Surface characterization and modification of indium tin oxide in ultrahigh vacuum [4]

Journal of the American Chemical Society

Volumn 122, Issue 8, 2000, Pages 1808-1809

  Purvis, Kathleen L ^a   Lu, Gang ^a   Schwartz, Jeffrey ^a   Bernasek, Steven L ^a  

^a PRINCETON UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

INDIUM; TIN;

CHEMICAL ANALYSIS; CHEMICAL INTERACTION; CONDUCTANCE; ELECTRON TRANSPORT; LETTER; MOLECULAR DYNAMICS;

EID: 0034053135     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja992910q     Document Type: Letter

References (37)

1. Tang, C. W.; Van Slyke, S. A. Appl. Phys. Lett. 1987, 51, 913.
2. Campbell, I. H.; Davids, P. S.; Smith, D. L.; Barashkov, N. N.; Ferraris, J. P. Applied Physics Lett. 1998, 72, 1863.
3. Antoniadis, H.; Miller, J. N.; Roitman, D. B.; Campbell, I. H. IEEE Trans. Electron. Dev. 1997, 44, 1289-1293.
4. Burrows, P. E.; Gu, G.; Bulović, V.; Shen, Z.; Forrest, S. R.; Thompson, M. E. Trans. Electron. Dev. 1997, 44, 1188.
5. Ishii, H.; Sugiyama, K.; Ito, E.; Seki, K. Adv. Mater. 1999, 11, 605-625.
6. Kugler, T.; Lögdlund, M.; Salaneck, W. R. IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 1998, 4, 14-23.
7. Malinsky, J. E.; Jabbour, G. E.; Shaheen, S. E.; Anderson, J. D.; Richter, A. G.; Marks, T. J.; Armstrong, N. R.; Kippelen, B.; Dutta, P.; Peyghambarian, N. Adv. Mater. 1999, 11, 227-231.
8. Forrest, S. R.; Burrows, P. E.; Thompson, M. E. Laser Focus World; PennWell Publishing Company, 1995; Vol. 31; pp 99-107.
9. Greenham, N. C.; Moratti, S. C.; Bradley, D. D. C.; Friend, R. H.; Holmes, A. B. Nature 1993, 628-630.
10. Burrows, P. E.; Bulović, V.; Forrest, S. R.; Sapochak, L. S.; McCarty, D. M.; Thompson, M. E. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 2922-2924.
11. Wu, C. C.; Wu, C. I.; Sturm, J. C.; Kahn, A. Applied Phys. Lett. 1997, 70, 1348-1350.
12. Kim, J. S.; Granström, M.; Friend, R. H.; Johansson, N.; Salanek, W. R.; Daik, R.; Feast, W. J.; Cacialli, F. J. Appl. Phys. 1998, 84, 6859-6870.
13. Stössel, M.; Staudigel, J.; Steuber, F.; Simmerer, J.; Wittmann, G.; Kanitz, A.; Klausmann, H.; Rogler, W.; Roth, W.; Schumann, J.; Winnacker, A. Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, 1, 1791-1793.
14. Steuber, F.; Staudigel, J.; Stössel, M.; Simmerer, J.; Winnacker, A. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 3558-3560.
15. Milliron, D. J.; Hill, I. G.; Kahn, A.; Schwartz, J. J. Appl. Phys. 2000, in press
16. Ishida, T.; Kobayashi, H.; Nakato, Y. J. Appl. Phys. 1993, 73, 4344.
17. Osada, T.; Kugler, T.; Bröms, P.; Salaneck, W. R. Synth. Metals 1998, 96, 77-80.
18. Nüesch, F.; Kamarás, K.; Zuppiroli, L. Chem. Phys. Lett. 1998, 283, 194-200.
19. Nüesch, F.; Si-Ahmed, L.; François, B.; Zuppiroli, L. Adv. Mater. 1997, 9, 222-225.
20. Ho, P. K. H.; Granström, M.; Friend, R. H.; Greenham, N. C. Adv. Mater. 1998, 10, 769.
21. Miller, J. B.; Schwartz J.; Bernasek, S. L. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 8239-8247.
22. Miller, J. B.; Bernasek, S. L.; Schwartz, J. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 4037-4041.
23. Aronoff, Y. G.; Chen, B.; Lu, G.; Seto, C.; Schwartz, J.; Bernasek, S. L. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 259-262.
24. Lu, G.; Purvis, K. L.; Schwartz, J.; Bernasek, S. Langmuir 1997, 13, 5791-5793.
25. Lu, G.; Schwartz, J.; Bernasek, S. L. Langmuir 1998, 14, 1532-1534.
26. Purvis, K. L.; Lu, G.; Schwartz, J.; Bernasek, S. L. Langmuir 1999, 15, 7092-7096.
27. VanderKam, S. K.; Bocarsly, A. B.; Schwartz, J. Chem. Mater. 1998, 10, 685-687.
28. VanderKam, S. K.; Gawalt, E. S.; Schwartz, I.; Bocarsly, A. B. Langmuir 1999, 15, 6598-6600.
29. Herr, B.; R.; Mirkin, C. A. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 1157-1158.
30. Chen, K.; Herr, B. R.; Singewald, E. T.; Mirkin, C. A. Langmuir 1992, 8, 2585-2587.
31. Miller, J. B.; Bernasek, S. L.; Schwartz, J. Langmuir 1994, 10, 2629-2635.
32. Smith, P. B.; Bernasek, S. L.; Schwartz, J.; McNulty, G. S. J. Am. Chem. Soc. 1986, 108, 5654-6566.
33. Sasaki, T. A.; Baba, Y.; Yamamoto, H.; Sasase, M.; Isobe, S. Surf. Interface Anal. 1993, 20, 682-686.
34. A control experiment, in which 1 was deposited on dehydroxylated ITO at 150 K and then warmed to room temperature, showed no surface complex formation, by FT-RAIRS or XPS.
35. VanderKam, S. K.; Lu, G.; Bernasek, S. L.; Schwartz, J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 11639-11642.
36. Schwartz, J.; Bernasek, S. L.; Lu, G.; Keegan, J. P.; Purvis, K.; VanderKam, S. K. J. Mol. Catal. A: Chem. 1999, 146, 45-52.
37. Purvis, K. L.; Lu, G.; Schwartz, J.; Bernasek, S. L. Langmuir 1998, 14, 3720-3722.