic Press: London, 1981; Vol. 4.
49. Geyer, W.; Stadler, V.; Eck, W.; Zharnikov, M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 2401.
50. Völkel, B.; Gölzhäuser, A.; Müller, H. U.; David, C.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1997, 15, 2817.
51. Graham, R. L.; Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1993, 97, 9456.
52. Olson, C.; Rowntree, P. A. J. Chem. Phys. 1998, 108, 3750.
53. Castner, D. G.; Hinds, K.; Grainger, D. W. Langmuir 1996, 12, 5083.
54. Wilmsen, C. W.; Geib, K. M.; Shin, J.; Lyer, R.; Lile, D. L.; Pouch, J. J. J. Vac. Sci. Technol. B 1989, 7, 851.
55. Zerulla, D.; Chassé, T. Langmuir 1999, 15, 5285.
56. Ichikawa, S.; Suzuki, Y.; Sanada, N.; Utsumi, N.; Yamaguchi, T.; Gong, X. Y.; Fukuda, Y. J. Vac. Sci. Technol. A 1999, 17, 421.
57. Yan, C.; Sen, R.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. In preparation.